[實用新型]背散射成像系統和掃描檢查系統有效
| 申請號: | 201821785397.X | 申請日: | 2018-11-01 |
| 公開(公告)號: | CN209148568U | 公開(公告)日: | 2019-07-23 |
| 發明(設計)人: | 于昊;王偉珍;遲豪杰;劉必成;胡煜;孫尚民;李薦民;李元景;陳志強 | 申請(專利權)人: | 同方威視技術股份有限公司;同方威視科技江蘇有限公司 |
| 主分類號: | G01N23/203 | 分類號: | G01N23/203 |
| 代理公司: | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038 | 代理人: | 艾春慧 |
| 地址: | 100084 北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 背散射信號 背散射 掃描狀態 背散射成像 線源 本實用新型 控制裝置 掃描光束 掃描檢查 圖形信息 修正 探測器 探測 圖像 探測器信號 成像裝置 信號連接 修正信號 掃描時 清晰 | ||
本實用新型公開了一種背散射成像系統和掃描檢查系統。背散射成像系統包括:背散射線源,背散射線源被設置為執行掃描時具有無掃描光束發出的第一掃描狀態和發出掃描光束的第二掃描狀態;背散探測器,背散探測器在背散射成像系統的背散射線源處于第一掃描狀態下探測第一背散射信號,在背散射線源處于第二掃描狀態下探測第二背散射信號;控制裝置,與背散探測器信號連接,被設置為用根據第一背散射信號形成的修正信號修正第二背散射信號以得到修正背散射信號,并根據修正背散射信號形成圖形信息;和成像裝置,與控制裝置信號連接,根據圖形信息生成第二掃描狀態下的背散射圖像。本實用新型獲得的背散射圖像更加清晰。
技術領域
本實用新型涉及輻射檢查技術領域,特別涉及一種背散射成像系統和掃描檢查系統。
背景技術
現有的掃描檢查系統從成像原理角度可分為利用透射成像技術的透射檢查系統和利用背散射成像技術的背散射檢查系統兩類產品。
透射檢查系統形成透射圖像,透射圖像是射線穿過物體衰減后被位于物體另一側的探測器探測到而形成的圖像,射線的透射信號反映了被檢查物體的密度和厚度等信息,可顯示物體的內部結構。透射檢查系統具有射線穿透力強,圖像質量好的優點。
背散射檢查系統利用康普頓散射效應,通過捕獲被檢物反射的光子成像,形成散射圖像。散射圖像是由被檢物靠近探測器方向一定深度的物體散射出來的射線信號形成的。由于爆炸物、毒品等低原子序數物質中射線的康普頓散射更強,背散射檢查系統可以分辨材料并且高亮顯示出有機物質。
可見,利用透射成像技術的透射檢查系統和利用背散射成像技術的背散射檢查系統在對集裝箱(如集裝箱箱體、車輛的貨廂等)進行檢查時各有優勢。將透射成像技術和背散射成像技術集成在一起的掃描檢查系統可以同時包括透射成像系統和背散射成像系統,綜合兩者的優勢,但是其透射成像系統和背散射成像系統之間會產生干擾。由于背散射成像系統的背散射線源劑量較低,背散射成像系統對透射圖像不會造成干擾;而一般透射成像系統的透射射線源劑量較高,會對背散射圖像造成干擾。
以下結合圖1和圖2對透射射線源產生的透射射線對背散射圖像造成干擾的原因進行說明。
掃描檢查系統中透射成像系統和背散射成像系統均可以為垂直視角的成像系統,也可以均為水平視角的成像系統,還可以同時包括垂直視角的成像系統和水平視角的成像系統等等。圖1為掃描檢查系統的透射成像系統和背散射成像系統為垂直視角的成像系統時的背散射圖像干擾原理圖。圖2為掃描檢查系統的透射成像系統和背散射成像系統為水平視角的成像系統時的背散射圖像干擾原理圖。
圖1和圖2中,透射射線源發出的透射射線穿透被檢物后由透射探測器接收,透射探測器接收的背散射信號被轉換成被檢物的透射圖像;背散射線源發出的射線經被檢物反射后由背散探測器接收,背散探測器接收的背散射信號被轉換成被檢物的背散射圖像。但是,透射射線在掃描過程中,照射在地面(如圖1)或被檢物(如圖2)后形成的散射射線也可以被背散探測器接收到,從而對背散射圖像造成干擾。圖1和圖2中,代表透射射線照射在地面上造成的散射后被背散探測器接收到的散射射線,為背散射圖像的干擾信號;代表背散射線源照射在被檢物上造成散射后被背散探測器接收到的散射射線,為背散射圖像的有效信號。照射在不同的物體表面后形成的背散射射線對背散射圖像造成的干擾并不一致,甚至透射射線在掃描過程中照射在被檢物的不同位置上時對背散射圖像造成的干擾也不盡相同。
實用新型內容
本實用新型的目的在于提供一種背散射成像系統和掃描檢查系統。
本實用新型第一方面提供一種背散射成像系統,包括:
背散射線源,所述背散射線源被設置為執行掃描時具有無掃描光束發出的第一掃描狀態和發出掃描光束的第二掃描狀態;
背散探測器,所述背散探測器在所述背散射成像系統的背散射線源處于所述第一掃描狀態下探測第一背散射信號,在所述背散射線源處于所述第二掃描狀態下探測第二背散射信號;
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