[實用新型]硅片檢測裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201820479915.9 | 申請日: | 2018-03-30 |
| 公開(公告)號: | CN208127148U | 公開(公告)日: | 2018-11-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陳進進;王宏波;喬勇;謝賢清 | 申請(專利權(quán))人: | 蘇州阿特斯陽光電力科技有限公司;阿特斯陽光電力集團有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/66 | 分類號: | H01L21/66;H01L31/18 |
| 代理公司: | 蘇州威世朋知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32235 | 代理人: | 秦蕾 |
| 地址: | 215000 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 硅片 抵壓桿 檢測裝置 本實用新型 傳送帶 驅(qū)動源 傳送 上下移動 向下移動 有效檢測 電池片 碎片率 抵壓 制程 剔除 | ||
本實用新型提供了一種硅片檢測裝置,包括用以傳送硅片的傳送帶、位于所述傳送帶上方的抵壓桿及用以驅(qū)使所述抵壓桿上下移動的驅(qū)動源,所述驅(qū)動源驅(qū)使所述抵壓桿向下移動并抵壓傳送至所述抵壓桿下方的硅片。本實用新型硅片檢測裝置能夠?qū)杵M行有效檢測,剔除不良硅片,降低后續(xù)電池片制程的碎片率;結(jié)構(gòu)簡潔,易于實現(xiàn)。
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及太陽能電池制造技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種硅片檢測裝置。
背景技術(shù)
晶硅太陽能電池所采用單晶、多晶硅片在切割制備過程中不可避免會產(chǎn)生部分不良品。因此,電池廠商需對硅片進行檢測,避免存有缺陷的硅片流入產(chǎn)線,導(dǎo)致機臺碎片宕機,影響產(chǎn)能,且需耗費人力清理機臺內(nèi)部碎片。特別地,硅片的隱裂指的是硅片表面未穿透且不可見的裂紋,前述隱裂的硅片后續(xù)制程中會產(chǎn)生碎裂,影響正常生產(chǎn)。目前,針對硅片的隱裂,業(yè)內(nèi)大多通過ATM/EL(電致發(fā)光,Electroluminescent)方法對硅片進行抽檢,設(shè)備投入成本較高,難以實現(xiàn)全面檢測,未能抽檢到的隱裂的硅片仍會流入產(chǎn)線。
鑒于此,有必要提供一種新的硅片檢測裝置。
實用新型內(nèi)容
本實用新型的目的在于提供一種硅片檢測裝置,能夠有效檢出不良硅片,降低后續(xù)電池片制程的碎片率;結(jié)構(gòu)簡潔,易于實現(xiàn)。
為實現(xiàn)上述實用新型目的,本實用新型提供了一種硅片檢測裝置,包括用以傳送硅片的傳送帶、位于所述傳送帶上方的抵壓桿及用以驅(qū)使所述抵壓桿上下移動的驅(qū)動源,所述驅(qū)動源驅(qū)使所述抵壓桿向下移動并抵壓傳送至所述抵壓桿下方的硅片,實現(xiàn)對該硅片的檢測。
作為本實用新型的進一步改進,所述抵壓桿的數(shù)量n≥2,所述抵壓桿具有用以與硅片接觸的觸頭,且n個抵壓桿的觸頭高度相等。
作為本實用新型的進一步改進,所述觸頭為柔性觸頭。
作為本實用新型的進一步改進,所述抵壓桿之間的間距可調(diào)。
作為本實用新型的進一步改進,所述硅片檢測裝置還包括設(shè)置于所述驅(qū)動源與抵壓桿之間的傳動架,所述傳動架開設(shè)有用以安裝所述抵壓桿的安裝孔。
作為本實用新型的進一步改進,所述抵壓桿穿設(shè)于所述安裝孔且所述抵壓桿的至少部分區(qū)域設(shè)有外螺紋,所述安裝孔設(shè)有與所述外螺紋相適配的內(nèi)螺紋。
作為本實用新型的進一步改進,所述硅片檢測裝置還包括固定設(shè)置于所述安裝孔處并用以調(diào)節(jié)所述抵壓桿的高度的調(diào)節(jié)螺母,所述調(diào)節(jié)螺母具有與所述外螺紋相適配的內(nèi)螺紋。
作為本實用新型的進一步改進,所述傳動架呈條狀且所述傳動架沿所述傳送帶的寬度方向設(shè)置。
作為本實用新型的進一步改進,在所述傳送帶的寬度方向上,所述抵壓桿的下端與所述傳送帶錯位設(shè)置。
作為本實用新型的進一步改進,所述硅片檢測裝置還包括用以感測硅片的傳感器,當所述傳感器感測到硅片傳送至所述抵壓桿下方時,所述驅(qū)動源驅(qū)使所述抵壓桿對該硅片進行檢測。
本實用新型實施例的有益效果包括:采用本實用新型硅片檢測裝置,硅片沿所述傳送帶傳送至所述抵壓桿的下方時,驅(qū)動源驅(qū)使抵壓桿對硅片進行逐一檢測,正常硅片會在抵壓桿抬升后沿傳送帶繼續(xù)傳送,存有結(jié)構(gòu)缺陷的硅片會在抵壓桿的抵壓作用下發(fā)生碎裂并自所述傳送帶掉落,有效避免不良硅片流入后續(xù)制程;且該硅片檢測裝置結(jié)構(gòu)簡潔,易于實現(xiàn)。
附圖說明
圖1是本實用新型硅片檢測裝置的部分結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2是圖1中硅片檢測裝置的工作狀態(tài)示意圖;
圖3是本實用新型硅片檢測裝置傳動架的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





