[實用新型]一種半導體金屬材料通用測試夾具

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201821123302.8
• 申請日: 2018-07-16
• 公開（公告）號: CN208636344U
• 公開（公告）日: 2019-03-22
• 發(fā)明（設計）人: 莫宗杰
• 申請（專利權）人: 珠海市運泰利自動化設備有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 廣州市紅荔專利代理有限公司 44214
• 代理人: 王賢義

1.一種半導體金屬材料通用測試夾具，其特征在于：它包括底板（1）和移動模組（5），所述底板（1）上設置有第一導軌（11）和探頭模組（3），所述底板（1）的左右兩邊分別設置有旋轉模組（4），所述移動模組（5）設置在所述底板（1）的底部，所述探頭模組（3）設置在兩個所述旋轉模組（4）之間，位于左邊的所述旋轉模組（4）固定在所述底板（1）上，位于右邊的所述旋轉模組（4）分別與所述移動模組（5）以及所述第一導軌（11）相適配，兩個所述旋轉模組（4）上分別設置有夾爪（41），所述探頭模組（3）上設置有微體積的測試探頭（32）。

2.根據(jù)權利要求1所述的一種半導體金屬材料通用測試夾具，其特征在于：所述探頭模組（3）包括固定板（31）以及分別固定在所述固定板（31）上的步進電機（33）和直線電機（34），所述測試探頭（32）與所述步進電機（33）相連接，所述固定板（31）的底部適配設置有第二導軌，所述第二導軌固定在所述底板（1）上。

3.根據(jù)權利要求1所述的一種半導體金屬材料通用測試夾具，其特征在于：所述底板（1）上設置有支撐架（6）并置于兩個所述旋轉模組（4）之間，所述支撐架（6）上設置有支撐氣缸（61），所述支撐氣缸（61）上設置有與產品相配合的放置托架（62）。

4.根據(jù)權利要求3所述的一種半導體金屬材料通用測試夾具，其特征在于：兩個所述旋轉模組（4）分別設置有給電探針（2）。

5.根據(jù)權利要求4所述的一種半導體金屬材料通用測試夾具，其特征在于：所述旋轉模組（4）包括連接板（42）和固定在所述連接板（42）上的旋轉電機（43），所述連接板（42）適配設置在所述第一導軌（11）上。

6.根據(jù)權利要求5所述的一種半導體金屬材料通用測試夾具，其特征在于：所述移動模組（5）包括固定塊（51）、移動電機（52）、絲桿（54）和適配設置在所述絲桿（54）上的傳動塊（53），所述固定塊（51）固定在所述底板（1）的底部，所述移動電機（52）固定在所述固定塊（51）上，所述絲桿（54）與所述移動電機（52）相連接。

7.根據(jù)權利要求6所述的一種半導體金屬材料通用測試夾具，其特征在于：所述底板（1）上設置有開口槽（12），所述傳動塊（53）通過所述開口槽（12）固定在所述連接板（42）上。