[實(shí)用新型]一種電插鎖測(cè)試裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201821969280.7 | 申請(qǐng)日: | 2018-11-27 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN209496087U | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-10-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 孟令欣;張克俊;薛愛(ài)平;李保恩;王林;田文文;曹健;宋強(qiáng);周海亮;張征 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 中電裝備山東電子有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/00 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/00 |
| 代理公司: | 濟(jì)南誠(chéng)智商標(biāo)專(zhuān)利事務(wù)所有限公司 37105 | 代理人: | 黃曉燕 |
| 地址: | 250109 山東省濟(jì)*** | 國(guó)省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電插鎖 處理器單元 測(cè)試裝置 輸入單元 信號(hào)輸入模塊 本實(shí)用新型 電源單元 檢測(cè)模塊 啟動(dòng)單元 連接顯示單元 輸入單元控制 連接處理器 測(cè)試過(guò)程 測(cè)試效率 測(cè)試 供電 | ||
本實(shí)用新型實(shí)施例公開(kāi)了一種電插鎖測(cè)試裝置,包括處理器單元、顯示單元、輸入單元、啟動(dòng)單元和電源單元,所述電源單元為測(cè)試裝置供電,所述處理器單元分別連接顯示單元、輸入單元和啟動(dòng)單元;所述輸入單元包括電插鎖信號(hào)輸入模塊和電插鎖檢測(cè)模塊,電插鎖依次通過(guò)電插鎖信號(hào)輸入模塊和電插鎖檢測(cè)模塊連接處理器單元。本實(shí)用新型通過(guò)輸入單元控制并輸入電插鎖的狀態(tài),處理器單元獲取電插鎖狀態(tài)并處理,通過(guò)顯示單元顯示測(cè)試結(jié)果,測(cè)試開(kāi)啟后,不需要人為參與測(cè)試過(guò)程,提高測(cè)試效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及電插鎖技術(shù)領(lǐng)域,具體地說(shuō)是一種電插鎖測(cè)試裝置。
背景技術(shù)
電插鎖包括電控開(kāi)鎖和鑰匙開(kāi)鎖兩種方式。電控開(kāi)鎖方式是通過(guò)控制鎖舌的線圈電流,實(shí)現(xiàn)鎖舌伸出或縮回已達(dá)到開(kāi)門(mén)或關(guān)門(mén)的目的。電插鎖有通電開(kāi)鎖和斷電開(kāi)鎖兩種電控方式,以便應(yīng)用于不同場(chǎng)合。譬如消防門(mén)禁采用斷電開(kāi)鎖方式居多,想庫(kù)房不希望斷電就開(kāi)鎖,采用通電開(kāi)鎖電控方式。
常見(jiàn)的電插鎖有5線鎖、6線鎖和8線鎖。5線鎖包含電源正極、電源負(fù)極、開(kāi)門(mén)信號(hào)、門(mén)磁檢測(cè)狀態(tài)點(diǎn)和公共點(diǎn),利用門(mén)磁信號(hào)檢測(cè)并判斷門(mén)的開(kāi)關(guān)狀態(tài);6線鎖包含電源正極、電源負(fù)極、開(kāi)門(mén)信號(hào)、鎖舌檢測(cè)狀態(tài)常開(kāi)、鎖舌狀態(tài)檢測(cè)常閉和公共點(diǎn),利用鎖舌狀態(tài)信號(hào)檢測(cè)并判斷門(mén)的開(kāi)關(guān)狀態(tài);8線鎖包括電源正極、電源負(fù)極、開(kāi)門(mén)信號(hào)、門(mén)磁檢測(cè)狀態(tài)點(diǎn)和公共點(diǎn),以及鎖舌狀態(tài)檢測(cè)常開(kāi)、鎖舌檢測(cè)狀態(tài)常閉和公共點(diǎn),具有關(guān)門(mén)信號(hào)檢測(cè)和鎖舌狀態(tài)信號(hào)兩路檢測(cè),可實(shí)現(xiàn)邏輯判斷們的狀態(tài)和非法開(kāi)門(mén)或關(guān)門(mén)。
為保證電插鎖的質(zhì)量,電插鎖在出廠時(shí)需要進(jìn)行測(cè)試。電插鎖的測(cè)試主要采用手工夾線簡(jiǎn)單的進(jìn)行測(cè)試或者裝配到產(chǎn)品上進(jìn)行測(cè)試,一旦發(fā)現(xiàn)不良,需要反復(fù)的拆裝,影響生產(chǎn)效率。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型實(shí)施例中提供了一種電插鎖測(cè)試裝置,以解決現(xiàn)有技術(shù)中電插鎖測(cè)試效率低的問(wèn)題。
為了解決上述技術(shù)問(wèn)題,本實(shí)用新型實(shí)施例公開(kāi)了如下技術(shù)方案:
一種電插鎖測(cè)試裝置,包括處理器單元、顯示單元、輸入單元、啟動(dòng)單元和電源單元,所述電源單元為測(cè)試裝置供電,所述處理器單元分別連接顯示單元、輸入單元和啟動(dòng)單元;所述輸入單元包括電插鎖信號(hào)輸入模塊和電插鎖檢測(cè)模塊,電插鎖依次通過(guò)電插鎖信號(hào)輸入模塊和電插鎖檢測(cè)模塊連接處理器單元。
進(jìn)一步地,所述啟動(dòng)單元包括啟動(dòng)開(kāi)關(guān),所述啟動(dòng)開(kāi)關(guān)的一端分別連接處理器單元和電阻R13的一端,電阻R13的另一端接電源VDD,啟動(dòng)開(kāi)關(guān)的另一端接地。
進(jìn)一步地,所述啟動(dòng)單元包括通訊電路,所述通訊電路采用RS-485通訊電路。
進(jìn)一步地,所述電插鎖檢測(cè)模塊包括門(mén)鎖控制電路、門(mén)磁狀態(tài)檢測(cè)電路和鎖舌狀態(tài)檢測(cè)電路,所述門(mén)磁狀態(tài)檢測(cè)電路和鎖舌狀態(tài)檢測(cè)電路的信號(hào)輸入端均連接電插鎖信號(hào)輸入模塊,信號(hào)輸出端均連接處理器單元,所述門(mén)鎖控制電路的信號(hào)輸入端連接處理器單元,信號(hào)輸出端連接電插鎖信號(hào)輸入模塊。
進(jìn)一步地,所述門(mén)鎖控制電路包括光耦U15,光耦U15的1管腳通過(guò)電阻R30連接電源VDD,2管腳連接處理器單元,4管腳通過(guò)電阻R36連接直流電源,3管腳分別連接電容C21的一端、電阻R39的一端和三極管Q5的基極,電容C21的另一端、電阻R39的另一端和三極管Q5的發(fā)射極均接地,三極管Q5的集電極分別連接二極管D5的正極和繼電器JDQ5線圈的一端,繼電器JDQ5線圈的另一端分別連接二極管D5的負(fù)極和電容C19的一端,電容C19的一端接直流電源,另一端接地,繼電器JDQ5觸點(diǎn)端分別連接電插鎖信號(hào)輸入模塊和地。
進(jìn)一步地,所述門(mén)磁狀態(tài)檢測(cè)電路包括光耦U14,所述光耦U14的2管腳連接電插鎖信號(hào)輸入模塊,1管腳通過(guò)電阻R37接直流電源,3管腳接地,4管腳分別連接電阻R38的一端和電容C20的一端,電阻R38的另一端連接電源VDD,電容C20的另一端接地,光耦U14的4管腳還連接處理器單元。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試





