[實用新型]一種光纖宏彎損耗測試工裝

有效

• 申請號: 201820152170.5
• 申請日: 2018-01-29
• 公開（公告）號: CN207937145U
• 公開（公告）日: 2018-10-02
• 發明（設計）人: 柴雪峰;耿培恒;曹珊珊;劉志忠;王震;徐海濤
• 申請（專利權）人: 中天科技光纖有限公司;江東科技有限公司;江蘇中天科技股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 北京市萬慧達律師事務所 11111
• 代理人: 張慧娟

本實用新型公開了一種光纖宏彎損耗測試工裝，屬于光纖測試領域。所述光纖宏彎損耗測試工裝，包括多個測試組件，所述多個測試組件的每個包括傳動機構、光纖繞柱，所述多個測試組件中的多個光纖繞柱具有不同的直徑，所述傳動機構用于帶動所述光纖繞柱移動。本實用新型實現了對光纖持續進行不同彎曲半徑的宏彎損耗測試，并且結構簡單，操作方便，效率高，可廣泛應用于光纖測試領域。

技術領域

本實用新型涉及光纖測試領域，特別涉及一種光纖宏彎損耗測試工裝。

背景技術

光纖的彎曲會導致光纖的衰減增加，影響光纖的傳輸性能。G.657光纖是一種彎曲損耗不敏感光纖，由于其優異的抗彎曲性能，被大量的應用在FTTH中。隨著近年來FTTH的加速發展，市場對G.657光纖的需求量也不斷的增加，因此，對于光纖廠商來說，提升G.657光纖產量，迅速精確的測試其宏彎損耗，就尤為重要。

根據ITU-T相關標準，G.657光纖需保證在15mm、10mm、7.5mm等不同彎曲半徑的情況下的附加衰減，因此，光纖出廠之前，需進行不同彎曲半徑下的附加衰減的測試，即宏彎損耗的測試。

由于測試光纖宏彎損耗時，光纖的兩端需分別與光功率計的收、發端耦合固定，目前公開的專利文獻中各種關于光纖宏彎損耗測試工裝的信息，均無法實現連續測試不同彎曲半徑的宏彎損耗。如專利CN20424118U(一種光纖的宏彎損耗測試工裝)，可以在光纖單端固定的情況下進行繞纖，當測試完一種彎曲半徑的宏彎損耗后，光纖雙端固定，則無法繼續在此種情況下將光纖取下并纏繞至另一彎曲半徑的圓柱上；又如專利申請CN106956960A(用于光纖宏彎損耗測試的繞纖裝置)，其中用于纏繞光纖的光纖圈筒只存在一種圈徑，在測試光纖宏彎損耗過程中，需頻繁的更換光纖圈筒，以測試不同彎曲半徑的宏彎損耗。

實用新型內容

為了解決現有技術的問題，本實用新型實施例提供了一種光纖宏彎損耗測試工裝。所述技術方案如下：

提供了一種光纖宏彎損耗測試工裝，包括多個測試組件，所述多個測試組件的每個包括傳動機構、光纖繞柱，所述多個測試組件中的多個光纖繞柱具有不同的直徑，所述傳動機構用于帶動所述光纖繞柱移動。

優選地，所述多個測試組件的每個還包括限位裝置，所述限位裝置用于限定所述光纖繞柱的位置。

優選地，所述傳動機構包括主動輪、與所述主動輪連接的轉動手柄、從動輪、傳送帶以及設于所述傳送帶環形包圍腔內、與所述傳送帶平行排列的擋板，所述傳送帶與所述擋板之間安置所述光纖繞柱的繞柱底座，所述繞柱底座的外表面與所述傳送帶嚙合，所述繞柱底座位于所述光纖繞柱的底部；所述限位裝置為限位塊，所述限位塊位于遠離所述光纖繞柱的一端。

優選地，所述多個測試組件的多個傳送帶平行排列。

優選地，所述光纖繞柱上設有多段螺紋。

優選地，所述光纖繞柱頂部設有夾緊裝置，用于固定所述光纖繞柱上纏繞的光纖，所述夾緊裝置包括夾緊塊。

優選地，所述測試工裝還包括箱體，所述箱體具有一底座，在所述箱體表面開設有多個U型槽，用于安置所述多個光纖繞柱。

本實用新型實施例提供的技術方案帶來的有益效果是：

本實用新型實施例提供的光纖宏彎損耗測試工裝，在整個測試過程中，不需要將光纖從光功率計耦合端拆下，也不需要更換工裝的光纖繞柱，實現了光纖不同半徑宏彎損耗的連續測試，并且排線平整，無疊壓。并且在設置了限位裝置的情況下，不需要人工數圈，提高纏繞光纖的速率，也可以避免人工數圈錯誤而造成測試數據不準確問題。因此，與現有測試工裝相比，本實用新型實施例提供的光纖宏彎損耗測試工裝不僅實現了對光纖持續進行光纖不同彎曲半徑的宏彎損耗測試，并且結構簡單，操作方便，整體測試效率得到了提高。

附圖說明