[實(shí)用新型]一種半導(dǎo)體元器件檢測(cè)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201820171247.3 | 申請(qǐng)日: | 2018-01-31 |
| 公開(公告)號(hào): | CN207764344U | 公開(公告)日: | 2018-08-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉德猛 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 蘇州本之智能系統(tǒng)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/26 | 分類號(hào): | G01R31/26 |
| 代理公司: | 廣州市紅荔專利代理有限公司 44214 | 代理人: | 關(guān)家強(qiáng) |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇州*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 傳送機(jī)構(gòu) 取件機(jī)構(gòu) 固定架 氣缸 底座 半導(dǎo)體元器件 本實(shí)用新型 滑動(dòng)設(shè)置 檢測(cè)裝置 吸頭 相機(jī) 測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域 人力成本 上下移動(dòng) 支架固定 載盤 支架 驅(qū)動(dòng) 檢測(cè) | ||
1.一種半導(dǎo)體元器件檢測(cè)裝置,其特征在于,包括:底座、支架、X向移動(dòng)機(jī)構(gòu)、Y向移動(dòng)機(jī)構(gòu)、相機(jī)、傳送機(jī)構(gòu)、載盤和取件機(jī)構(gòu),所述X向移動(dòng)機(jī)構(gòu)通過支架固定于底座上,所述Y向移動(dòng)機(jī)構(gòu)滑動(dòng)設(shè)置于X向移動(dòng)該機(jī)構(gòu)上,所述相機(jī)通過固定架滑動(dòng)設(shè)置于Y向移動(dòng)機(jī)構(gòu)上,所述傳送機(jī)構(gòu)設(shè)置于底座上,所述載盤放置于傳送機(jī)構(gòu)上,所述取件機(jī)構(gòu)設(shè)置于固定架上;
所述取件機(jī)構(gòu)包括第一氣缸和吸頭,所述第一氣缸設(shè)置于固定架上,所述吸頭在第一氣缸的驅(qū)動(dòng)下上下移動(dòng)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種半導(dǎo)體元器件檢測(cè)裝置,其特征在于,所述傳送機(jī)構(gòu)由平行設(shè)置于的左右兩個(gè)傳送單元構(gòu)成,所述傳送單元包括固定座和設(shè)置于固定座上的第一驅(qū)動(dòng)設(shè)備、滑輪組和傳送帶,所述固定座設(shè)置于底座上,其中一個(gè)所述傳送單元的傳送帶外側(cè)設(shè)有由第二氣缸驅(qū)動(dòng)的夾板,所述夾板的L向邊沿位于傳送帶上方,且與所述夾板相對(duì)應(yīng)的另一側(cè)傳送帶上設(shè)有壓板。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種半導(dǎo)體元器件檢測(cè)裝置,其特征在于,所述兩側(cè)傳送帶上除夾板處均設(shè)有壓板。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種半導(dǎo)體元器件檢測(cè)裝置,其特征在于,其中一所述傳送單元設(shè)置于底座上的滑軌上,所述滑軌延伸方向垂直于傳送帶移動(dòng)方向,所述傳送單元在第二驅(qū)動(dòng)設(shè)備的驅(qū)動(dòng)下可沿滑軌移動(dòng)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種半導(dǎo)體元器件檢測(cè)裝置,其特征在于,所述載盤底部設(shè)有滑塊。
6.根據(jù)權(quán)利要求2-5中任一項(xiàng)所述的一種半導(dǎo)體元器件檢測(cè)裝置,其特征在于,所述夾板外側(cè)設(shè)有固定于固定座上的限位塊,所述傳送機(jī)構(gòu)側(cè)設(shè)有固定于底座上的收集箱。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種半導(dǎo)體元器件檢測(cè)裝置,其特征在于,所述傳送機(jī)構(gòu)上設(shè)有到位傳感器。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種半導(dǎo)體元器件檢測(cè)裝置,其特征在于,所述相機(jī)鏡頭下方設(shè)有環(huán)形照明燈所述照明燈固定于固定架上。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種半導(dǎo)體元器件檢測(cè)裝置,其特征在于,所述固定架上設(shè)有用于調(diào)節(jié)相機(jī)高度的調(diào)節(jié)件。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種半導(dǎo)體元器件檢測(cè)裝置,其特征在于,所述半導(dǎo)體元器件檢測(cè)裝置外罩設(shè)有防護(hù)罩,且所述防護(hù)罩外設(shè)有計(jì)算機(jī)和報(bào)警設(shè)備。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試





