[實用新型]一種全自動驗證測試芯片設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201821377605.2
• 申請日: 2018-08-26
• 公開（公告）號: CN209061648U
• 公開（公告）日: 2019-07-05
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 鄧洋飛
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市鑫尚寧科技有限公司
• 主分類號: B07C5/344
• 分類號: B07C5/344;B07C5/02;B07C5/38;G06K9/00
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• 代理人: 暫無信息

本實用新型公開了一種全自動驗證測試芯片設(shè)備，包括設(shè)備測試架、環(huán)形傳送線、機(jī)器視覺圖像攝取裝置和測試器，設(shè)備測試架的內(nèi)圍設(shè)置有環(huán)形傳送線，環(huán)形傳送線上固定安裝有若干測試臺，環(huán)形傳送線的左右兩側(cè)圓弧邊的內(nèi)側(cè)分別設(shè)置有上路標(biāo)記機(jī)械手臂和下路標(biāo)記機(jī)械手臂，環(huán)形傳送線的前側(cè)邊中部處設(shè)置有中路挑選機(jī)械手臂、廢料盒、機(jī)器視覺圖形攝取裝置a；環(huán)形傳送線的后側(cè)邊設(shè)置有上料機(jī)械手臂和上料傳送帶，環(huán)形傳送線的右側(cè)邊后方設(shè)置有下料機(jī)械手臂、下料傳送帶、分類機(jī)械手臂、次料盒和機(jī)器視覺圖像攝取裝置b，設(shè)備測試架的左側(cè)設(shè)置有計算機(jī)和顯示器；本實用新型實現(xiàn)了對芯片自動測試和對不合格芯片進(jìn)行分類，方便后續(xù)處理，實用。

技術(shù)領(lǐng)域

本實用新型涉及芯片技術(shù)領(lǐng)域，具體是一種全自動驗證測試芯片設(shè)備。

背景技術(shù)

任何一塊集成電路都是為完成一定的電特性功能而設(shè)計的單片模塊，芯片驗證測試就是集成電路的驗證測試，就是運用各種方法，檢測那些在制造過程中由于物理缺陷而引起的不符合要求的樣品；如果存在無缺陷的產(chǎn)品的話，集成電路的測試也就不需要了；由于實際的制作過程所帶來的以及材料本身或多或少都有的缺陷，因而無論怎樣完美的產(chǎn)品都會產(chǎn)生不良的個體，因而測試也就成為集成電路制造中不可缺少的工程之。

大批量好制造的芯片需經(jīng)過驗證測試才能上市，不可能百分百測試合格，存在一個合格率，即良品率；通過測試驗證芯片的功能是否完好，而驗證測試包括許多道，但不是每一道試不合格的芯片就是報廢品，例如對酷睿i7處理器芯片的測試，當(dāng)測試發(fā)現(xiàn)i7處理器其中的圖形處理模塊GPU無效，可以把該處理器當(dāng)不需要圖形處理模塊的賽揚系列處理器賣，當(dāng)i7處理器測試出其中有兩個內(nèi)核無效時，可以當(dāng)內(nèi)核數(shù)較少的i3處理器賣，當(dāng) i7測試出主頻低于設(shè)計值時，可以當(dāng)性能較低但所需頻率低一些的i5處理器賣等等，其他測試有問題的芯片也可類似處理；而不合格的芯片測試出的不合格點有一個或多個，導(dǎo)致其有一個或多個功能有缺陷，有的直接報廢，有的還能做他用或者修復(fù)，關(guān)鍵是如何對可做他用的不合格芯片分類，以便后續(xù)處理；因此，本領(lǐng)域技術(shù)人員提供了一種全自動驗證測試芯片設(shè)備，以解決上述背景技術(shù)中提出的問題。

發(fā)明內(nèi)容

本實用新型的目的在于提供一種全自動驗證測試芯片設(shè)備，以解決上述背景技術(shù)中提出的問題。

為實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供如下技術(shù)方案：

一種全自動驗證測試芯片設(shè)備，包括設(shè)備測試架、環(huán)形傳送線、機(jī)器視覺圖像攝取裝置和測試器，所述設(shè)備測試架左右兩側(cè)為圓弧狀邊且右側(cè)短于左側(cè)，設(shè)備測試架的前側(cè)為直邊，設(shè)備測試架左右兩側(cè)設(shè)置有若干沿圓弧狀邊均勻分布的測試器，每個測試器對應(yīng)一個測試工位；所述設(shè)備測試架的內(nèi)圍設(shè)置有環(huán)形傳送線，環(huán)形傳送線左右兩側(cè)邊為圓弧狀，環(huán)形傳送線的前后兩側(cè)邊為直邊，環(huán)形傳送線與設(shè)備測試架的內(nèi)圍匹配，環(huán)形傳送線上固定安裝有若干測試臺，環(huán)形傳送線的左右兩側(cè)圓弧邊的內(nèi)側(cè)分別設(shè)置有上路標(biāo)記機(jī)械手臂和下路標(biāo)記機(jī)械手臂，環(huán)形傳送線的前側(cè)邊中部內(nèi)側(cè)設(shè)置有中路挑選機(jī)械手臂，中路挑選機(jī)械手臂伸出端的下方設(shè)置有廢料盒，環(huán)形傳送線的前側(cè)邊中部上方設(shè)置有機(jī)器視覺圖形攝取裝置a，機(jī)器視覺圖像攝取裝置a右側(cè)的環(huán)形傳送線的外圍設(shè)置有伺服電機(jī)，伺服電機(jī)驅(qū)動環(huán)形傳送線；所述環(huán)形傳送線的后側(cè)邊的后方設(shè)置有上料機(jī)械手臂，上料機(jī)械手臂下方設(shè)置有上料傳送帶，上料傳送帶由外部電機(jī)驅(qū)動，環(huán)形傳送線的右側(cè)邊后方設(shè)置有下料機(jī)械手臂，下料機(jī)械手臂的后方設(shè)置有下料傳送帶，下料傳送帶由外部電機(jī)驅(qū)動，下料傳送帶的后方設(shè)置有分類機(jī)械手臂，分類機(jī)械手臂的下方設(shè)置有次料盒，次料盒的內(nèi)部分為若干隔間，下料傳送帶上方設(shè)置有機(jī)器視覺圖像攝取裝置b，機(jī)器視覺圖像攝取裝置b 的位置與分類機(jī)械手臂對應(yīng)；所述設(shè)備測試架的左側(cè)設(shè)置有計算機(jī)，計算機(jī)電性連接有顯示器。

作為本實用新型進(jìn)一步的方案：所述若干測試器中設(shè)有通過硬件描述語言verilog開發(fā)的測試芯片，測試器輸出到測試臺上放置的待測試芯片的測試信號由所述測試芯片激勵，且測試器均由設(shè)備測試架上設(shè)有的機(jī)械臂驅(qū)動，且各個測試器的測試功能各不同，各測試器均與計算機(jī)電性連接；所述機(jī)械臂與計算機(jī)電性連接。