[實用新型]一種天線射頻及阻抗測試治具

有效

• 申請號: 201820109414.1
• 申請日: 2018-01-23
• 公開（公告）號: CN207908587U
• 公開（公告）日: 2018-09-25
• 發明（設計）人: 李瑞靜;應遠超;孫智勇
• 申請（專利權）人: 深圳市信維通信股份有限公司
• 主分類號: G01R29/10
• 分類號: G01R29/10;G01R27/02
• 代理公司: 深圳市博銳專利事務所 44275
• 代理人: 張明

一種天線射頻及阻抗測試治具，包括固定機構和檢測機構；固定機構包括第一固定件和第二固定件，第一固定件上設有第一固定槽，第二固定件上設有第二固定槽，第一固定槽與第二固定槽連通，第一固定槽用于放置待測連接線，第二固定槽用于放置待測天線；檢測機構包括第一檢測組件和第二檢測組件，第一檢測組件用于對天線進行射頻測試，第二檢測件用于檢測天線的阻抗值。所述天線射頻及阻抗測試治具設置了分別進行射頻測試的第一檢測組件和進行阻抗設置的第二檢測組件，實現了射頻(RF)和阻抗測試整合的概念，降低了生產成本。

技術領域

本實用新型涉及天線測試技術領域，特別涉及一種天線射頻及阻抗測試治具。

背景技術

隨著射頻技術的提高，手機天線的制作工藝也升級為FPC、LDS與cable焊接或是FPC、LDS與SMT合成一體等。在新的工藝中，天線與連接線(cable)焊接端的阻抗大小對于天線的整機功能影響較大，與傳統的天線相比，生產端的阻抗測試將會越來越多，所需的成本也越來越高。現在射頻(Radio Frequency)測試與阻抗測試也已成為天線廠的必備測試，當前的天線廠的天線測試方案基本上都是使用兩套治具，分別進行RF測試與阻抗測試，因此需要兩個作業員作業，從設備到人力的成本都較高，生產時間也長。

實用新型內容

本實用新型所要解決的技術問題是：提供一種能同時完成射頻及阻抗測試的天線射頻及阻抗測試治具。

為了解決上述技術問題，本實用新型采用的技術方案為：

一種天線射頻及阻抗測試治具，包括固定機構和檢測機構；

所述固定機構包括第一固定件和第二固定件，所述第一固定件上設有第一固定槽，所述第二固定件上設有第二固定槽，所述第一固定槽與第二固定槽連通，所述第一固定槽用于放置待測連接線，所述第二固定槽用于放置待測天線；

所述檢測機構包括第一檢測組件和第二檢測組件，所述第一檢測組件用于對天線進行射頻測試，所述第二檢測件用于檢測天線的阻抗值。

進一步的，所述第一固定件和第二固定件分別為長方體結構，所述第一固定件的上表面與第二固定件的上表面平齊，所述第一固定件與第二固定件垂直設置；

所述第一固定槽設于第一固定件的上表面，所述第一固定槽沿第一固定件的長邊方向延伸并貫穿第一固定件的兩端，所述第二固定槽設于第二固定件的上表面并沿第二固定件的長邊方向延伸。

進一步的，所述第二固定件的數目為四個，四個的所述第二固定件沿第一固定件的長邊分布，四個的所述第二固定件分別設于第一固定件的兩側。

進一步的，所述第一檢測組件包括支撐架和端子頭，所述支撐架包括支撐平臺和支撐柱；

所述支撐平臺上設有貫通支撐平臺的通孔，所述通孔設于第二固定槽的中心軸線上，所述端子頭設于支撐平臺的下表面且設于通孔處；

所述第二檢測組件包括探針固定件和設于探針固定件上的探針，所述探針伸入第二固定槽內，所述探針固定件沿第一固定件的長邊朝靠近或遠離第二固定槽的方向可移動設置。

進一步的，所述支撐平臺上設有第一限位塊和第二限位塊，所述第一限位塊在水平方向上設于第二限位塊與第一固定件之間；

所述第一限位塊上設有第一限位槽，所述第一限位槽與第一固定槽同軸設置并貫穿第一限位塊的兩端；

所述第二限位塊上設有第二限位槽，所述第二限位槽連通限位塊的上表面與通孔，所述第二限位塊靠近第一限位塊的一側設有開口，所述開口連通第二限位槽。

進一步的，還包括壓緊機構，所述壓緊機構包括壓頭和至少兩個的壓塊，所述壓頭設于通孔的上方，所述壓頭與通孔同軸設置且朝靠近或遠離通孔的方向可移動設置；