[實用新型]一種圖像芯片自動對光心測試插座

有效

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• 申請日: 2018-02-02
• 公開（公告）號: CN207742302U
• 公開（公告）日: 2018-08-17
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 金英杰
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市世坤科技實業(yè)有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型公開了一種圖像芯片自動對光心測試插座，包括燈箱、芯片測試座、芯片定位夾自動控制鍵、測試系統(tǒng)工作臺，所述燈箱與轉(zhuǎn)接模塊的并列放置，且燈箱的下方設(shè)置有鏡頭座法蘭，所述鏡頭座法蘭的下方設(shè)置有圖像成像芯片，所述芯片測試座設(shè)置于插座定位基座的內(nèi)側(cè)，且插座定位基座的下方設(shè)置有測試轉(zhuǎn)接板，所述芯片定位夾自動控制鍵設(shè)置于插座定位基座的外側(cè)，所述測試系統(tǒng)工作臺設(shè)置于插座加熱模塊的下方。該圖像芯片自動對光心測試插座設(shè)置有插座定位基座，遮光密封圈與插座定位基座，鏡頭座法蘭構(gòu)成密閉空間，只讓成像光線從光學鏡頭進入芯片測試座上的圖像成像芯片；遮蔽由其他位置進入的光線，排除漏光干擾，密封遮光。

技術(shù)領(lǐng)域

本實用新型涉及圖像芯片技術(shù)領(lǐng)域，具體為一種圖像芯片自動對光心測試插座。

背景技術(shù)

圖像芯片在生產(chǎn)制造工程中，都必須進行成像測試，以檢測圖像芯片成像的感光區(qū)域中數(shù)以萬計的各個像素點是否合格，所有像素點測試合格，為無瑕疵產(chǎn)品，目前圖像芯片無損傷快速裝夾的自動測試插座，由于各個部件加工過程中存在著加工誤差，預留的無損傷、快速裝夾被測圖像芯片的定位間隙；這些客觀存在的各個誤差，通過累計帶來了較大的位置誤差。測試插座的位置誤差，使得成像透鏡的光軸與成像芯片的感光中心點不重疊，成像位置出現(xiàn)偏移，最終導致芯片感光區(qū)域出現(xiàn)不能見到圖像的局部區(qū)域，對于這一局部區(qū)域內(nèi)的芯片感光像素點無法進行測試，即對整個芯片的質(zhì)量不能準確測量。

實用新型內(nèi)容

本實用新型的目的在于提供一種圖像芯片自動對光心測試插座，以解決上述背景技術(shù)提出的目前市場上的芯片感光區(qū)域出現(xiàn)不能見到圖像的局部區(qū)域，對于這一局部區(qū)域內(nèi)的芯片感光像素點無法進行測試，即對整個芯片的質(zhì)量不能準確測量的問題。

為實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供如下技術(shù)方案：一種圖像芯片自動對光心測試插座，包括燈箱、芯片測試座、芯片定位夾自動控制鍵、測試系統(tǒng)工作臺，所述燈箱與轉(zhuǎn)接模塊并列放置，且燈箱的下方設(shè)置有鏡頭座法蘭，所述鏡頭座法蘭的下方設(shè)置有圖像成像芯片，所述芯片測試座設(shè)置于插座定位基座的內(nèi)側(cè)，且插座定位基座的下方設(shè)置有測試轉(zhuǎn)接板，所述測試轉(zhuǎn)接板的下方設(shè)置有插座加熱模塊，所述芯片定位夾自動控制鍵設(shè)置于插座定位基座的外側(cè)，所述測試系統(tǒng)工作臺設(shè)置于插座加熱模塊的下方。

優(yōu)選的，所述轉(zhuǎn)接模塊包括轉(zhuǎn)接探針和轉(zhuǎn)接針模。

優(yōu)選的，所述鏡頭座法蘭包括Y向調(diào)整螺絲、x向調(diào)整螺絲、+θ角度調(diào)整螺絲、-θ角度調(diào)整螺絲、Y向壓力滑塊II、X向壓力滑塊、鏡頭座、Y向壓力滑塊I、Y向壓力彈簧、光學鏡頭、X向壓力滑塊I和X向壓力彈簧。

優(yōu)選的，所述Y向調(diào)整螺絲包括Y向調(diào)整滑塊I和Y向調(diào)整滑塊II。

優(yōu)選的，所述芯片測試座包括芯片定位浮板、芯片定位夾、測試針模A、測試探針和測試針模B。

優(yōu)選的，所述插座定位基座包括遮光密封圈。

優(yōu)選的，所述測試轉(zhuǎn)接板包括轉(zhuǎn)接針模連接焊盤和芯片連接焊盤。

優(yōu)選的，所述芯片定位夾自動控制鍵包括芯片定位夾控制按鍵、芯片定位夾側(cè)推桿A和芯片定位夾側(cè)推桿B。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型的有益效果是：該圖像芯片自動對光心測試插座：

1.設(shè)置有鏡頭座法蘭，通過調(diào)整鏡頭座法蘭上每個鏡頭座對應(yīng)的Y向調(diào)整螺絲，x向調(diào)整螺絲，使鏡頭座法蘭上每個鏡頭座所裝配的光學鏡頭的光軸與已被芯片定位夾夾緊的被圖像成像芯片的感光中心重疊，這就排除了測試系統(tǒng)壓力機構(gòu)壓下鏡頭座法蘭時，整個運動、裝夾機構(gòu)導致的光學鏡頭的光軸與已被芯片定位夾夾緊的被測圖像成像芯片的感光中心的位置誤差，使光學鏡頭的光軸對準成像芯片感光區(qū)域中心點，通過調(diào)整鏡頭座法蘭上每個鏡頭座對應(yīng)的+θ角度調(diào)整螺絲，-θ角度調(diào)整螺絲，使鏡頭座法蘭上每個鏡頭座所裝配的光學鏡頭的成像的矩形邊沿與已被芯片定位夾夾緊的被測芯片的感光區(qū)域的矩形邊沿平行，使調(diào)整光學鏡頭成像與成像芯片感光區(qū)域面無夾角；