[發(fā)明專利]一種小回滯雙向瞬態(tài)電壓抑制器及其應(yīng)用有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811619461.1 | 申請(qǐng)日: | 2018-12-28 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109698195B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-03-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 梁海蓮;朱玲;顧曉峰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 江南大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L27/02 | 分類號(hào): | H01L27/02 |
| 代理公司: | 哈爾濱市陽(yáng)光惠遠(yuǎn)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 23211 | 代理人: | 張勇 |
| 地址: | 214000 江*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 小回滯 雙向 瞬態(tài) 電壓 抑制器 及其 應(yīng)用 | ||
1.一種小回滯雙向瞬態(tài)電壓抑制器,其特征在于,所述抑制器由P襯底(101)、第一高壓深N阱(102)、第二高壓深N阱(103)、第一N阱(104)、第一P阱(105)、第二N阱(106)、第二P阱(107)、第三N阱(108)、第三P阱(109)、第四N阱(110)、第一N+注入?yún)^(qū)(111)、第一P+注入?yún)^(qū)(112)、第二P+注入?yún)^(qū)(113)、第三P+注入?yún)^(qū)(114)、第二N+注入?yún)^(qū)(115)、第一多晶硅柵(116)及其覆蓋的第一薄柵氧化層(117)和第二多晶硅柵(118)及其覆蓋的第二薄柵氧化層(119)構(gòu)成;
在P襯底(101)的表面區(qū)域從左至右依次設(shè)有第一高壓深N阱(102)和第二高壓深N阱(103),P襯底(101)的左側(cè)邊緣與第一高壓深N阱(102)的左側(cè)相連,P襯底(101)的右側(cè)邊緣與第二高壓深N阱(103)的右側(cè)相連;第一高壓深N阱(102)與第二高壓深N阱(103)之間設(shè)有一間距;
在第一高壓深N阱(102)的表面區(qū)域從左至右依次設(shè)有第一N阱(104)和第一P阱(105),第一N阱(104)的左側(cè)與第一高壓深N阱(102)的左側(cè)相連,第一N阱(104)的右側(cè)與第一P阱(105)的左側(cè)相連;
第二N阱(106)橫跨在第一高壓深N阱(102)和P襯底(101)的表面區(qū)域,第一P阱(105)的右側(cè)與第二N阱(106)的左側(cè)相連,第二N阱(106)的右側(cè)與第二P阱(107)的左側(cè)相連;
第三N阱(108)橫跨在P襯底(101)和第二高壓深N阱(103)的表面區(qū)域,第二P阱(107)的右側(cè)與第三N阱(108)的左側(cè)相連;
在第二高壓深N阱(103)的表面區(qū)域從左至右依次設(shè)有第三P阱(109)和第四N阱(110),第三N阱(108)的右側(cè)與第三P阱(109)的左側(cè)相連,第三P阱(109)的右側(cè)與第四N阱(110)的左側(cè)相連,第四N阱(110)的右側(cè)與第二高壓深N阱(103)的右側(cè)相連;
在第一N阱(104)的表面區(qū)域從左至右依次設(shè)有第一N+注入?yún)^(qū)(111)、第一P+注入?yún)^(qū)(112)和第一多晶硅柵(116)及其覆蓋的第一薄柵氧化層(117),第一P+注入?yún)^(qū)(112)的右側(cè)與第一多晶硅柵(116)及其覆蓋的第一薄柵氧化層(117)的左側(cè)相連,第一多晶硅柵(116)及其覆蓋的第一薄柵氧化層(117)的右側(cè)與第二P+注入?yún)^(qū)(113)的左側(cè)相連;第一N+注入?yún)^(qū)(111)和第一P+注入?yún)^(qū)(112)之間設(shè)有一間距;
第二P+注入?yún)^(qū)(113)橫跨在第一N阱(104)、第一P阱(105)、第二N阱(106)、第二P阱(107)、第三N阱(108)、第三P阱(109)和第四N阱(110)的表面區(qū)域;
在第四N阱(110)的表面區(qū)域從左至右依次設(shè)有第二多晶硅柵(118)及其覆蓋的第二薄柵氧化層(119)、第三P+注入?yún)^(qū)(114)和第二N+注入?yún)^(qū)(115),第二P+注入?yún)^(qū)(113) 的右側(cè)與第二多晶硅柵(118)及其覆蓋的第二薄柵氧化層(119)的左側(cè)相連,第二多晶硅柵(118)及其覆蓋的第二薄柵氧化層(119)的右側(cè)與第三P+注入?yún)^(qū)(114)的左側(cè)相連;第三P+注入?yún)^(qū)(114)和第二N+注入?yún)^(qū)(115)之間設(shè)有一間距;
第一N+注入?yún)^(qū)(111)與第一金屬1(201)相連,第一P+注入?yún)^(qū)(112)與第二金屬1(202)相連,第一多晶硅柵(116)與第三金屬1(203)相連,第二多晶硅柵(118)與第四金屬1(204)相連,第三P+注入?yún)^(qū)(114)與第五金屬1(205)相連,第二N+注入?yún)^(qū)(115)與第六金屬1(206)相連;
第一金屬1(201)、第二金屬1(202)和第三金屬1(203)均與第七金屬1(207)相連,從第七金屬1(207)引出第一電極(301),用作抑制器的金屬陽(yáng)極;
第四金屬1(204)、第五金屬1(205)和第六金屬1(206)均與第八金屬1(208)相連,從第八金屬1(208)引出第二電極(302),用作抑制器的金屬陰極。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無(wú)源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無(wú)源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過(guò)這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的
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