[實用新型]功率模塊間歇工作壽命試驗系統

有效

• 申請號: 201820032450.2
• 申請日: 2018-01-09
• 公開（公告）號: CN207752105U
• 公開（公告）日: 2018-08-21
• 發明（設計）人: 李迪伽
• 申請（專利權）人: 深圳市振華微電子有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01R31/00
• 代理公司: 深圳市翼智博知識產權事務所(普通合伙) 44320
• 代理人: 黃莉

本實用新型實施例提供一種功率模塊間歇工作壽命試驗系統，包括至少一個用于連接待試驗功率模塊的試驗裝置和供應恒流電流的試驗電源，所述試驗裝置包括：連接模塊，以并聯方式連接至少兩個待試驗功率模塊；控制模塊，用于控制待試驗功率模塊按照預定導通順序依次循環導通及記錄待試驗功率模塊的導通次數并判斷導通次數是否達到預設的第一閾值；溫度檢測模塊，用于在待試驗功率模塊的溫度達到預設的第二閾值時發出溫度檢測信號至控制模塊；為控制模塊供電的隔離電源；用于冷卻待試驗功率模塊的冷卻模塊；各試驗裝置的連接模塊依次串聯并連接于試驗電源和接地端之間。本實用新型實施例試驗消耗的功率僅為待試驗功率模塊自身固有損耗，能耗低。

技術領域

本實用新型實施例涉及功率模塊工作壽命試驗技術領域，具體涉及一種功率模塊間歇工作壽命試驗系統。

背景技術

IGBT模塊作為一種大功率半導體功率開關器件，廣泛應用于電機變頻調速以及各種高性能電源、工業電氣自動化等領域有著廣闊的市場。通常地，半導體功率模塊在出廠前都需要進行間歇工作壽命測試，特別是對于軍用半導體功率模塊，其間歇工作壽命測試要求更為嚴格，對于軍用IGBT功率模塊的鑒定試驗，軍用規范要求抽取一定比例的半導體功率模塊進行至少10萬次的間歇工作壽命試驗。

現有的功率模塊間歇工作壽命試驗系統基本上都是采用并聯的方式來連接各待試驗的功率模塊，結構相對復雜，能耗高。而且可同時試驗的功率模塊有限，試驗效率相對較低，難以滿足大批量的試驗需求。

實用新型內容

本實用新型實施例要解決的技術問題在于，提供一種功率模塊間歇工作壽命試驗系統，能有效降低試驗能耗。

為解決上述技術問題，本實用新型實施例采用如下技術方案：一種功率模塊間歇工作壽命試驗系統，包括至少一個用于連接待試驗功率模塊的試驗裝置和為所述待試驗功率模塊提供試驗用電源的試驗電源，所述試驗裝置包括：

連接模塊，用于以并聯方式連接至少兩個待試驗功率模塊；

控制模塊，連接至所述連接模塊，用于控制所述至少兩個待試驗功率模塊按照預定導通順序依次循環導通以及記錄待試驗功率模塊的導通次數并判斷待試驗功率模塊的導通次數是否達到預設的第一閾值；

溫度檢測模塊，用于檢測導通中的待試驗功率模塊的溫度并在檢測到所述溫度達到預設的第二閾值時發出溫度檢測信號至控制模塊；

隔離電源，用于為所述控制模塊供電；以及

冷卻模塊，用于根據控制模塊依據溫度檢測信號而發出的冷卻指令信號冷卻對應的待試驗功率模塊；

各試驗裝置的連接模塊依次串聯并連接于所述試驗電源和接地端之間，所述試驗電源為所述待試驗功率模塊供應恒流電流。

進一步地，所述控制模塊包括：

單片機控制子模塊，用于記錄每個待試驗功率模塊導通次數并根據溫度檢測模塊發出的檢測信號和所述預定導通順序循環生成及輸出導通所述至少兩個待試驗功率模塊中的一個的驅動信號，還用于根據溫度檢測模塊發出的檢測信號生成及輸出冷卻指令信號；和

驅動放大子模塊，與所述單片機控制子模塊相連，用于將所述單片機控制子模塊輸出的驅動信號和冷卻指令信號放大后再分別輸出至所述驅動信號對應的待試驗功率模塊和冷卻指令信號對應的所述冷卻模塊。

進一步地，所述試驗裝置還包括與所述至少兩個待試驗功率模塊并聯的旁路功率模塊，所述單片機控制子模塊還用于在每個待試驗功率模塊導通次數達到預設的第一閾值時輸出控制所述旁路功率模塊導通的驅動信號以及冷卻所述旁路功率模塊的冷卻指令信號，所述冷卻模塊還用于根據所述冷卻所述旁路功率模塊的冷卻指令信號冷卻所述旁路功率模塊。