[發明專利]一種測試機抗靜電方法在審
| 申請號: | 201811624743.0 | 申請日: | 2018-12-28 |
| 公開(公告)號: | CN109633401A | 公開(公告)日: | 2019-04-16 |
| 發明(設計)人: | 羅小兵;王琴;黃愛民 | 申請(專利權)人: | 珠海錦泰電子科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/26 | 分類號: | G01R31/26 |
| 代理公司: | 廣州三環專利商標代理有限公司 44202 | 代理人: | 溫旭 |
| 地址: | 519000 廣東省珠*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 晶體管測試 晶體管 測試機 靜電檢測儀 控制模塊 靜電荷 抗靜電 檢測 破損 萬用表 晶體管特性 晶體管芯片 靜電荷中和 靜電消除器 抗靜電技術 電荷中和 接地引線 絕緣涂料 離子風機 電荷 靜電 放電極 檢測臺 顯示儀 感測 附帶 測試 威脅 安全 保證 | ||
本發明公開了一種測試機抗靜電方法,具體涉及抗靜電技術領域,包括以下步驟:提供一種全自動晶體管測試機,所述全自動晶體管測試機包括晶體管特性顯示儀、萬用表和靜電檢測儀,所述全自動晶體管測試機一側設有控制模塊,所述全自動晶體管測試機的一側設有檢測臺。本發明通過絕緣涂料和接地引線將測試機運動產生的靜電荷導入地面,同時防止線路破損造成的線路破損對人與產品造成威脅,檢測前,離子風機對晶體管進行電荷中和使其無電荷,檢測時,靜電檢測儀對晶體管進行感測,當晶體管與測試機接觸中產生靜電荷時,控制模塊控制全自動靜電消除器通過放電極與晶體管附帶靜電荷中和反應,有效消除靜電,在檢測的全過程中保證晶體管芯片的安全。
技術領域
本發明涉及抗靜電技術領域,更具體地說,本發明涉及一種測試機抗靜電方法。
背景技術
隨著集成電路的迅速發展,特別是數模混合電路的廣泛應用,靜電已成為導致集成電路內部損傷的嚴峻性問題,它常常在制作工藝過程中形成,給芯片的制造和設計帶來了很大的困難。芯片在生產完成后,需要進行性能測試,以便于減少故障率。
芯片制造需要一個無靜電、無塵的環境,芯片檢測同樣需要這樣的環境,目前,國內的大部分制造公司都只采用進口的工作臺,在對芯片的檢測過程中,檢測機不能經常會產生靜電,影響芯片的檢測效果,同時靜電會穿透芯片絕緣層,使集成電路內部受到損傷,增加廢品率,抗靜電功能是檢測工作臺必要的需求,研發具有高抗靜電能力的工作臺是邁進技術創新的重要一步。
現有的檢測工作臺抗靜電功能一般通過防靜電腕帶、接地導電桌墊和防靜電工衣將對檢測芯片進行保護,這使得檢測效率低下,在檢測過程中,芯片與檢測機接觸時,仍會有靜電產生。
發明內容
為了克服現有技術的上述缺陷,本發明的實施例提供一種測試機抗靜電方法,通過絕緣涂料和接地引線將測試機運動產生的靜電荷導入地面,同時防止線路破損造成的線路破損對人與產品造成威脅,檢測前,離子風機對晶體管進行電荷中和使其無電荷,檢測時,靜電檢測儀對晶體管進行感測,當晶體管與測試機接觸中產生靜電荷時,控制模塊控制全自動靜電消除器通過放電極與晶體管附帶靜電荷中和反應,有效消除靜電,在檢測的全過程中保證晶體管芯片的安全。
為實現上述目的,本發明提供如下技術方案:一種測試機抗靜電方法,包括以下步驟:
提供一種全自動晶體管測試機,所述全自動晶體管測試機包括晶體管特性顯示儀、萬用表和靜電檢測儀,所述全自動晶體管測試機一側設有控制模塊,所述全自動晶體管測試機的一側設有檢測臺,所述檢測臺頂部設有檢測觸頭,所述晶體管特性顯示儀、萬用表和靜電檢測儀的連接端均與檢測觸頭連接,所述檢測臺一側設有全自動靜電消除器,所述全自動靜電消除器輸出端設有放電極,所述放電極與檢測臺相匹配;
在全自動晶體管測試機表面均勻涂覆絕緣涂料,并且在全自動晶體管測試機底部設置接地引線,防止全自動晶體管測試機電力泄漏;
將檢測晶體管從離子風機吹風口通過,中和并去除晶體管附帶靜電;
全自動晶體管測試機將去除靜電的晶體管輸送至檢測臺進行檢測,檢測觸頭與晶體管芯片接觸,晶體管特性顯示儀顯示晶體管性能檢測信息,靜電檢測儀檢測晶體管是否附帶電荷,并在顯示萬用表顯示,當萬用表顯示晶體管附帶電荷時,控制模塊控制全自動靜電消除器工作,放電極與晶體管接觸導出靜電電荷;
在全自動晶體管測試機的活動連接處定期添加潤滑油,對全自動晶體管測試機的電源線定期檢修。
在一個優選地實施方式中,所述全自動晶體管測試機一側還設有防靜電手環。
在一個優選地實施方式中,所述接地引線由金屬銅材料制成。
在一個優選地實施方式中,所述絕緣涂料具體為絕緣漆層。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于珠海錦泰電子科技有限公司,未經珠海錦泰電子科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201811624743.0/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:VDMOS垂直柵場效應晶體管性能檢測裝置
- 下一篇:一種芯片抗靜電裝置





