[實用新型]雙孔形位公差測量機構

有效

• 申請號: 201821027280.5
• 申請日: 2018-06-29
• 公開（公告）號: CN208536800U
• 公開（公告）日: 2019-02-22
• 發明（設計）人: 李軍
• 申請（專利權）人: 太倉迪陽汽車裝備有限公司
• 主分類號: G01B21/00
• 分類號: G01B21/00;G01B21/02;G01B21/26
• 代理公司: 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙) 31237
• 代理人: 朱琳

本實用新型提供一種雙孔形位公差測量機構，固定框架在第一導軌上移動，固定框架面對具有雙孔的部件的側面上固定有垂直于第一導軌的第二導軌和移動板，移動板上的第三導軌上滑動著測試臂，測試臂一端至少有兩個測試探頭；測試臂上的第一測距傳感器測量測試臂在第三導軌上的位移；移動板上的第二測距傳感器測量移動板在第二導軌上的位移；固定框架的第三測距傳感器測量測量裝置在第一導軌上的位移。測量裝置先移動，使得一個測試探頭伸入一個孔內，然后測量裝置向另一個孔移動，直至另一個測試探頭伸入另一個孔內，根據第一測距傳感器、第二測距傳感器、第三測距傳感器顯示的位移數據，從而計算出兩個孔的形位公差，減少人為干擾因素和人為差錯。

技術領域

本實用新型涉及自動化檢測領域，具體涉及一種雙孔形位公差測量機構。

背景技術

自動檢測就是在測量和檢驗過程中完全不需要或僅需要很少的人工干預而自動進行并完成的。實現自動檢測可以提高自動化水平和程度，減少人為干擾因素和人為差錯，可以提高生產過程或設備的可靠性及運行效率。

筆式傳感器廣泛應用于航天航空，機械，塑料，化工以及科研院校等國民經濟各行各業，用來測量伸長、振動、物體厚度、膨脹等的高技術產品。筆式位移傳感器具有優良的性能，適用于質量控制和計量應用中的高精度、高重復性的測量。如圖1所示，目前大部分機構都是使用筆式傳感器1’直接接觸零件2’進行測量，在測量具有傾斜面的零件2’時，筆式傳感器1’的測頭會受到一個傾斜的作用力而產生變形，從而影響測量精度以及筆式傳感器1’的使用壽命。尤其是目前在孔的測量中，若擅自使用筆式傳感器伸入孔中測量，由于孔尤其是深孔內部肉眼不可見，因此筆式傳感器在測量時變形程度也無法預知，從而嚴重影響了孔相關數據的測量。

實用新型內容

本實用新型提供了一種雙孔形位公差測量機構，無需將筆式傳感器伸入孔中測量，以解決現有技術中存在的測量精度低和傳感器使用壽命低的問題。

為了解決上述技術問題，本實用新型提供一種雙孔形位公差測量機構，測量時放置具有雙孔的部件的一側，其中，包括一對垂直于至少一個孔的軸向的第一導軌和在所述第一導軌上滑動的測量裝置，所述測量裝置包括

一固定框架，所述固定框架面對所述具有雙孔的部件的側面上固定有至少一條垂直于所述第一導軌的第二導軌和在所述第二導軌上滑動的移動板；

所述移動板上還設置有垂直于所述第一導軌和第二導軌形成的平面的第三導軌，所述第三導軌上滑動著向所述具有雙孔的部件延伸形成的測試臂，所述測試臂遠離所述具有雙孔的部件的一端在所述第三導軌上滑移，靠近所述具有雙孔的部件的一端沿著所述雙孔的軸向延伸形成至少兩個測試探頭，每個測試探頭至少與一個孔的軸向平行；

所述測試臂上設置有兩個相反安裝的第一測距傳感器，兩個第一測距傳感器的測試方向與所述第三導軌平行，用于測量所述測試臂在第三導軌方向上的位移；

所述移動板還固定連接有兩個相反安裝的第二測距傳感器，兩個第二測距傳感器的測試方向平行于所述第二導軌，用于測量所述移動板在所述第二導軌方向上的位移；

所述固定框架內還設置有至少一個第三測距傳感器，所述第三測距傳感器的測試方向平行于所述第一導軌，用于測量所述測量裝置在所述第一導軌上的位移。

作為優選，所述第一測距傳感器、第二測距傳感器和第三測距傳感器皆為筆式傳感器。

作為優選，所述第三導軌兩端分別設置有第一側板和第二側板，所述測試臂與所述第一側板之間、所述測試臂與所述第二側板之間皆固定有相同的第一彈簧，使得非工作狀態下所述測試臂與所述第一側板和所述第二側板之間距離相等。

作為優選，所述第一導軌兩端在第三導軌方向上延伸形成第三側板和第四側板，所述固定框架和所述第三側板、所述固定框架和所述第四側板之間皆固定有相同的第二彈簧，使得非工作狀態下，所述固定框架停靠在所述第一導軌的中央。