[實用新型]一種半導體二極管檢驗測試裝置

有效

• 申請號: 201820168296.1
• 申請日: 2018-01-31
• 公開（公告）號: CN207742294U
• 公開（公告）日: 2018-08-17
• 發明（設計）人: 于林;楊宏民;趙衛華;馬博洋
• 申請（專利權）人: 河南臺冠電子科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 鄭州萬創知識產權代理有限公司 41135
• 代理人: 李伊寧

1.一種半導體二極管檢驗測試裝置，其特征在于：包括殼體和夾持機構，殼體上端面沿左右方向的中部設置有二極管插槽，二極管插槽左右兩端對稱設置有第一凹槽和第二凹槽，殼體內部上端面左右兩側分別設置有第一固定塊和第二固定塊，第一固定塊內沿水平方向均設置有第一滑槽，第二固定塊內沿水平方向均設置有第二滑槽，殼體內設置有插座，第一固定塊和第二固定塊設置在插座上端面左右兩側，插座上設置有與二極管引線相對應的插孔，插座下端設置有導電板，導電板下端連接有導線，夾持機構包括左夾持機構和右夾持機構，左夾持機構包括第一固定板、第一夾持桿和第一夾持塊，第一固定板設置在第一凹槽后方，第一夾持桿設置在第一凹槽內，第一夾持桿中部與第一固定板鉸接，第一夾持桿下端與第一夾持塊鉸接，第一夾持塊水平設置在第一滑槽內且與第一滑槽滑動連接，右夾持機構包括第二固定板、第二夾持桿和第二夾持塊，第二固定板設置在第二凹槽后方，第二夾持桿設置在第二凹槽內，第二夾持桿中部與第二固定板鉸接，第二夾持桿下端與第二夾持塊鉸接，第二夾持塊水平設置在第二滑槽內且與第二滑槽滑動連接。

2.根據權利要求1所述的一種半導體二極管檢驗測試裝置，其特征在于：所述的第一夾持桿右端面下部設置有第一拉伸彈簧，第一拉伸彈簧一端與第一夾持桿連接，第一拉伸彈簧另一端與殼體上端面連接。

3.根據權利要求1所述的一種半導體二極管檢驗測試裝置，其特征在于：所述的第二夾持桿左端面下部設置有第二拉伸彈簧，第二拉伸彈簧一端與第二夾持桿連接，第二拉伸彈簧另一端與殼體上端面連接。

4.根據權利要求1所述的一種半導體二極管檢驗測試裝置，其特征在于：所述的第一夾持塊右方設置有第一緩沖塊，第一夾持塊和第一緩沖塊之間設置有第一壓縮彈簧。

5.根據權利要求1所述的一種半導體二極管檢驗測試裝置，其特征在于：所述的第二夾持塊左方設置有第二緩沖塊，第二夾持塊和第二緩沖塊之間設置有第二壓縮彈簧。

6.根據權利要求1所述的一種半導體二極管檢驗測試裝置，其特征在于：所述的導線外側套設有橡膠套管。