[實用新型]光罩彎曲校正裝置及曝光機有效
| 申請號: | 201821346226.7 | 申請日: | 2018-08-21 |
| 公開(公告)號: | CN208673039U | 公開(公告)日: | 2019-03-29 |
| 發明(設計)人: | 李亮亮;趙玉財;王璐 | 申請(專利權)人: | 咸陽彩虹光電科技有限公司 |
| 主分類號: | G03F1/64 | 分類號: | G03F1/64;G03F7/20 |
| 代理公司: | 西安嘉思特知識產權代理事務所(普通合伙) 61230 | 代理人: | 張捷 |
| 地址: | 712000 陜*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光罩 保持架 彎曲校正裝置 抽真空裝置 桿狀結構 曝光機 吸附口 下表面 吸附 本實用新型 方框形結構 曝光過程 失真現象 真空接口 轉印過程 字形結構 下垂 架構 圖案 | ||
1.一種光罩彎曲校正裝置,其特征在于,包括第一光罩保持架(5)、第二光罩保持架(6)及抽真空裝置,其中,
所述第一光罩保持架(5)為方框形結構,所述方框形結構的下表面包括多個第一吸附口(7),以吸附所述光罩(2)的四周部分;
所述第二光罩保持架(6)為桿狀結構且與所述第一光罩保持架(5)構成日字形結構,所述桿狀結構的下表面包括多個第二吸附口(8),以吸附所述光罩(2)的中間部分;
所述多個第一吸附口(7)和所述多個第二吸附口(8)設置在同一平面上;
所述第一光罩保持架(5)和所述第二光罩保持架(6)均包括真空接口(9),所述第一吸附口(7)和所述第二吸附口(8)分別通過所述真空接口(9)連接至所述抽真空裝置。
2.根據權利要求1所述的光罩彎曲校正裝置,其特征在于,所述第一光罩保持架(5)和所述第二光罩保持架(6)的內部均包括真空腔(10),所述真空接口(9)開設在所述真空腔(10)的側壁,所述第一吸附口(7)或所述第二吸附口(8)開設在所述真空腔(10)的下壁。
3.根據權利要求2所述的光罩彎曲校正裝置,其特征在于,所述光罩彎曲校正裝置還包括支撐桿(11),所述第二光罩保持架(6)安裝在所述支撐桿(11)的下表面上,使得所述第一吸附口(7)和所述第二吸附口(8)處于同一平面上。
4.根據權利要求3所述的光罩彎曲校正裝置,其特征在于,所述第二光罩保持架(6)的上表面與所述支撐桿(11)的下表面相粘合或者焊接結合。
5.根據權利要求4所述的光罩彎曲校正裝置,其特征在于,所述支撐桿(11)架設在所述第一光罩保持架(5)上,且平行于所述第一光罩保持架(5)的一側。
6.根據權利要求5所述的光罩彎曲校正裝置,其特征在于,所述光罩彎曲校正裝置還包括驅動裝置,所述驅動裝置電連接至所述支撐桿(11),以驅動所述支撐桿(11)移動。
7.根據權利要求6所述的光罩彎曲校正裝置,其特征在于,所述第一光罩保持架(5)的兩側分別設置有一個平行于所述第一光罩保持架(5)的滑軌(12),所述支撐桿(11)的兩端分別垂直容納在相應側的滑軌(12)中。
8.根據權利要求1所述的光罩彎曲校正裝置,其特征在于,所述第一光罩保持架(5)沿其長度方向均勻開設有兩列所述第一吸附口(7)。
9.根據權利要求8所述的光罩彎曲校正裝置,其特征在于,所述第二光罩保持架(6)沿其長度方向均勻開設有四列所述第二吸附口(8)。
10.一種曝光機,包括光罩臺(13),其特征在于,所述光罩臺(13)上安裝有權利要求1至9中任一項所述的光罩彎曲校正裝置。
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G03F 圖紋面的照相制版工藝,例如,印刷工藝、半導體器件的加工工藝;其所用材料;其所用原版;其所用專用設備
G03F1-00 用于圖紋面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其專門適用于此的容器;其制備
G03F1-20 .用于通過帶電粒子束(CPB)輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如通過電子束;其制備
G03F1-22 .用于通過100nm或更短波長輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射線掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制備
G03F1-36 .具有臨近校正特征的掩膜;其制備,例如光學臨近校正(OPC)設計工藝
G03F1-38 .具有輔助特征的掩膜,例如用于校準或測試的特殊涂層或標記;其制備





