[實用新型]一種電池片的處理系統有效
| 申請號: | 201822233769.4 | 申請日: | 2018-12-28 |
| 公開(公告)號: | CN209357744U | 公開(公告)日: | 2019-09-06 |
| 發明(設計)人: | 郁操;劉春梅 | 申請(專利權)人: | 君泰創新(北京)科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18 |
| 代理公司: | 北京風雅頌專利代理有限公司 11403 | 代理人: | 李莎;李弘 |
| 地址: | 100176 北京市大興區亦*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電池片 腐蝕液 處理系統 浸入 檢測裝置 支架 本實用新型 電池片邊緣 不良問題 電池參數 漏電區域 支架設置 去除 盛放 承載 檢測 成功 | ||
本實用新型公開了一種電池片的處理系統,包括容器、支架、檢測裝置和腐蝕液,所述容器用于盛放腐蝕液,所述支架設置在所述容器內,所述支架用于承載電池片,且使所述電池片的繞鍍端浸入所述腐蝕液;所述檢測裝置用于檢測所述電池片的繞鍍端浸入所述腐蝕液的深度。電池參數不良的電池片通過該處理系統,能夠成功去除電池片邊緣繞鍍引起的漏電區域,且不會造成電池片本身的外觀不良問題。
技術領域
本實用新型涉及太陽能電池技術領域,特別是指一種電池片的處理系統。
背景技術
SHJ電池片(Silicon Hetero-junction Solar Cell,硅異質結太陽能電池片,簡稱異質結電池片)的基本結構如圖1所示,包含單晶硅片1a、本征非晶硅基薄膜層2a、n型摻雜層3a、p型發射極4a、透明導電薄膜層5a和電極柵線6a(通常包括主柵線和細柵線)。其中,單晶硅片1a可以是n型或者p型單晶硅片,厚度為90-300μm;本征非晶硅基薄膜層2a,如非晶硅本征層a-Si:H(i),非晶硅氧本征層a-SiOx:H(i),非晶硅碳本征層a-SiCx:H(i)等,厚度<15nm;n型摻雜層3a,如n型非晶硅層a-Si:H(n),n型非晶硅氧層a-SiOx:H(n),n型微晶硅氧層μc-SiOx:H(n)等,厚度<25nm;p型摻雜層4a,如p型非晶硅層a-Si:H(p),p型微晶硅層μc-SiOx:H(p),p型微晶硅氧層μc-SiOx:H(p)等,厚度<25nm;可選的,3a和4a的位置可以置換。即:如果3a為p型摻雜層,則4a為n型摻雜層;透明導電薄膜層5a,如摻錫的氧化銦薄膜ITO、摻鎢的氧化銦薄膜IWO、摻銫的氧化銦薄膜ICO、摻鋁的氧化鋅薄膜AZO等,厚度控制在70-100nm;可選的,在透明電導氧化物層5a上面增設一層減反射層;電極柵線6a,可以是絲網印刷Ag電極或者電鍍Cu電極等。
現有技術中,電池片IV測試之后會采用紅外成像儀對電池片進行分選,發現某些SHJ電池片紅外成像邊緣漏電,此類SHJ電池片做成組件后,在光照條件下,會在漏電處擊穿,引起嚴重電池參數不良和外觀不良。在生產線上,此類電池片會被定義為報廢品。
實用新型內容
針對現有技術的不足之處,本實用新型的目的是提出一種電池片的處理系統。電池參數不良的電池片通過該處理系統,能夠成功去除電池片邊緣繞鍍引起的漏電區域,且不會造成電池片本身的外觀不良問題。
基于上述目的,本實用新型提供的一種電池片的處理系統,包括容器、支架、腐蝕液和檢測裝置,所述容器用于盛放腐蝕液,所述支架設置在所述容器內,所述支架用于承載電池片,且將所述電池片的繞鍍端浸入所述腐蝕液;
所述檢測裝置用于所述電池片的繞鍍端浸入所述腐蝕液的深度。
在本實用新型的一些實施例中,所述支架包括立板、側立板和多個隔離板,兩個所述側立板的相對面上均對應設有等間距排列的隔離板,相鄰所述隔離板之間形成齒槽,所述電池片同時與兩個相對的所述齒槽插接。
在本實用新型的一些實施例中,所述隔離板遠離所述側立板的一側設置有倒角。
在本實用新型的一些實施例中,沿所述電池片的邊緣設置一周輔助電極柵線。
在本實用新型的一些實施例中,所述輔助電極柵線到所述電池片邊緣的距離為1-2mm。
在本實用新型的一些實施例中,還包括加熱件,所述加熱件設置在所述容器的底部,用于對所述腐蝕液進行加熱。
在本實用新型的一些實施例中,所述加熱件為加熱絲,所述加熱絲的外部設置有耐腐蝕層。
在本實用新型的一些實施例中,所述處理系統還包括控制器,所述控制器與所述檢測裝置電連接。
在本實用新型的一些實施例中,所述支架和所述容器的材質為聚偏氟乙烯(PVDF)或聚丙烯(PP)。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





