[實用新型]一種溫補衰減器老化測試夾具有效
| 申請號: | 201820586517.7 | 申請日: | 2018-04-24 |
| 公開(公告)號: | CN208109884U | 公開(公告)日: | 2018-11-16 |
| 發明(設計)人: | 朱雪婷;韓玉成;張鐸;朱威禹 | 申請(專利權)人: | 中國振華集團云科電子有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/04 | 分類號: | G01R1/04 |
| 代理公司: | 昆明合眾智信知識產權事務所 53113 | 代理人: | 張璽 |
| 地址: | 550000 貴州省貴*** | 國省代碼: | 貴州;52 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 夾具基板 彈性壓條 測試電路板 壓板 夾具 溫補衰減器 固定裝置 老化測試 輸入接口 固定柱 本實用新型 框形連接架 固定壓片 手動螺釘 輸出接口 兩端框 形連接 下層 上層 貫穿 | ||
本實用新型公開了一種溫補衰減器老化測試夾具,包括夾具基板,夾具基板上設有測試電路板,夾具基板左側位于測試電路板邊緣設有SMA輸入接口,夾具基板右側位于測試電路板邊緣相對SMA輸入接口設有SMA輸出接口,夾具基板中部設有固定裝置,固定裝置包括位于上層的壓板及位于下層的彈性壓條,壓板與彈性壓條兩端分別設有框形連接架,兩端框形連接架上分別設有手動螺釘,壓板與彈性壓條之間設有固定柱,固定柱貫穿彈性壓條并設有固定壓片。
技術領域
本實用新型涉及電子器件領域,尤其涉及一種溫補衰減器老化測試夾具。
背景技術
溫補衰減器是近幾年才逐步發展起來的新型微波無源器件,如何對該產品的性能指標及可靠性進行測試及驗證,是這一類型新產品面對的主要問題;目前實現這一類產品的測試主要是將溫補衰減器焊裝在電路板上進行測試,導致焊裝后的溫補衰減器報廢不能實現發貨,這種測試方法的缺點是不能實現產品的無損測試。
實用新型內容
本實用新型的目的在于,克服現有技術的上述缺陷,提供一種溫補衰減器老化測試夾具。
為實現上述目的,本實用新型提供的技術方案如下:一種溫補衰減器老化測試夾具,包括夾具基板,夾具基板上設有測試電路板,夾具基板左側位于測試電路板邊緣設有SMA輸入接口,夾具基板右側位于測試電路板邊緣相對SMA輸入接口設有SMA輸出接口,夾具基板中部設有固定裝置,固定裝置包括位于上層的壓板及位于下層的彈性壓條,壓板與彈性壓條兩端分別設有框形連接架,兩端框形連接架上分別設有手動螺釘,壓板與彈性壓條之間設有固定柱,固定柱貫穿彈性壓條并設有固定壓片。
進一步的,固定壓片底部設有測試載片。
進一步的,SMA輸入接口數量為4個,SMA輸出接口數量與SMA輸入接口數量相互對應。
進一步的,固定柱數量分別與SMA輸入接口及SMA輸出接口數量相互對應。
更進一步的,溫補衰減器老化測試夾具工作溫度為-55℃-150℃。
更進一步的,溫補衰減器射頻范圍為DC~26.5GHz。
本實用新型的有益之處是:結構簡單,使用方便,能實現同時對四顆溫補衰減器施加功率老化后并進行無損測試,從而解決溫補衰減器老化試驗的測試問題,值得廣泛推廣。
附圖說明
圖1是本實用新型一種溫補衰減器老化測試夾具的立體示意圖。
具體實施方式
下面結合附圖及較佳實施例就本實用新型的技術方案作進一步的說明。
如圖1所示,本實用新型所述的一種溫補衰減器老化測試夾具,包括夾具基板1,夾具基板1上設有測試電路板2,夾具基板1左側位于測試電路板2左側邊緣設有SMA輸入接口3,夾具基板1右側位于測試電路板3右側邊緣相對SMA輸入接口3設有SMA輸出接口4,夾具基板1中部設有固定裝置,固定裝置包括位于上層的壓板5及位于下層的彈性壓條6,壓板5與彈性壓條6左端與右端分別連接設有框形連接架7,兩端框形連接架7上分別設有手動螺釘71,壓板5與彈性壓條6之間設有固定柱8,固定柱8貫穿彈性壓條6并在其端部設有固定壓片9。
進一步的,固定壓片9底部設有測試載片91。
進一步的,SMA輸入接口3數量為4個,SMA輸出接口4數量與SMA輸入接口數量相互對應。
進一步的,固定柱8數量分別與SMA輸入接口3及SMA輸出接口4數量相互對應。
更進一步的,溫補衰減器老化測試夾具工作溫度為-55℃-150℃。
更進一步的,溫補衰減器射頻范圍為DC~26.5GHz。
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