[實用新型]一種光學(xué)投影模組

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201821514158.0
• 申請日: 2018-09-13
• 公開（公告）號: CN209167793U
• 公開（公告）日: 2019-07-26
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 王小明
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳阜時科技有限公司
• 主分類號: G03B21/20
• 分類號: G03B21/20;G01N21/95
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型適用于光學(xué)和電子技術(shù)領(lǐng)域，提供了一種光學(xué)投影模組，可檢測所使用的光學(xué)元件的完整性。所述光學(xué)投影模組包括光源、光學(xué)元件及檢測單元。所述檢測單元包括檢測發(fā)光體、感測器及處理器。所述檢測發(fā)光體向被測光學(xué)元件發(fā)出檢測光束。所述感測器感測經(jīng)被測光學(xué)元件反射回來的檢測光束的光學(xué)特性。所述處理器與感測器相連接并根據(jù)所述感測器所感測到的檢測光束的光學(xué)特性來判斷被測光學(xué)元件是否存在瑕疵。

技術(shù)領(lǐng)域

本實用新型屬于光學(xué)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種光學(xué)投影模組。

背景技術(shù)

現(xiàn)有的三維(Three Dimensional,3D)感測模組通常采用發(fā)射能量較集中的激光器作為光源來投射感測光圖案，所以一旦設(shè)置在光源出光側(cè)用于形成投射光圖案的光學(xué)元件出現(xiàn)破損的話，高能量的激光會直接照射到使用者的眼睛上造成損害。

發(fā)明內(nèi)容

本實用新型所要解決的技術(shù)問題在于提供一種光學(xué)投影模組，可以檢測出所述光學(xué)投影模組使用的光學(xué)元件是否完好而避免光源直接傷害到使用者眼睛。

本實用新型實施方式提供一種光學(xué)投影模組，可檢測所使用的光學(xué)元件的完整性。所述光學(xué)投影模組包括光源、光學(xué)元件及檢測單元。所述檢測單元包括檢測發(fā)光體、感測器及處理器。所述檢測發(fā)光體向被測光學(xué)元件發(fā)出檢測光束。所述感測器感測經(jīng)被測光學(xué)元件反射回來的檢測光束的光學(xué)特性。所述處理器與感測器相連接并根據(jù)所述感測器所感測到的檢測光束的光學(xué)特性來判斷被測光學(xué)元件是否存在瑕疵。

在某些實施方式中，所述感測器感測經(jīng)被測光學(xué)元件反射回來的檢測光束的光學(xué)特性。所述處理器與感測器相連接。將所感測的被測光學(xué)元件的光學(xué)特性與預(yù)存的被測光學(xué)元件完好情況下的標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)特性進(jìn)行比較，并在所感測的光學(xué)特性與標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)特性的差異值超出誤差范圍時判斷被測光學(xué)元件存在瑕疵。

在某些實施方式中，若所感測的光學(xué)特性與標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)特性相同或差異值在預(yù)設(shè)的誤差范圍內(nèi)，則所述處理器判斷被測光學(xué)元件為完好的。

在某些實施方式中，所述處理器與光源相連接。若所述被測光學(xué)元件被判斷為完好的，則所述處理器讓光源保持正常工作狀態(tài)。若所述被測光學(xué)元件被判斷為存在瑕疵，則所述處理器關(guān)閉光源或檢索光源的發(fā)光能量。

在某些實施方式中，所述光源包括多個發(fā)光體。所述光源的部分發(fā)光體替代檢測發(fā)光體的功能發(fā)出所述檢測光束，而無需另設(shè)檢測發(fā)光體。

在某些實施方式中，所述光源的多個發(fā)光體區(qū)分為用于形成光強(qiáng)均勻分布的泛光光束的一個或多個第一發(fā)光體以及用于形成能夠投射出預(yù)設(shè)圖案的圖案光束的一個或多個第二發(fā)光體。所述第二發(fā)光體形成在所述光源的中部。所述第一發(fā)光體圍繞在第二發(fā)光體對稱分布。其中一部分位于最外層的第一發(fā)光體用于替代檢測發(fā)光體來發(fā)出檢測光束。

在某些實施方式中，所述第一發(fā)光體及第二發(fā)光體形成在同一個半導(dǎo)體基底上，并被分別獨立控制發(fā)光。

在某些實施方式中，所述第一發(fā)光體及第二發(fā)光體為垂直腔面發(fā)射激光器。

在某些實施方式中，所述檢測單元還包括光學(xué)發(fā)散元件。所述光學(xué)發(fā)散元件設(shè)置在用于發(fā)出檢測光束的一部分第二發(fā)光體的發(fā)光面上以將所述第二發(fā)光體的發(fā)光角度擴(kuò)大，使得檢測光束能夠覆蓋到整個被測光學(xué)元件。

在某些實施方式中，所述檢測發(fā)光體設(shè)置在與被測光學(xué)投影模組的光源相同的平面上。

在某些實施方式中，所述感測器設(shè)置在與被測光學(xué)投影模組的光源相同的平面上。

在某些實施方式中，所述檢測光束的光學(xué)特性包括光的強(qiáng)度、波長、亮度、能量分布、所形成的圖案中的任意一種或幾種的組合。

在某些實施方式中，所述檢測發(fā)光體包括發(fā)光二極管。

在某些實施方式中，所述光學(xué)投影模組的光路沿同一個方向。所述光源和光學(xué)元件的光軸相互重合并沿同一個方向延伸。