[實用新型]LED模組功能測試儀有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201821072633.3 | 申請日: | 2018-07-08 |
| 公開(公告)號: | CN208384069U | 公開(公告)日: | 2019-01-15 |
| 發(fā)明(設計)人: | 王洪偉 | 申請(專利權)人: | 上海晨闌光電器件有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/26 | 分類號: | G01R31/26;G01R31/44;G01R1/04 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 201801 上海*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 固定框架 分析儀 數據采集處理單元 掃碼裝置 推進機構 被測物 電參數檢測模塊 功能測試儀 穩(wěn)壓電源 下壓機構 讀取 本實用新型 控制按鈕 設備放置 信息發(fā)送 測試區(qū) 放置區(qū) 模組 顯示器 | ||
本實用新型為一種LED模組功能測試儀。它包括包括固定框架、分別設置在固定框架上的數據采集處理單元、LED分析儀、電參數檢測模塊、穩(wěn)壓電源、顯示器;所述電參數檢測模塊、穩(wěn)壓電源分別與所述數據采集處理單元、LED分析儀相連;所述固定框架的上部為測試區(qū)、所述固定框架的下部為設備放置區(qū),還包括下壓機構、推進機構、控制按鈕模組、掃碼裝置;所述掃碼裝置讀取被測物信息,并將被測物信息發(fā)送至所述數據采集處理單元;所述掃碼裝置固定在所述固定框架的上部;所述推進機構內設有第一LED分析儀、下壓機構內設有第二LED分析儀;所述推進機構的頂部設有被測物放置區(qū)。
技術領域
本實用新型涉及LED模組測試設備,特別是公開一種LED模組功能測試儀。
背景技術
現有LED模組測試設備是一種以手動夾手為壓緊機構的單機測試儀器,它通過單片機作為數據處理單元進行數據處理,并配有各種檢測模塊,如電壓輸出和檢測模塊、電流輸出和檢測模塊、LED分析儀等。其主要缺陷有以下四點:
1)在LED模組測試設備上的被測試物體,主要為含有電子元器件的線路板,作業(yè)人員在放入和拿取被測試物體時,容易與壓緊機構發(fā)生剮蹭,從而損傷電子元器件。
2)由于現有的技術問題,無法與條碼識別裝置(如手持掃碼槍等),連接來識別被測試物體上面的二維碼信息,也無法實現測試數據的本地保存,從而也就無法查詢測試記錄以及與MES系統(tǒng)(生產執(zhí)行制造系統(tǒng))的數據交互。
3)當被測試物體有不良時,由于現有產品為手動壓緊機構,不能鎖定。在流水線上生產時不良的被測試物體與良好的測試物體就有混淆的風險。
4)現有產品的電壓輸出和檢測、電流輸出和檢測模塊精度較低。
發(fā)明內容
本實用新型的目的在于克服現有技術中存在的缺陷,提供一種避免刮傷被測試物體的電子元器、降低被測物體之間的混淆風險的LED模組功能測試儀。
本實用新型是這樣實現的:一種LED模組功能測試儀,包括固定框架、分別設置在固定框架上的數據采集處理單元、LED分析儀、電參數檢測模塊、穩(wěn)壓電源、顯示器;所述電參數檢測模塊、穩(wěn)壓電源分別與所述數據采集處理單元、LED分析儀相連;所述固定框架的上部為測試區(qū)、所述固定框架的下部為設備放置區(qū),其特征在于:還包括下壓機構、推進機構、控制按鈕模組、掃碼裝置;所述掃碼裝置讀取被測物信息,并將被測物信息發(fā)送至所述數據采集處理單元;所述掃碼裝置固定在所述固定框架的上部;所述推進機構內設有第一LED分析儀、下壓機構內設有第二LED分析儀;所述推進機構的頂部設有被測物放置區(qū);
所述測試區(qū)分為上料區(qū)、工作區(qū),所述推進機構在上料區(qū)與工作區(qū)之間通過第一動力裝置水平移動,所述下壓機構在工作區(qū)內,當所述推進機構位于所述工作區(qū)時,所述下壓機構位于所述推進機構的正上方;所述下壓機構通過第二動力裝置上、下垂直移動;所述第一動力裝置、第二動力裝置分別通過所述控制按鈕模組控制進行啟動動作;所述控制按鈕模組固定在所述上料區(qū)的前側;當所述下壓機構向下移動到位時、與所述推進機構共同完成對被測物的夾緊,夾緊后所述數據采集處理單元控制所述第一LED分析儀、第二LED分析儀、電參數檢測模塊、穩(wěn)壓電源分別對所述被測物進行測試,測試數據發(fā)送至所述數據采集處理單元;數據發(fā)送后所述數據采集處理單元控制所述第一動力裝置、第二動力裝置進行復位動作。
還包括2個固定在所述上料區(qū)兩側的安全光柵,所述安全光柵分別與所述第一動力裝置、第二動力裝置相連。
所述推進機構包括支撐臺、第一分析儀固定架、被測物固定板;所述第一LED分析儀固定在所述第一分析儀固定架內,所述被測物固定板的頂部設有所述被測物放置區(qū);所述第一分析儀固定架固定在所述支撐臺上;
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