[實用新型]一種高速光模塊多通道自動化調(diào)試測試系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201821010986.0 | 申請日: | 2018-06-28 |
| 公開(公告)號: | CN208424359U | 公開(公告)日: | 2019-01-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王敏;黃首甲;夏興勝;黃少華 | 申請(專利權(quán))人: | 泌陽縣銘普電子有限公司 |
| 主分類號: | H04B10/07 | 分類號: | H04B10/07 |
| 代理公司: | 廣州粵高專利商標(biāo)代理有限公司 44102 | 代理人: | 羅曉林 |
| 地址: | 463700 河南省駐*** | 國省代碼: | 河南;41 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測試板模塊 待測光模塊 光衰減器 主機模塊 測試板 電開關(guān) 模組 本實用新型 高速光模塊 測試系統(tǒng) 光源模塊 自動化 多通道 光開關(guān) 示波器 誤碼儀 調(diào)試 連接器 降低系統(tǒng) 匹配連接 人工成本 生產(chǎn)效率 通信接口 光模塊 級聯(lián) 網(wǎng)線 | ||
本實用新型公開了一種高速光模塊多通道自動化調(diào)試測試系統(tǒng),其包括主機模塊、測試板模組、誤碼儀、光源模塊、1*4電開關(guān)、1*16光開關(guān)、示波器及光衰減器,主機模塊與測試板模組連接,測試板模組包括至少一測試板模塊,測試板模塊之間通過網(wǎng)線級聯(lián),測試板模塊包括8個MCU單元,測試板模塊上設(shè)置有若干待測光模塊,MCU單元與待測光模塊通過連接器匹配連接;測試板模塊通過通信接口與1*4電開關(guān)連接,1*4電開關(guān)與誤碼儀連接,示波器及光衰減器分別通過1*16光開關(guān)與待測光模塊連接,光衰減器與光源模塊連接。本實用新型通過一臺主機模塊控制幾只到幾百只光模塊,大大的降低系統(tǒng)設(shè)計成本及人工成本,在一定程度上提高了自動化程度,進(jìn)而有效提高生產(chǎn)效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及光模塊制作測試技術(shù)領(lǐng)域,尤其是涉及一種高速光模塊多通道自動化調(diào)試測試系統(tǒng)。
背景技術(shù)
隨著光通信技術(shù)的發(fā)展,市場上高速光模塊的需求量越來越大,低成本、高質(zhì)量是人們不斷的追求,也就迫使光通信元器件制造廠商需要不斷改進(jìn)工藝,降低成本以制造大量高質(zhì)量、低成本的光模塊。相應(yīng)的,就需要設(shè)計制造出能同時調(diào)試測試大批量光模塊的設(shè)備。
現(xiàn)有技術(shù)中,現(xiàn)有技術(shù)使用USB或I2C技術(shù),數(shù)據(jù)無法進(jìn)行遠(yuǎn)傳;其次,光模塊制造廠商一般采用單通道或者雙通道測試板通信技術(shù),可實現(xiàn)一臺主機與一塊測試板調(diào)測試一個或者到兩個光模塊,且發(fā)射與接收調(diào)試測試分為不同的工位,所以要求要有多臺主機和多個人工操作,整個測試系統(tǒng)的成本很高而且效率低。
光通信領(lǐng)域的測試板的高速信號MSA連接頭價格很高(一般一只幾百元RMB),而通常一個測試板需要多個MSA連接頭,這些高速信號的MSA連接頭是焊接在測試板上的,一般單通道的測試板就需要4個MSA頭實現(xiàn)一個模塊的調(diào)試測試,故怎樣提高M(jìn)SA頭的使用率,如何實現(xiàn)通過一臺主機對批量光模塊(不少于8只)進(jìn)行調(diào)試測試并進(jìn)行實時監(jiān)控的低成本調(diào)試測試系統(tǒng),是本領(lǐng)域技術(shù)人員亟待解決的問題。
實用新型內(nèi)容
基于此,有必要針對現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種高速光模塊多通道自動化調(diào)試測試系統(tǒng),可提高生產(chǎn)效率,降低人工及機器成本,提高自動化程度,降低犯錯率,運營及維護(hù)方便。
為解決上述技術(shù)問題,本實用新型所采用的技術(shù)方案是:一種高速光模塊多通道自動化調(diào)試測試系統(tǒng),其包括主機模塊、測試板模組、誤碼儀、光源模塊、1*4電開關(guān)、1*16光開關(guān)、示波器及光衰減器,所述主機模塊與測試板模組連接,所述測試板模組包括至少一測試板模塊,所述測試板模塊之間通過網(wǎng)線級聯(lián),所述測試板模塊包括8個MCU單元,所述測試板模塊上設(shè)置有若干待測光模塊,所述MCU單元與待測光模塊通過連接器匹配連接;所述測試板模塊通過通信接口與1*4電開關(guān)連接,所述1*4電開關(guān)與誤碼儀連接,所述示波器及光衰減器分別通過1*16光開關(guān)與待測光模塊連接,所述光衰減器與光源模塊連接。
在其中一個實施例中,還包括數(shù)據(jù)服務(wù)器,數(shù)據(jù)服務(wù)器與主機模塊通過網(wǎng)線相連。
在其中一個實施例中,所述主機模塊分別與1*16光開關(guān)連接。
在其中一個實施例中,所述主機模塊與1*16光開關(guān)采用串口方式進(jìn)行連接,所述主機模塊通過控制1*16光開關(guān)的通斷及發(fā)送測試數(shù)據(jù)控制所述待測光模塊進(jìn)行性能測試。
在其中一個實施例中,所述通信接口包括1*4fanout端口及1*4mux端口,所述1*4電開關(guān)與誤碼儀的發(fā)射和接收差分線連接。
在其中一個實施例中,所述連接器兼容SFP+、10G PON ONU、PON OLT和SFP類光模塊。
在其中一個實施例中,所述MCU單元采用帶地址、固定字節(jié)長度的通信協(xié)議通信,各測試板模塊中每個MCU單元對應(yīng)的通信地址不同。
在其中一個實施例中,所述測試板模組內(nèi)的測試板模塊的結(jié)構(gòu)是相同的。
在其中一個實施例中,所述測試板模塊兼容低速光模塊調(diào)試測試。
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