[實(shí)用新型]電路板檢測(cè)裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201822010343.2
• 申請(qǐng)日: 2018-11-30
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN209247971U
• 公開(kāi)（公告）日: 2019-08-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 楊榮華
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳思凱測(cè)試技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28
• 代理公司: 深圳市恒程創(chuàng)新知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44542
• 代理人: 趙愛(ài)蓉

1.一種電路板檢測(cè)裝置，其特征在于，所述電路板檢測(cè)裝置包括設(shè)置有鉸接軸并能夠放置電路板的底座，所述底座上設(shè)置有檢測(cè)探針組件，所述檢測(cè)探針組件包括檢測(cè)探針，所述檢測(cè)探針能夠直接與所述電路板上的檢測(cè)孔的孔壁接觸連接以對(duì)所述電路板進(jìn)行檢測(cè)。

2.如權(quán)利要求1所述的電路板檢測(cè)裝置，其特征在于，所述底座上形成有放置平面，所述放置平面上形成有向所述底座內(nèi)凹陷的放置腔，所述檢測(cè)探針組件設(shè)置于所述放置腔內(nèi)，所述檢測(cè)探針的頭部平齊于所述放置平面。

3.如權(quán)利要求2所述的電路板檢測(cè)裝置，其特征在于，所述檢測(cè)探針組件包括設(shè)置于所述放置腔內(nèi)的探針座以及設(shè)置于所述探針座上的至少一個(gè)檢測(cè)探針組，所述電路板上形成有與所述檢測(cè)探針組對(duì)應(yīng)的至少一個(gè)接觸孔部，當(dāng)所述電路板放置于所述放置平面上時(shí)，所述檢測(cè)探針組能夠與所述接觸孔部接觸連接以對(duì)所述電路板進(jìn)行檢測(cè)。

4.如權(quán)利要求3所述的電路板檢測(cè)裝置，其特征在于，所述檢測(cè)探針組包括第一探針組、第二探針組以及第三探針組，所述接觸孔部包括分別對(duì)應(yīng)于所述第一探針組、第二探針組以及第三探針組的第一接觸孔部、第二接觸孔部以及第三接觸孔部，所述第一探針組的延伸方向同時(shí)與所述第二探針組以及第三探針組的延伸方向垂直。

5.如權(quán)利要求4所述的電路板檢測(cè)裝置，其特征在于，所述第一探針組、所述第二探針組以及所述第三探針組均包括多個(gè)所述檢測(cè)探針，所述第一接觸孔部、所述第二接觸孔部以及所述第三接觸孔部均形成有對(duì)應(yīng)的多個(gè)所述檢測(cè)孔。

6.如權(quán)利要求4所述的電路板檢測(cè)裝置，其特征在于，所述檢測(cè)探針的尾部設(shè)置于所述探針座上，所述檢測(cè)探針的頭部與所述檢測(cè)孔接觸連接。

7.如權(quán)利要求6所述的電路板檢測(cè)裝置，其特征在于，所述檢測(cè)探針的頭部為圓弧端，所述檢測(cè)孔為圓孔，所述圓弧端的半徑大于所述檢測(cè)孔的半徑。

8.如權(quán)利要求2-6中任一項(xiàng)所述的電路板檢測(cè)裝置，其特征在于，所述放置平面上形成有用于定位所述電路板的L型的定位部。

9.如權(quán)利要求1所述的電路板檢測(cè)裝置，其特征在于，所述底座上鉸接有能夠蓋合于所述電路板上的蓋板。

10.如權(quán)利要求9所述的電路板檢測(cè)裝置，其特征在于，所述蓋板上設(shè)置有扣合部，所述蓋板上設(shè)置有與所述扣合部適配的卡扣部，當(dāng)所述蓋板蓋合于所述電路板上時(shí)，所述扣合部與所述卡扣部卡合。