[發明專利]微處理器驗證方法、裝置、電子設備及計算機可讀存儲介質

在審

• 申請號: 201811613856.0
• 申請日: 2018-12-27
• 公開（公告）號: CN109857608A
• 公開（公告）日: 2019-06-07
• 發明（設計）人: 王飛
• 申請（專利權）人: 深圳云天勵飛技術有限公司
• 主分類號: G06F11/26
• 分類號: G06F11/26;G06F11/34
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 郝傳鑫;熊永強

本申請實施例涉及一種微處理器驗證方法、裝置、電子設備以及計算機可讀存儲介質，其中方法包括：通過激勵發生器產生激勵數據；將待驗對象和參考模型綁定，使得所述參考模型附屬于所述待驗對象；將所述n個激勵指令發送至所述待驗對象，得到n個第一輸出數據；控制所述參考模型從所述待驗對象獲取所述n個激勵指令，得到n個第二輸出數據；對所述n個激勵指令中的第i個激勵指令對應的第i個第一輸出數據和第i個第二輸出數據進行斷言；重復執行上一步驟直至執行n次，在n次斷言的結果均為成功的情況下，確定所述待驗對象為通過。本申請公開的實施例能夠提高微處理器驗證過程的調試效率且增強了微處理器驗證過程的可重用性。

技術領域

本申請涉及處理器技術領域，特別是涉及一種微處理器驗證方法、裝置、電子設備及計算機可讀存儲介質。

背景技術

隨著集成電路技術的不斷發展，市場對芯片有了更高的要求。要求芯片必須有更強大的功能、更高的質量、更加靈活的變化、更快的處理效率，并且有更低的功耗、更小的體積、更加便宜的價格才能得到市場的認可。以上種種需求使得芯片的設計復雜度日益提高，同時電路規模變得更加龐大。隨著芯片設計難度的提升，芯片驗證的難度也大幅提高。

近年來，驗證所投入的時間和資金在整個芯片研發流程中所占的比例也是逐年提高，很多情況下驗證花費的時間和成本已經超越了芯片設計本身。在目前的整個芯片研發流程中，針對于功能的驗證占去了整個項目時間和資源的大約百分之八十，而這其中所占比例最大的就是寄存器傳輸級別(Register Transfer Level RTL)的驗證。根據統計，大約有超過二分之一的芯片項目要多次流片，所以越早發現問題將會為公司節約更多的成本，使芯片在市場中有更強的競爭力。這就要求在流片之前盡可能去發現所有漏洞。因此對于驗證的質量和效率的要求也較以往有了更高的要求。

在芯片驗證的過程中，主流的方法是通過比較待驗對象和參考模型的輸入輸出行為是否一致，從而判斷待驗對象是否通過驗證。目前比較廣泛使用基于 c++語言搭建的參考模型，在使用該參考模型進行調試，只能依靠通過查看日志文件來定位程序的異常出錯點，這種調試方法效率低下，不夠直觀。

發明內容

本申請實施例提供一種微處理器驗證技術方案，能夠提高微處理器驗證過程調試效率。

第一方面，本申請實施例提供了一種微處理器驗證方法，該方法包括：

通過激勵發生器產生激勵數據，其中所述激勵發生器是通過驗證平臺建立的，所述激勵數據包括n個激勵指令；

將待驗對象和參考模型綁定，使得所述參考模型附屬于所述待驗對象，其中，所述待驗對象是使用第一語言實現的，所述參考模型是使用第二語言實現的，所述參考模型是所述待驗對象的參考標準；

將所述n個激勵指令發送至所述待驗對象，得到n個第一輸出數據，其中所述n個第一輸出數據與所述n個激勵指令一一對應；

控制所述參考模型從所述待驗對象獲取所述n個激勵指令，得到n個第二輸出數據，其中所述n個第二輸出數據與所述n個激勵指令一一對應；

對所述n個激勵指令中的第i個激勵指令對應的第i個第一輸出數據和第i 個第二輸出數據進行斷言；

重復執行上一步驟直至執行n次，在n次斷言的結果均為成功的情況下，確定所述待驗對象為通過。

在一可能的實現方式中，在所述n次斷言的結果中有一次斷言的結果為失敗的情況下，確定所述待驗對象為未通過。

在一可能的實現方式中，所述方法還包括：在所述第i個第一輸出數據和所述第i個第二輸出數據相同的情況下，確定第i次斷言的結果為成功；在所述第 i個第一輸出數據和所述第i個第二輸出數據不相同的情況下，確定第i次斷言的結果為失敗。