[實用新型]一種芯片測試座有效
| 申請號： | 201820353023.4 | 申請日： | 2018-03-15 |
| 公開（公告）號： | CN208782077U | 公開（公告）日： | 2019-04-23 |
| 發明（設計）人： | 王鶴立 | 申請（專利權）人： | 深圳市鴻義通儀測有限公司 |
| 主分類號： | H01R13/02 | 分類號： | H01R13/02;H01R13/518 |
| 代理公司： | 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205 | 代理人： | 唐致明 |
| 地址： | 518109 廣東省深圳市*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 連接器 底座 彈性部件 芯片測試座 頂蓋 插孔 本實用新型 匹配 芯片 上下方向移動 可上下移動 測試誤差 芯片測試 芯片容納 測試座 內圓弧 壓合 阻抗 | ||
1.一種芯片測試座，其特征在于：其包括底座和頂蓋，所述底座和所述頂蓋固定連接，所述頂蓋上設有芯片容納槽，
所述底座上設置有第一凹槽、第二凹槽以及若干插孔，所述插孔內設置有S型連接器，所述的S型連接器在所述插孔內可沿底座上下方向移動，
所述第一凹槽內設置有與其相匹配第一彈性部件，所述第二凹槽內設置有與其相匹配第二彈性部件，所述第一彈性部件和所述第二彈性部件分別與所述S型連接器的兩個內圓弧連接；
所述S型連接器包括片狀導體，其形狀為S型，其一端設置有芯片接觸部，另一端設置有
PCB接觸部。
2.根據權利要求1所述的芯片測試座，其特征在于：所述第一彈性部件與所述第二彈性部件位置不平行。
3.根據權利要求2所述的芯片測試座，其特征在于：第一彈性部件與所述第二彈性部件位置均為彈性膠條。
4.根據權利要求3所述的芯片測試座，其特征在于：所述第一凹槽與第二凹槽均為圓形凹槽，所述第一彈性部件與所述第二彈性部件位置均為圓柱體膠條，所述第一凹槽的內徑小于第一彈性部件的直徑，所述第二凹槽的內徑小于第二彈性部件的直徑。
5.根據權利要求1至4任一項所述的芯片測試座，其特征在于：所述底座設有若干定位銷，所述頂蓋上設置有與所述若干定位稍一一對應的通孔。
6.根據權利要求5所述的芯片測試座，其特征在于：所述芯片容納槽的其中一組對邊上分別設有缺口。
7.根據權利要求6所述的芯片測試座，其特征在于：所述底座上設有若干銅螺母。
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