[實用新型]一種納米粒子粒徑分布測試儀

有效

• 申請號: 201821253347.7
• 申請日: 2018-08-06
• 公開（公告）號: CN208443697U
• 公開（公告）日: 2019-01-29
• 發明（設計）人: 段興漢;武桐
• 申請（專利權）人: 上海景瑞陽實業有限公司
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02;G01N15/10
• 代理公司: 北京高沃律師事務所 11569
• 代理人: 王戈

本實用新型公開一種納米粒子粒徑分布測試儀。所述測試儀的樣品艙包括透明的艙壁；激光器位于樣品艙的斜上方，聚光鏡位于樣品艙的斜下方，且激光器發出的激光穿過樣品艙的艙壁到達聚光鏡；聚光鏡將接收的光信號傳輸至光電探測器，光電探測器的輸出端與信號處理器連接；單片機與激光器的和射頻振蕩器的控制端均連接；永久磁鐵包括極性相反的兩個磁鐵，分別位于樣品艙艙壁的兩側；射頻振蕩器位于樣品艙的底部；射頻接收器的感應線圈纏繞固定于樣品艙的艙壁的外側；射頻接收器的輸出端與信號處理器連接；信號處理器的輸出端與計算機連接，計算機用于計算納米粒子的粒徑分布參數。采用本實用新型的測試儀，可以提高測試精度。

技術領域

本實用新型涉及測量技術領域，特別是涉及一種納米粒子粒徑分布測試儀。

背景技術

動態光散射(Dynamic Light Scattering，DLS)，也稱光子相關光譜或準彈性光散射，通過測量光強的波動隨時間的變化，以測量粒子的粒徑。DLS技術測量粒子粒徑，具有準確、快速、可重復性好等優點，是目前納米粒子粒徑測量最有效的方法之一，已經成為納米科技中常規的表征方法。但是一般的DLS法對樣品進行測量時，都要求對測量試樣進行稀釋，以避免多重散射，這就造成了樣品容易受外界因素(灰塵，光線，人為操作等等)的干擾，引起較大的測量誤差。

實用新型內容

本實用新型的目的是提供一種納米粒子粒徑分布測試儀，以提高粒徑的測量精度，降低測量誤差。

為實現上述目的，本實用新型提供了如下方案：

一種納米粒子粒徑分布測試儀，所述測試儀包括：激光器、樣品艙、單片機、永久磁鐵、射頻振蕩器、射頻接收器、聚光鏡、光電探測器、信號處理器和計算機；

所述樣品艙包括透明的艙壁；所述激光器位于所述樣品艙的斜上方，所述聚光鏡位于所述樣品艙的斜下方，且所述激光器發出的激光穿過所述樣品艙的艙壁到達所述聚光鏡；所述聚光鏡將接收的光信號傳輸至所述光電探測器，所述光電探測器的輸出端與所述信號處理器的第一輸入端連接；

所述單片機的第一端與所述激光器的控制端連接，用于調節所述激光器的脈沖信號；所述單片機的第二端與所述射頻振蕩器的控制端連接，用于調節所述射頻振蕩器的射頻信號；所述永久磁鐵包括極性相反的第一磁鐵和第二磁鐵；所述第一磁鐵和所述第二磁鐵分別位于所述樣品艙艙壁的兩側；所述射頻振蕩器位于所述樣品艙的底部；所述射頻接收器的感應線圈纏繞固定于所述樣品艙的艙壁的外側；所述射頻接收器的輸出端與所述信號處理器的第二輸入端連接；

所述信號處理器的輸出端與計算機連接，所述信號處理器用于對接收的信號進行調理，所述計算機用于根據信號處理器傳輸的信號計算納米粒子的弛豫時間，進而獲得納米粒子的粒徑分布參數。

可選的，所述樣品艙為透明石英管，所述透明石英管的激光透過率為85％以上，長度為50mm-120mm，外徑為4-10mm，所述石英管的材質為天然或者人工石英。

可選的，所述激光器為半導體激光二極管，輸出功率為65mW，中心波長為600-658nm。

可選的，所述永久磁鐵為釹鐵硼磁鐵或釤鈷永磁鐵，場強為0.3T，頻率為 13MHz。

可選的，所述光電探測器為光電倍增管單光子探測器或雪崩光電二極管單光子探測器。

可選的，所述聚光鏡為雙傅里葉鏡頭裝置，散射光程為200-2000μm。

可選的，所述測試儀檢測的納米粒子的粒徑范圍為1-6000nm。

根據本實用新型提供的具體實施例，本實用新型公開了以下技術效果：