[發明專利]一種用于遠紫外波段氣輝探測的光度計及其探測方法在審
| 申請號： | 202010835880.X | 申請日： | 2020-08-19 |
| 公開（公告）號： | CN114076636A | 公開（公告）日： | 2022-02-22 |
| 發明（設計）人： | 付利平;賈楠;王天放;彭如意;肖思;付建國;白雪松;李睿智 | 申請（專利權）人： | 中國科學院國家空間科學中心 |
| 主分類號： | G01J3/02 | 分類號： | G01J3/02;G01J3/28;G01N21/33 |
| 代理公司： | 北京方安思達知識產權代理有限公司 11472 | 代理人： | 武玥;張紅生 |
| 地址： | 100190 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 用于 紫外 波段 探測 光度計 及其 方法 | ||
1.一種用于遠紫外波段氣輝探測的光度計，包括離軸拋物面反射鏡、透射式帶通濾光片、長波通濾光片和光電倍增管，其特征在于，所述離軸拋物面反射鏡、透射式帶通濾光片、長波通濾光片和光電倍增管依次排序設置；其中，
所述離軸拋物面反射鏡表面鍍遠紫外帶通反射膜；
所述透射式帶通濾光片的基底材料為MgF2晶體或LiF2晶體，在MgF2或LiF2晶體片表面鍍多層膜，其中，多層膜的膜材料為Al和MgF2；
所述長波通濾光片為BaF2晶體窗口。
2.根據權利要求1所述的光度計，其特征在于，所述離軸拋物面反射鏡鍍多層遠紫外帶通反射膜；離軸拋物面反射鏡的基底材料為K9玻璃或石英玻璃。
3.根據權利要求1所述的光度計，其特征在于，所述離軸拋物面反射鏡采用大F數設計。
4.根據權利要求1所述的光度計，其特征在于，所述透射式帶通濾光片厚度為1-2mm，直徑為15mm-20mm。
5.根據權利要求1所述的光度計，其特征在于，所述長波通濾光片為真空紫外級別BaF2晶體窗口，長波通濾光片厚度小于等于0.5mm。
6.根據權利要求1所述的光度計，其特征在于，所述光電倍增管為真空紫外波段光電倍增管，真空紫外波段光電倍增管采用CsI作為光陰級。
7.一種基于權利要求1-6任一所述光度計的探測量方法，包括以下步驟：
在離軸拋物面反射鏡上鍍多層遠紫外帶通反射膜，經離軸拋物面反射鏡一次濾光后的光輻射通過透射式帶通濾光片，完成二次濾光，之后經長波通濾光片的BaF2晶體窗口，完成三次濾光，到達光電倍增管，得到測量結果。
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