[實用新型]一種立體結構芯片的測試插座有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201820288832.1 | 申請日： | 2018-03-01 |
| 公開（公告）號： | CN208076563U | 公開（公告）日： | 2018-11-09 |
| 發(fā)明（設計）人： | 賀濤;王傳剛;侯燕兵;甘貞龍 | 申請（專利權）人： | 法特迪精密科技（蘇州)有限公司 |
| 主分類號： | G01R1/04 | 分類號： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 無錫市匯誠永信專利代理事務所(普通合伙) 32260 | 代理人： | 張歡勇 |
| 地址： | 215000 江蘇省蘇州*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 芯片 下槽 轉接 測試座 測試 上槽 測試電路板 立體結構 測試針 主測試 電路板 本實用新型 轉接測試座 測試插座 芯片容納 測試穩(wěn)定性 電路板連接 定位準確 使用壽命 卡接 相配 | ||
1.一種立體結構芯片的測試插座，包括測試座和測試蓋，所述測試蓋設置于測試座上方，所述測試蓋與測試座卡接；其特征在于：所述測試座上設置芯片下槽；
所述測試蓋包括轉接測試座，所述轉接測試座上設置與芯片下槽相配的芯片上槽，芯片下槽與芯片上槽扣合形成芯片容納槽；在芯片下槽下方設置主測試電路板，第一測試針從芯片下槽內向下與主測試電路板連接；
所述芯片上槽上方設有轉接測試電路板；第二測試針從芯片上槽向上與轉接測試電路板連接；所述主測試電路板與轉接測試電路板之間通過轉接測試針連接。
2.根據(jù)權利要求1所述的立體結構芯片的測試插座，其特征在于：所述轉接測試針設置在轉接測試臺內，所述轉接測試臺位于芯片容納槽外。
3.根據(jù)權利要求2所述的立體結構芯片的測試插座，其特征在于：所述測試座上設置螺旋頂桿，所述螺旋頂桿的頂端與芯片相抵。
4.根據(jù)權利要求3所述的立體結構芯片的測試插座，其特征在于：所述轉接測試座端設有手動旋鈕，所述手動旋鈕為旋轉體，且所述旋轉體的內芯與所述轉接測試座相抵，用于對所述轉接測試座進行擠壓，使得卡塊卡入第一卡槽內。
5.根據(jù)權利要求4所述的立體結構芯片的測試插座，其特征在于：所述測試座和測試蓋通過卡勾結構卡接；所述卡勾結構包括卡勾、銷釘和復位彈簧，所述卡勾通過銷釘與測試蓋相連，測試座上設置有與卡勾相配合的第二卡槽。
6.根據(jù)權利要求5所述的立體結構芯片的測試插座，其特征在于：所述測試座上設置多個限位孔，在測試蓋上對應限位孔設置有限位凸起。
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