[實用新型]一種多功能射頻診斷電路測試系統

有效

• 申請號: 201820237186.6
• 申請日: 2018-02-10
• 公開（公告）號: CN207764352U
• 公開（公告）日: 2018-08-24
• 發明（設計）人: 何超
• 申請（專利權）人: 廣東圣大電子有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/067
• 代理公司: 北京中濟緯天專利代理有限公司 11429
• 代理人: 孔凡亮

本實用新型公開了一種多功能射頻診斷電路測試系統，包括支撐待測射頻電路模塊的基座和用于從待測射頻電路模塊獲取檢測信號的探針；在所述的基座上安裝有衍架，所述的衍架橫跨在待測射頻電路模塊上方，安裝在所述的衍架上的懸臂架，在所述的懸臂架末端設置有固定探針的探針架。本實用新型設計了一種通用性較高的電路板測試系統，同一款設備能夠測試多款電路板，不僅能夠實現直流電饋電還能夠實現射頻信號饋電，同時結構簡單、堅固耐用，能夠工作在惡劣環境下，十分適合檢測處于環境試驗下的電路故障。

技術領域

本實用新型涉及射頻電路測試領域，特別涉及一種多功能可調節不可觸射頻電路診斷測試系統。

背景技術

在射頻系統測試中，例如雷達或衛星通信等模塊在測試時不僅需要加直流電源，還需要注入射頻信號才能檢測系統性能。在射頻單電路板測試中，由于脫離系統，常不具有標準的射頻接口(例如SMA、MCX等)，其射頻性能不易測試，因而單板的射頻性能測試一直是業界難點。現有技術采用根據待測電路板定制的測試系統，使用多探針饋電同時輸入信號并且檢測輸出信號。

其次，軍用或宇航級射頻模塊要求在惡劣環境中(例如高低溫、濕熱、鹽霧以及低氣壓等條件)仍能夠正常工作，常出現模塊在環境試驗過程中出現故障，但故障在常環境下(常溫常壓)無法復現，這對模塊的故障檢測和定位帶來極大的挑戰。由于處于高低溫或其他環境試驗現場的模塊對于檢測人員來說處于不可觸狀態，無法用常規手段診斷和檢測故障發生點，無法及時采取解決措施。因此迫切需求一只能在不可觸環境下檢測電路內部各可疑點的測試設備。目前業界無此類檢測設備。

業界對產品偶發故障仍無良好的解決方案，偶發故障定義為產品在很長一段時間(例如一個小時)發生短時(幾秒鐘)或瞬間故障，由于故障出現時間短，情形隨機，因此很難診斷故障發生的原因。

現有技術中的電路測試設備具有如下不足：

現有的電路板測試設備多設計為單板測試，專用性強，成本高，通用性差；

現有的電路板測試設備不利于射頻信號的輸入和輸出；

現有的電路板測試設備不能應用在惡劣試驗環境中；

現有的電路板測試設備不能有效的發現和定位偶發故障；

現有的射頻探針不具備可靠的地接觸，導致信號匹配不佳，測試誤差大。

導致這些不足的原因如下：

現有的電路板測試設備多為某一待測電路板專門定制，通用性差，成本高；

現有的電路板測試設備對于射頻的饋電技術仍不成熟，由于射頻饋電需要信號線與地線同時與待測電路接觸，且需要保證良好匹配，現有的技術無法簡單可靠的實現，能夠精密實現射頻饋電的測試系統十分精密，成本極高；

當前業界常規的電路故障檢測系統均使用在常溫常壓，如果需要檢測惡劣環境下的電路故障，需將故障檢測系統與待測模塊一同進行環境試驗，由于故障檢測系統十分精密且貴重，處于惡劣試驗環境下可能會造成自身的損壞，這時由于故障檢測系統自身帶來的測試誤差或測試錯誤將干擾待測模塊的故障診斷。

發現和定位偶發故障需要長時間的測試和記錄，需配備無人值守的自動化測試系統，目前業界沒有射頻測試類的相關產品。

現有的射頻探針一般只有同軸線芯有彈性，同軸線屏蔽接觸地無彈性或者接觸地不與待測電路接觸。

實用新型內容

針對現存技術的上述不足，本實用新型提供一種多功能可調節不可觸射頻電路診斷測試系統。