[實用新型]基于能量粒子穿透特性測量離子束粒子成分的能量分析器有效
| 申請號： | 201822129911.0 | 申請日： | 2018-12-18 |
| 公開（公告）號： | CN210155340U | 公開（公告）日： | 2020-03-17 |
| 發明（設計）人： | 于利明;魏會領;曹建勇;陳偉;李永高;石中兵;李偉;馬瑞;李連才;盧杰 | 申請（專利權）人： | 核工業西南物理研究院 |
| 主分類號： | G01T1/29 | 分類號： | G01T1/29 |
| 代理公司： | 核工業專利中心 11007 | 代理人： | 孫成林 |
| 地址： | 610041 四川*** | 國省代碼： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 能量 粒子 穿透 特性 測量 離子束 成分 分析器 | ||
1.基于能量粒子穿透特性測量離子束粒子成分的能量分析器，其特征在于：它包括第一金屬膜片(2)、第二金屬膜片(3)和第三金屬膜片(4)，第一金屬膜片(2)、第二金屬膜片(3)和第三金屬膜片(4)后均設置一個探測器(8)，高能量離子束I1分別入射至第一金屬膜片(2)、第二金屬膜片(3)和第三金屬膜片(4)，經過第一金屬膜片(2)、第二金屬膜片(3)和第三金屬膜片(4)后分別輸出透過第一金屬膜片的離子束(5)，透過第二金屬膜片的離子束(6)和透過第三金屬膜片的離子束(7)，透過第一金屬膜片的離子束(5)，透過第二金屬膜片的離子束(6)和透過第三金屬膜片的離子束(7)分別輸入至探測器(8)并分別輸出接收到透過第一金屬膜片(2)的電流II，探測器接收到透過第二金屬膜片(3)的電流III，探測器接收到透過第三金屬膜片(4)的電流IIII。
2.如權利要求1所述的基于能量粒子穿透特性測量離子束粒子成分的能量分析器，其特征在于：所述的第一金屬膜片(2)的厚度為La。
3.如權利要求1所述的基于能量粒子穿透特性測量離子束粒子成分的能量分析器，其特征在于：所述的第二金屬膜片(3)的厚度為Lb。
4.如權利要求1所述的基于能量粒子穿透特性測量離子束粒子成分的能量分析器，其特征在于：所述的第三金屬膜片(4)的厚度為Lc。
5.如權利要求1所述的基于能量粒子穿透特性測量離子束粒子成分的能量分析器，其特征在于：所述的探測器(8)為法拉第筒。
6.如權利要求1所述的基于能量粒子穿透特性測量離子束粒子成分的能量分析器，其特征在于：所述的探測器(8)為電子倍增管。
7.如權利要求1所述的基于能量粒子穿透特性測量離子束粒子成分的能量分析器，其特征在于：所述的探測器(8)為微通道板。
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