[實(shí)用新型]碳化硅長(zhǎng)晶用坩堝有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201821809442.0 | 申請(qǐng)日: | 2018-11-02 |
| 公開(公告)號(hào): | CN209144318U | 公開(公告)日: | 2019-07-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李加林;李宏剛;劉家朋;李長(zhǎng)進(jìn);孫元行;劉鵬飛;高超 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 山東天岳先進(jìn)材料科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | C30B29/36 | 分類號(hào): | C30B29/36;C30B23/00 |
| 代理公司: | 濟(jì)南千慧專利事務(wù)所(普通合伙企業(yè)) 37232 | 代理人: | 吳紹群 |
| 地址: | 250100 山東省濟(jì)南市高新區(qū)*** | 國(guó)省代碼: | 山東;37 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 第一層 腔室 腔室壁 坩堝 碳化硅單晶 碳化硅 側(cè)壁 本實(shí)用新型 碳化硅粉料 傳輸提供 第二開孔 第一開孔 內(nèi)外兩層 熱量集中 室內(nèi)物料 蓋子 貫穿 邊角 單晶 粉料 空腔 內(nèi)壁 內(nèi)層 碳化 外壁 外底 溫場(chǎng) 密封 合成 生長(zhǎng) 申請(qǐng) | ||
本申請(qǐng)公開了一種碳化硅長(zhǎng)晶用坩堝。該坩堝包括腔室、形成該腔室的腔室壁和與該腔室壁連接的用于密封該腔室的蓋子,該腔室壁包括內(nèi)外兩層,分別為位于內(nèi)層的第一層壁,和位于外層的第二層壁,該第一層壁的外壁和外底與該第二層壁的內(nèi)壁和內(nèi)底之間形成具有一定寬度的空腔;該第一層壁的側(cè)壁上設(shè)有貫穿該第一層壁的第一開孔;該第二層壁的側(cè)壁上設(shè)有貫穿該第二層壁的第二開孔。本實(shí)用新型可以使腔室內(nèi)物料區(qū)域的溫場(chǎng)更加穩(wěn)定有序,為各種氣氛的傳輸提供了通路,消除腔室底部邊角由于熱量集中造成的粉料碳化,從而提高碳化硅單晶連續(xù)生長(zhǎng)質(zhì)量,提高碳化硅粉料質(zhì)量及合成效率,有效降低單晶中的雜質(zhì)含量及缺陷,最終顯著提高碳化硅單晶質(zhì)量。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種碳化硅長(zhǎng)晶用坩堝。
背景技術(shù)
碳化硅是典型的寬禁帶半導(dǎo)體材料,是繼硅、砷化鎵之后的第三代半導(dǎo)體材料代表之一。碳化硅材料具有高熱導(dǎo)率、高擊穿場(chǎng)強(qiáng)、高飽和電子遷移率等優(yōu)異特性,成為制備高溫、高頻、高功率及抗輻射器件的熱門材料之一。
目前,碳化硅生長(zhǎng)的方法主要有物理氣相傳輸法(PVT)、液相外延法(LPE)、化學(xué)氣相沉積法(CVD)等,其中PVT法是應(yīng)用最成熟的方法,也是目前唯一的一種可以提供商用碳化硅襯底需求的生長(zhǎng)方法。PVT法生長(zhǎng)碳化硅單晶的生長(zhǎng)爐一般都采用感應(yīng)加熱的方式,即在感應(yīng)線圈中通中頻交流電,通過坩堝的感應(yīng)發(fā)熱對(duì)生長(zhǎng)室內(nèi)的碳化硅粉料進(jìn)行加熱,使粉料分解,在溫度較低的籽晶處結(jié)晶生長(zhǎng),從而實(shí)現(xiàn)單晶的生長(zhǎng)。
