[實用新型]測量玻璃基板厚度的裝置

有效

• 申請號: 201821859130.0
• 申請日: 2018-11-12
• 公開（公告）號: CN209013929U
• 公開（公告）日: 2019-06-21
• 發明（設計）人: 方紅義;董光明;石志強;李震;李俊生
• 申請（專利權）人: 蕪湖東旭光電科技有限公司;東旭光電科技股份有限公司
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06
• 代理公司: 北京英創嘉友知識產權代理事務所(普通合伙) 11447
• 代理人: 魏嘉熹;南毅寧

本公開涉及一種測量玻璃基板厚度的裝置，所述裝置包括：傳動組件，用于驅動所述玻璃基板沿第一方向移動；支撐架，架設于所述玻璃基板上方或下方；厚度檢測器，設于所述支撐架且能夠在所述支撐架上沿著與所述第一方向不同的第二方向滑動；所述厚度檢測器用于檢測所述玻璃基板的厚度。玻璃基板可以在傳動組件的驅動下沿第一方向持續移動，厚度檢測器沿著與所述第一方向不同的第二方向滑動，在第一方向上玻璃基板與厚度檢測器有相對運動，不同的玻璃基板相繼通過厚度檢測器的檢測區域進而完成對不同玻璃基板的厚度檢測工作，無需從流水線上取下玻璃基板單獨進行檢測，且每一塊玻璃基板均通過厚度檢測器的檢測區域，避免了玻璃基板的漏檢。

技術領域

本公開涉及尺寸測量技術領域，具體地，涉及一種測量玻璃基板厚度的裝置。

背景技術

玻璃基板是液晶顯示器件的一個基本部件，其對厚度精度的要求較高，故在玻璃基板的生產中，需要對玻璃基板的厚度進行檢測。

相關技術中，測量玻璃基板厚度的方式為離線抽檢的形式，這種方式需要將玻璃基板從流水線上取出進行檢測，如此會延誤玻璃基板的后續加工程序，進而降低加工效率。此外，抽檢的方式不能對每一塊玻璃基板都進行檢測，因此可能存在漏檢的情況，即沒有被抽檢的產品中可能存在厚度異常的玻璃基板，玻璃基板的良品率可能因此下降，并且，由于部分加工工序中需要使用精密設備距離玻璃基板表面幾十微米的高度處作業，如果對厚度異常的玻璃基板進行作業，精密設備可能會碰撞或剮蹭厚度異常的玻璃基板的表面，進而對精密設備造成損傷。

實用新型內容

本公開的目的是提供一種測量玻璃基板厚度的裝置，用于解決相關技術中，通過離線抽檢的方式檢測玻璃基板厚度造成的延誤玻璃基板加工效率以及損壞精密設備的問題。

為了實現上述目的，本公開提供一種測量玻璃基板厚度的裝置，所述裝置包括：

傳動組件，用于驅動所述玻璃基板沿第一方向移動；

支撐架，架設于所述玻璃基板上方或下方；

厚度檢測器，設于所述支撐架且能夠在所述支撐架上沿著與所述第一方向不同的第二方向滑動；所述厚度檢測器用于檢測所述玻璃基板的厚度。

可選地，所述支撐架包括：

并排設置的兩個基座；

橫梁，架設于兩個所述基座上方，所述厚度檢測器滑設于所述橫梁。

可選地，所述厚度檢測器為激光傳感器，所述激光傳感器包括激光發射端及激光接收端；所述激光發射端用于向所述玻璃基板表面發射測試激光，所述激光接收端用于接收所述測試激光經所述玻璃基板上、下表面分別反射的兩個光束。

可選地，所述激光發射端發射的所述測試激光與所述玻璃基板的表面之間的夾角為30°～60°。

可選地，所述夾角為45°。

可選地，所述裝置還包括與所述厚度檢測器通信連接的處理器，所述處理器用于接收所述厚度檢測器的檢測數據并根據所述檢測數據計算所述玻璃基板的厚度。

可選地，所述傳動組件包括：

支撐組件，用于支撐所述玻璃基板；

動力組件，用于驅動由所述支撐組件支撐的所述玻璃基板移動。

可選地，所述支撐組件包括氣浮條。

可選地，所述動力組件包括：

驅動輪，用于與由所述支撐組件支撐的所述玻璃基板接觸以在所述驅動輪轉動時驅動所述玻璃基板移動；

第一磁力輪，同軸連接于所述驅動輪，所述第一磁力輪用于在自身轉動時帶動所述驅動輪轉動；