[實(shí)用新型]一種導(dǎo)光板高質(zhì)量圖像采集裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201821330307.8 | 申請(qǐng)日: | 2018-08-17 |
| 公開(公告)號(hào): | CN208795666U | 公開(公告)日: | 2019-04-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 盧彭飛;樓小棟;李俊峰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 杭州舜浩科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/88 | 分類號(hào): | G01N21/88 |
| 代理公司: | 杭州融方專利代理事務(wù)所(普通合伙) 33266 | 代理人: | 沈相權(quán) |
| 地址: | 311201 浙江省杭*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 導(dǎo)光板 高質(zhì)量圖像 傳送組件 采集裝置 固定平臺(tái) 檢測(cè)組件 采集 本實(shí)用新型 自動(dòng)化操作 檢查設(shè)備 缺陷檢測(cè) 人工檢測(cè) 生產(chǎn)效率 誤檢概率 壓平組件 主觀因素 自動(dòng)檢測(cè) 污點(diǎn) 暗點(diǎn) 劃傷 漏檢 尾端 壓傷 圖像 分析 | ||
本實(shí)用新型涉及一種導(dǎo)光板高質(zhì)量圖像采集裝置,所屬導(dǎo)光板檢查設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,包括固定平臺(tái),固定平臺(tái)上設(shè)有傳送組件,傳送組件上設(shè)有導(dǎo)光板,傳送組件中部上方設(shè)有檢測(cè)組件,檢測(cè)組件后端設(shè)有壓平組件,傳送組件尾端內(nèi)設(shè)有限位組件。具有結(jié)構(gòu)緊湊、自動(dòng)檢測(cè)和高質(zhì)量圖像采集功能的優(yōu)點(diǎn),根據(jù)對(duì)采集的圖像進(jìn)行分析完成污點(diǎn)、亮點(diǎn)、暗點(diǎn)、線劃傷、壓傷等的缺陷檢測(cè)。該導(dǎo)光板高質(zhì)量圖像采集裝置可以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化操作,并進(jìn)一步提高導(dǎo)光板的生產(chǎn)效率。解決了人工檢測(cè)極易受到外界主觀因素的干擾,漏檢和誤檢概率較大的問題。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及導(dǎo)光板檢查設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種導(dǎo)光板高質(zhì)量圖像采集裝置。
背景技術(shù)
導(dǎo)光板是利用光學(xué)級(jí)的亞克力/PC板材,然后用具有極高反射率且不吸光的高科技材料,在光學(xué)級(jí)的亞克力板材底面用激光雕刻、V型十字網(wǎng)格雕刻、UV網(wǎng)版印刷技術(shù)印上導(dǎo)光點(diǎn)。利用光學(xué)級(jí)亞克力板材吸取從燈發(fā)出來(lái)的光在光學(xué)級(jí)亞克力板材表面的停留,當(dāng)光線射到各個(gè)導(dǎo)光點(diǎn)時(shí),反射光會(huì)往各個(gè)角度擴(kuò)散,然后破壞反射條件由導(dǎo)光板正面射出。通過(guò)各種疏密、大小不一的導(dǎo)光點(diǎn),可使導(dǎo)光板均勻發(fā)光。反射片的用途在于將底面露出的光反射回導(dǎo)光板中,用來(lái)提高光的使用效率;同等面積發(fā)光亮度情況下,發(fā)光效率高,功耗低。單面微結(jié)構(gòu)陣列導(dǎo)光板一般采用壓出成型的制作工藝。
導(dǎo)光板的缺陷主要包括刮傷、污漬、亮點(diǎn)、黑點(diǎn)等缺陷。而傳統(tǒng)導(dǎo)光板的外觀檢測(cè)主要還是依靠人工的方式進(jìn)行,由于人工檢測(cè)存在主觀判斷以及眼睛疲勞的因素,因此人工檢測(cè)的方式存在檢測(cè)質(zhì)量不穩(wěn)定、部分缺陷不易識(shí)別,且用工較多,費(fèi)用昂貴,勞動(dòng)強(qiáng)度大,勞動(dòng)效率低下。
發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型主要解決在導(dǎo)光板缺陷檢測(cè)系統(tǒng)中,人工檢測(cè)工作效率低下和勞動(dòng)強(qiáng)度大的不足,提供了一種導(dǎo)光板高質(zhì)量圖像采集裝置,其具有結(jié)構(gòu)緊湊、自動(dòng)檢測(cè)和高質(zhì)量圖像采集功能的特點(diǎn),根據(jù)對(duì)采集的圖像進(jìn)行分析完成污點(diǎn)、亮點(diǎn)、暗點(diǎn)、線劃傷、壓傷等的缺陷檢測(cè)。該導(dǎo)光板高質(zhì)量圖像采集裝置可以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化操作,并進(jìn)一步提高導(dǎo)光板的生產(chǎn)效率。解決了人工檢測(cè)極易受到外界主觀因素的干擾,漏檢和誤檢概率較大的問題。
本實(shí)用新型的上述技術(shù)問題主要是通過(guò)下述技術(shù)方案得以解決的:
一種導(dǎo)光板高質(zhì)量圖像采集裝置,包括固定平臺(tái),所述的固定平臺(tái)上設(shè)有傳送組件,所述的傳送組件上設(shè)有導(dǎo)光板,所述的傳送組件中部上方設(shè)有檢測(cè)組件,所述的檢測(cè)組件后端設(shè)有壓平組件,所述的傳送組件尾端內(nèi)設(shè)有限位組件。
所述的固定平臺(tái)包括平臺(tái)底座,所述的平臺(tái)底座上設(shè)有若干與平臺(tái)底座相垂直連接固定的支撐板,所述的支撐板上端與傳送組件外壁相固定連接。
所述的傳送組件包括短軸支撐架和長(zhǎng)軸支撐架,所述的短軸支撐架前端設(shè)有與短軸支撐架相活動(dòng)式套接的短轉(zhuǎn)軸,所述的短軸支撐架內(nèi)設(shè)有若干短軸導(dǎo)柱,所述的短軸支撐架側(cè)邊設(shè)有與短轉(zhuǎn)軸相套接的鏈輪件Ⅰ,所述的鏈輪件Ⅰ上設(shè)有短軸驅(qū)動(dòng)電機(jī),所述的短轉(zhuǎn)軸與短軸導(dǎo)柱外圍設(shè)有若干水平排列的短軸傳送帶,所述的長(zhǎng)軸支撐架尾端設(shè)有與長(zhǎng)軸支撐架相活動(dòng)式套接的長(zhǎng)轉(zhuǎn)軸,所述的長(zhǎng)軸支撐架內(nèi)設(shè)有若干長(zhǎng)軸導(dǎo)柱,所述的長(zhǎng)軸支撐架側(cè)邊設(shè)有與長(zhǎng)轉(zhuǎn)軸相套接的鏈輪件Ⅱ,所述的鏈輪件Ⅱ上設(shè)有長(zhǎng)軸驅(qū)動(dòng)電機(jī),所述的長(zhǎng)轉(zhuǎn)軸與長(zhǎng)軸導(dǎo)柱外圍設(shè)有若干水平排列的長(zhǎng)軸傳送帶。
所述的壓平組件包括壓平塊,所述的壓平塊兩側(cè)邊分別設(shè)有與檢測(cè)組件相連接固定的壓平塊支架。
所述的限位組件包括限位滑軌,所述的限位滑軌上設(shè)有兩個(gè)以上的限位滑塊。
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- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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