感應(yīng)加熱的優(yōu)點(diǎn)是加熱速度快,效率較高,但是其劣勢(shì)也比較明顯。由于加熱存在趨膚效應(yīng),發(fā)熱區(qū)僅位于生長(zhǎng)室的表面,加熱不夠均勻;當(dāng)生長(zhǎng)室尺寸不斷擴(kuò)大時(shí),由于發(fā)熱區(qū)與生長(zhǎng)室中心距離較遠(yuǎn),將產(chǎn)生過大的徑向的溫度梯度。最重要的是,坩堝內(nèi)投放的碳化硅粉料料量固定,單晶生長(zhǎng)過程中伴隨著碳化硅粉料的不斷碳化,硅蒸氣分壓逐漸降低導(dǎo)致坩堝內(nèi)慢慢過渡為富碳?xì)夥铡8惶細(xì)夥者_(dá)到一定程度將會(huì)導(dǎo)致碳化硅單晶停止生長(zhǎng),生長(zhǎng)過程無法連續(xù);且低硅蒸氣分壓會(huì)造成碳化硅單晶生長(zhǎng)界面碳硅比失衡,次生多型、包裹體等缺陷,降低碳化硅單晶質(zhì)量。
另外,碳化硅襯底中的雜質(zhì)是制約碳化硅半導(dǎo)體器件性能的關(guān)鍵因素之一,因此制備高純碳化硅粉料成為控制碳化硅襯底雜質(zhì)的一大核心技術(shù)。目前,碳化硅粉料制備主要采用高溫自蔓延合成法實(shí)現(xiàn),通過碳粉和硅粉直接接觸發(fā)生反應(yīng)獲得碳化硅粉料。為獲得高純碳化硅粉料,高溫自蔓延合成法被不斷優(yōu)化并獲得相對(duì)純度較高的碳化硅粉料。中國(guó)專利CN102674357A公開了利用高純碳粉和硅粉通過預(yù)處理后高溫合成獲得高純碳化硅粉料的技術(shù)。中國(guó)專利CN103508454B公開了三步合成高純碳化硅粉料的方法,先通過高溫合成碳化硅粉料,然后壓碎高溫氧化形成二次碳化硅,最后通過高溫真空脫氣,形成三次碳化硅粉料。中國(guó)專利CN105417541A提出通過反應(yīng)前洗爐處理及反應(yīng)過程中通入高純氫氣從而大大提高合成環(huán)境的純度,獲得高純碳化硅粉料。以上所述專利方法中均為高純碳粉和高純硅粉混合后在高溫環(huán)境下反應(yīng)得到碳化硅粉料,而高純碳粉和高純硅粉的粒度均相對(duì)較小,混合堆積過程中不可避免會(huì)夾雜雜質(zhì)氣體,在合成過程中碳粉和硅粉中夾雜的氣體很難被完全抽走,因而碳化硅粉料純度會(huì)受到較大影響;且工序相對(duì)復(fù)雜,碳化硅粉料制備成本較高。最重要的是,高溫下合成的碳化硅粉料往往碳化嚴(yán)重,極大的降低了碳化硅粉料合成的效率,變向的大幅拉升碳化硅粉料合成的成本。
實(shí)用新型內(nèi)容
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中存在的缺陷,本實(shí)用新型的目的在于提供一種碳化硅長(zhǎng)晶用坩堝,其內(nèi)外雙層腔室壁設(shè)計(jì)、雙層腔室壁側(cè)壁的開孔設(shè)計(jì)以及腔室壁底角的圓弧形設(shè)計(jì),可以使腔室內(nèi)物料區(qū)域的溫場(chǎng)更加穩(wěn)定有序,為各種氣氛的傳輸提供了通路,消除腔室底部邊角由于熱量集中造成的粉料碳化,從而提高碳化硅單晶連續(xù)生長(zhǎng)質(zhì)量,提高碳化硅粉料質(zhì)量及合成效率,有效降低單晶中的雜質(zhì)含量及缺陷,最終顯著提高碳化硅單晶質(zhì)量。
為達(dá)到以上目的,本實(shí)用新型采取的技術(shù)方案是:
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