[發明專利]太赫茲時域光譜儀

在審

• 申請號: 201811619452.2
• 申請日: 2018-12-28
• 公開（公告）號: CN109520620A
• 公開（公告）日: 2019-03-26
• 發明（設計）人: 何堅兵;劉永禎;趙洪美;潘奕;黃培雄
• 申請（專利權）人: 深圳市太赫茲科技創新研究院有限公司;雄安華訊方舟科技有限公司
• 主分類號: G01J3/28
• 分類號: G01J3/28;G01J3/02
• 代理公司: 深圳中一專利商標事務所 44237
• 代理人: 高星

本發明涉及太赫茲光譜技術領域，提供了一種太赫茲時域光譜儀，包括光譜儀主機體、樣品承載結構以及掃描驅動裝置，光譜儀主機體包括太赫茲發生器和安裝配合結構，安裝配合結構與反射成像裝置/透射譜測試裝置可拆卸連接，樣品承載結構具有掃描作業位置和掃描待業位置，掃描驅動裝置用于驅動樣品承載結構往復運動于掃描作業位置和掃描待業位置之間，并用于驅動樣品承載結構在樣品承載結構處于掃描作業位置時進行掃描動作。該太赫茲時域光譜儀變換測試模式無需頻繁拆裝并調試掃描成像測試裝置，測試裝置更換快捷方便、轉換無需光學對準，可滿足用戶多樣化測試需求。

技術領域

本發明涉及太赫茲光譜技術領域，尤其涉及一種太赫茲時域光譜儀。

背景技術

太赫茲時域光譜技術是太赫茲光譜技術中的一種新興、非常有效的電磁輻射位相相干探測技術，能對物質光譜特性、組成結構、分子振動轉動特性進行有效地分析和深入的研究，可對樣品進行定性分析，已被廣泛應用于生物醫學、化學、農業、醫學制藥、材料、食品、藥品檢測等領域。

在實際應用過程中，根據不同的樣品及測試要求，可將不同的如掃描成像測試裝置、透射譜測試裝置等測試裝置連接到太赫茲時域光譜儀的主機上以獲取樣品的測試數據，其中，掃描成像及譜線測試均為較為常用的測試手段。然而，傳統的太赫茲時域光譜儀在進行掃描成像時，需將掃描成像測試裝置疊放安裝于主機上方，并調試相應參數，而在進行譜線測試時，又需拆卸該掃描成像測試裝置才可使用透射譜測試裝置對樣品進行譜線測試，導致在進行不同樣品信息的測量時，需頻繁拆裝并重新調試掃描成像測試裝置，操作十分繁瑣、不便利。

發明內容

本發明的目的在于提供一種太赫茲時域光譜儀，旨在解決現有太赫茲時域光譜儀變換測試模式時，總需頻繁拆裝并重新調試掃描成像測試裝置的問題。

為解決上述技術問題，本發明的技術方案是：一種太赫茲時域光譜儀，至少能夠與反射成像裝置/透射譜測試裝置配合使用，包括：

光譜儀主機體，包括用于產生太赫茲波的太赫茲發生器以及與所述太赫茲發生器連接的安裝配合結構，所述安裝配合結構與所述反射成像裝置/所述透射譜測試裝置可拆卸連接，所述太赫茲發生器在與所述反射成像裝置配合使用時能夠進行掃描成像作業，而在與所述透射譜測試裝置配合使用時能夠進行透射譜測試作業；

樣品承載結構，用于承載測試樣品，具有掃描作業位置和掃描待業位置，所述樣品承載結構在所述掃描作業位置時供所述太赫茲發生器掃描所述測試樣品，所述樣品承載結構在所述掃描待業位置時避讓所述反射成像裝置/所述透射譜測試裝置，以使所述反射成像裝置/所述透射譜測試裝置能夠安裝至所述光譜儀主機體或從所述光譜儀主機體拆離；

掃描驅動裝置，用于驅動所述樣品承載結構往復運動于所述掃描作業位置和所述掃描待業位置之間，并用于驅動所述樣品承載結構在所述樣品承載結構處于所述掃描作業位置時進行掃描動作。

進一步地，所述掃描驅動裝置包括與所述樣品承載結構連接的橫向驅動裝置以及與所述橫向驅動裝置連接的縱向驅動裝置，所述橫向驅動裝置用于驅動所述樣品承載結構在所述樣品承載結構處于所述掃描作業位置時進行橫向掃描作業，所述縱向驅動裝置用于驅動所述樣品承載結構往復運動于所述掃描作業位置和所述掃描待業位置之間，并用于驅動所述樣品承載結構在所述樣品承載結構處于所述掃描作業位置時進行縱向掃描作業。

進一步地，所述縱向驅動裝置包括縱向滑軌以及沿所述縱向滑軌滑動的縱向滑塊，所述縱向滑塊與所述橫向驅動裝置連接，所述縱向驅動裝置還包括縱向驅動器以及與所述縱向驅動器電性連接的縱向電連接器和/或縱向微控旋鈕，所述縱向驅動器用于驅動所述縱向滑塊在所述樣品承載結構處于所述掃描作業位置時沿所述縱向滑軌滑動，所述縱向電連接器用于與所述光譜儀主機體電性連接，并用于控制所述縱向滑塊沿所述縱向滑軌滑動的步長，所述縱向微控旋鈕用于手動調節所述縱向滑塊沿所述縱向滑軌滑動的步長。