[實用新型]一種顯示面板的異物檢測裝置

有效

• 申請號: 201821297669.1
• 申請日: 2018-08-13
• 公開（公告）號: CN208902622U
• 公開（公告）日: 2019-05-24
• 發明（設計）人: 盧青
• 申請（專利權）人: 江蘇集萃有機光電技術研究所有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆

本實用新型實施例公開了一種顯示面板的異物檢測裝置。該裝置包括：第一圖像采集器用于采集待測顯示面板的待測表面的第一圖像；處理器用于根據第一圖像確定異物在XOY平面的X坐標范圍及Y坐標范圍；位置控制器用于控制第二圖像采集器或待測顯示面板沿平行于XOY平面的方向移動，使第二圖像采集器在XOY平面的坐標位置與異物相對應，并控制第二圖像采集器或XOY平面沿Z軸方向運動，以采集薄膜封裝層在Z軸方向多個位置的多張第二圖像；處理器與第二圖像采集器連接，用于根據多張第二圖像確定異物的Z坐標范圍，最終得到所述異物在所述薄膜封裝層的位置及大小。本實用新型的方案實現了對異物在薄膜封裝層中的位置的檢測。

技術領域

本實用新型實施例涉及顯示面板檢測技術，尤其涉及一種顯示面板的異物檢測裝置。

背景技術

封裝是有機發光二極管(Organic Light-Emitting Diode,OLED)顯示面板生產中必不可少的一個過程，封裝的目的是避免水汽和氧氣入侵到OLED顯示面板內部，而導致內部器件失效。OLED顯示面板的封裝技術隨著OLED市場的興起迭代更新，從最開始的金屬蓋板封裝逐漸的過度到了玻璃蓋板封裝，再進一步的向薄膜封裝發展。

異物是薄膜封裝技術中對顯示面板壽命影響最大的問題之一，如圖1所示，對OLED器件層101表面進行薄膜封裝時，假如器件表面掉落一個異物102，此時理想的薄膜封裝結果是無機層103完美的覆蓋的在異物表面；但是參考圖2，實際上無機層103在覆蓋異物時，邊緣極易形成缺陷104，此時水氧會從缺陷 104處滲透到OLED器件層101，造成器件失效。而后在無機層103表面制備有機層時，必須完美覆蓋異物，再次制備的無機層薄膜封裝才有意義。異物102 在薄膜封裝層中的位置對顯示面板的封裝效果有著重要影響，檢測異物在薄膜封裝層中的位置對于后續的顯示面板失效研究具有重要意義。

實用新型內容

本實用新型提供一種顯示面板的異物檢測裝置，以實現對異物在薄膜封裝層中的位置的檢測。

本實用新型實施例提供了一種顯示面板的異物檢測裝置，該裝置包括：

第一圖像采集器、第二圖像采集器、位置控制器和處理器；

定義待測顯示面板的待測表面所在平面或其平行面為XOY平面，垂直于所述XOY平面的方向為Z軸方向；

所述第一圖像采集器用于采集待測顯示面板的待測表面的第一圖像；

所述處理器與所述第一圖像采集器連接，用于根據所述第一圖像確定異物在XOY平面的X坐標范圍及Y坐標范圍；

所述位置控制器用于控制所述第二圖像采集器或所述待測顯示面板沿平行于所述XOY平面的方向移動，使所述第二圖像采集器在XOY平面的坐標位置與所述異物相對應，并控制所述第二圖像采集器或所述顯示面板沿所述Z軸方向運動，以采集待測顯示面板的薄膜封裝層在Z軸方向多個位置的多張第二圖像；

所述處理器與所述第二圖像采集器連接，用于根據所述多張第二圖像確定所述異物的Z坐標范圍，最終得到所述異物在所述薄膜封裝層的位置及大小。

可選的，所述第二圖像采集器包括共軛焦顯微鏡和第一相機，所述第一相機用于拍攝所述共軛焦顯微鏡探測到的所述薄膜封裝層在Z軸方向多個位置的像。

可選的，所述第二圖像采集器還包括第一存儲器，所述第一存儲器分別與所述第一相機和所述處理器連接，用于存儲所述第一相機拍攝的多張所述第二圖像。

可選的，該裝置還包括：

異物位置存儲器，所述異物位置存儲器與所述處理器連接，用于存儲所述異物在所述薄膜封裝層的位置及大小。

可選的，所述第一圖像采集器包括第二相機和第二存儲器，所述第二存儲器分別與所述第二相機和所述處理器連接，用于存儲所述第二相機拍攝的所述第一圖像。