[實(shí)用新型]半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201820948488.4 | 申請日: | 2018-06-20 |
| 公開(公告)號: | CN208433413U | 公開(公告)日: | 2019-01-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 田武;汪宗武;許文山;孫超 | 申請(專利權(quán))人: | 長江存儲科技有限責(zé)任公司 |
| 主分類號: | H01L29/423 | 分類號: | H01L29/423;H01L21/28 |
| 代理公司: | 上海盈盛知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31294 | 代理人: | 董琳 |
| 地址: | 430074 湖北省武漢市洪山區(qū)東*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體結(jié)構(gòu) 摻雜離子 摻雜區(qū)域 襯底表面 柵極結(jié)構(gòu) 柵介質(zhì)層 離子 摻雜 本實(shí)用新型 分凝系數(shù) 襯底 耗盡 | ||
本實(shí)用新型涉及一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),所述半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)包括:襯底;位于所述襯底表面的柵極結(jié)構(gòu),所述柵極結(jié)構(gòu)包括位于襯底表面的柵介質(zhì)層和位于所述柵介質(zhì)層表面的柵極;所述柵極包括第一摻雜區(qū)域和第二摻雜區(qū)域,所述第一摻雜區(qū)域內(nèi)摻雜有第一摻雜離子,所述第二摻雜區(qū)域摻雜有第二摻雜離子,所述第二摻雜離子為P型摻雜離子,所述第一摻雜離子能夠提高所述P型摻雜離子在所述柵極內(nèi)的分凝系數(shù)。上述半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)能夠避免柵極耗盡,提高半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的性能。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)
現(xiàn)有技術(shù)在PMOS器件中,通常對柵極進(jìn)行P型離子摻雜以調(diào)整晶體管的柵極與襯底之間的功函數(shù),從而達(dá)到調(diào)節(jié)PMOS閾值電壓的目的。為了實(shí)現(xiàn)柵極的電接觸,PMOS器件的柵極頂部會形成金屬接觸層。所述金屬接觸層通常為金屬硅化物。
在3D NAND的工藝過程中,由于大的熱預(yù)算,需要采用較為穩(wěn)定的WSi2作為柵極接觸層。PMOS器件的柵極的P型離子摻雜,通常采用B離子摻雜,然而,B在WSi2中分凝系數(shù)高,擴(kuò)散速率快,導(dǎo)致B穿越WSi2層和柵極的界面,進(jìn)入到WSi2層中并在WSi2層中聚積,引起柵極耗盡,從而造成PMOS器件的閾值電壓漂移,影響PMOS晶體管的性能,從而無法滿足高速大容量電路的需求。
如何避免柵極耗盡問題,提高半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的性能,是目前亟待解決的問題。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是,提供一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),以提高所述半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的性能。
本實(shí)用新型的技術(shù)方案提供一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),包括:襯底;位于所述襯底表面的柵極結(jié)構(gòu),所述柵極結(jié)構(gòu)包括位于襯底表面的柵介質(zhì)層和位于所述柵介質(zhì)層表面的柵極;所述柵極包括第一摻雜區(qū)域和第二摻雜區(qū)域,所述第一摻雜區(qū)域內(nèi)摻雜有第一摻雜離子,所述第二摻雜區(qū)域摻雜有第二摻雜離子,所述第二摻雜離子為P型摻雜離子,所述第一摻雜離子能夠提高所述P型摻雜離子在所述柵極內(nèi)的分凝系數(shù)。
可選的,所述第一摻雜離子包括C和Ge中的至少一種。
可選的,所述第一摻雜離子分布于所述柵極的各個(gè)位置處。
可選的,所述第二摻雜離子包括B或BF2中的至少一種。
可選的,還包括:位于所述柵極結(jié)構(gòu)兩側(cè)的襯底內(nèi)的源極和漏極。
可選的,還包括:位于所述柵極頂部表面的柵極接觸層。
可選的,所述柵極接觸層的材料包括鎢硅化物和鎳硅化物中的至少一種。
本實(shí)用新型的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),在柵極材料層中摻雜第一摻雜離子,所述第一摻雜離子能夠提高P型摻雜離子在柵極材料層中的分凝系數(shù),從而使得所述柵極材料層在進(jìn)行P型摻雜離子摻雜后,保持較高的P型摻雜離子濃度,避免柵極耗盡問題,從而提高半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的性能。
附圖說明
圖1至圖5為本實(shí)用新型的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的形成過程的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖對本實(shí)用新型提供的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)及其形成方法的具體實(shí)施方式做詳細(xì)說明。
請參考圖1,提供襯底100;在所述襯底100表面形成柵介質(zhì)材料層101和位于所述柵介質(zhì)材料層110表面的柵極材料層120。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢壘或表面勢壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢壘或表面勢壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的





