[實(shí)用新型]一種浮動式微針測試治具有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201822175610.1 | 申請日: | 2018-12-24 |
| 公開(公告)號: | CN209327415U | 公開(公告)日: | 2019-08-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 賀國彧 | 申請(專利權(quán))人: | 昆山新亞新電子科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/073 | 分類號: | G01R1/073 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 215300 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 探針 推桿 電子產(chǎn)品 連接板 測試治具 套筒內(nèi)腔 安裝板 彈簧柱 治具 浮動 本實(shí)用新型 連接板頂部 測試 活塞 緩沖性能 活塞頂部 擠壓定位 螺栓固定 推桿頂端 向下運(yùn)動 上升時(shí) 復(fù)位 刮傷 縮進(jìn) 套筒 下壓 壓板 貫穿 | ||
本實(shí)用新型涉及一種浮動式微針測試治具,包括第一連接板,所述第一連接板底部固定設(shè)有套筒,所述套筒內(nèi)腔設(shè)有活塞,所述活塞頂部固定設(shè)有推桿,且所述推桿頂端貫穿第一連接板,所述推桿頂部固定設(shè)有第二連接板,所述第二連接板頂部通過螺栓固定連接有安裝板,當(dāng)治具整體下壓時(shí),壓板先與電子產(chǎn)品接觸可以先對電子產(chǎn)品進(jìn)行擠壓定位,推桿再向下運(yùn)動頂出探針對電子產(chǎn)品進(jìn)行測試,當(dāng)測試完畢治具整體上升時(shí)安裝板在第一彈簧柱的彈力下復(fù)位,進(jìn)而推桿可以控制探針上升,使探針縮進(jìn)套筒內(nèi)腔,可以防止探針刮傷電子產(chǎn)品,通過設(shè)置第二彈簧柱使探針具有一定的緩沖性能,可以防止探針劇烈撞擊電子產(chǎn)品,可以防止探針損壞。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種浮動式微針測試治具,屬于測試技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
電子產(chǎn)品在加工過程中都需要進(jìn)行測試,而現(xiàn)有的浮動式微針測試治具,放入產(chǎn)品時(shí)探針直接接觸測試產(chǎn)品,容易刮傷產(chǎn)品及損壞探針,中國專利,申請?zhí)枮?01620906749.7,公開了一種硅膠皮探針模組,包括下壓塊、軟線排、硅膠皮探針、連接器和固定座,所述軟線排設(shè)置所述下壓塊上,所述硅膠皮探針設(shè)置于所述固定座內(nèi)且與所述軟線排相接觸,所述連接器設(shè)置于所述固定座內(nèi)且與所述硅膠皮探針相接觸,所述硅膠皮探針包括硅膠塊和若干根金屬絲,所有所述金屬絲均勻包裹于所述硅膠塊內(nèi)部,所述技術(shù)方在頂出探針時(shí),易使探針彎曲造成損壞,進(jìn)而造成測試不良,因此需要進(jìn)一步改進(jìn)。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題克服現(xiàn)有的缺陷,提供一種浮動式微針測試治具,可以有效防止探針彎曲損壞,使用方便,當(dāng)治具整體下壓時(shí),壓板先與電子產(chǎn)品接觸可以先對電子產(chǎn)品進(jìn)行擠壓定位,推桿再向下運(yùn)動頂出探針對電子產(chǎn)品進(jìn)行測試,當(dāng)測試完畢治具整體上升時(shí)安裝板在第一彈簧柱的彈力下復(fù)位,進(jìn)而推桿可以控制探針上升,使探針縮進(jìn)套筒內(nèi)腔,可以防止探針刮傷電子產(chǎn)品,通過設(shè)置導(dǎo)向銷桿可以防止安裝板下壓時(shí)左右晃動,通過設(shè)置滑槽與限位滑板可以防止活塞在套筒內(nèi)腔晃動旋轉(zhuǎn),通過設(shè)置第二彈簧柱使探針具有一定的緩沖性能,可以防止探針劇烈撞擊電子產(chǎn)品,可以防止探針損壞,可以有效解決背景技術(shù)中的問題。
為了解決上述技術(shù)問題,本實(shí)用新型提供了如下的技術(shù)方案:
一種浮動式微針測試治具,包括第一連接板,所述第一連接板底部固定設(shè)有套筒,所述套筒內(nèi)腔設(shè)有活塞,所述活塞頂部固定設(shè)有推桿,且所述推桿頂端貫穿第一連接板,所述推桿頂部固定設(shè)有第二連接板,所述第二連接板頂部通過螺栓固定連接有安裝板,所述第一連接板上位于套筒外圍對稱穿插設(shè)有導(dǎo)向銷桿,且所述導(dǎo)向銷桿頂端與安裝板固定連接,所述導(dǎo)向銷桿外側(cè)套接有第一彈簧柱,所述活塞底部表面挖設(shè)有限位凹槽,所述限位凹槽內(nèi)腔頂部固定設(shè)有第二彈簧柱,所述第二彈簧柱底部固定設(shè)有探針安裝座,所述探針安裝座底部均勻固定設(shè)有探針。
進(jìn)一步而言,所述套筒底部固定設(shè)有壓板,所述壓板中部均勻挖設(shè)有探針導(dǎo)向孔。
進(jìn)一步而言,所述第二彈簧柱中部穿插設(shè)有伸縮桿,且所述伸縮桿頂部與底部分別固定連接活塞與探針安裝座,所述伸縮桿由空心桿與實(shí)心桿組成,且實(shí)心桿頂部穿設(shè)于空心桿內(nèi)腔。
進(jìn)一步而言,所述套筒內(nèi)壁等距挖設(shè)有滑槽。
進(jìn)一步而言,所述活塞外側(cè)等距固定設(shè)有限位滑板。
進(jìn)一步而言,所述安裝板上對稱挖設(shè)有固定安裝孔。
本實(shí)用新型有益效果:本實(shí)用新型所涉及的一種浮動式微針測試治具,可以有效防止探針彎曲損壞,使用方便,當(dāng)治具整體下壓時(shí),壓板先與電子產(chǎn)品接觸可以先對電子產(chǎn)品進(jìn)行擠壓定位,推桿再向下運(yùn)動頂出探針對電子產(chǎn)品進(jìn)行測試,當(dāng)測試完畢治具整體上升時(shí)安裝板在第一彈簧柱的彈力下復(fù)位,進(jìn)而推桿可以控制探針上升,使探針縮進(jìn)套筒內(nèi)腔,可以防止探針刮傷電子產(chǎn)品,通過設(shè)置導(dǎo)向銷桿可以防止安裝板下壓時(shí)左右晃動,通過設(shè)置滑槽與限位滑板可以防止活塞在套筒內(nèi)腔晃動旋轉(zhuǎn),通過設(shè)置第二彈簧柱使探針具有一定的緩沖性能,可以防止探針劇烈撞擊電子產(chǎn)品,可以防止探針損壞。
附圖說明
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G01R 測量電變量;測量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測量儀器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測量儀器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測量儀器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測量儀器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路





