[發明專利]半導體激光器全局均勻度的檢測方法、裝置及可讀存儲介質

在審

• 申請號: 201811601859.2
• 申請日: 2018-12-26
• 公開（公告）號: CN109696240A
• 公開（公告）日: 2019-04-30
• 發明（設計）人: 林挺
• 申請（專利權）人: 信利光電股份有限公司
• 主分類號: G01J1/42
• 分類號: G01J1/42
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102
• 代理人: 李健威;陳衛

本發明公開了一種半導體激光器全局均勻度的檢測方法，包括：步驟1：待測激光器向接收平面發射紅外激光，紅外攝像頭向接收平面拍攝紅外激光得到激光圖像；步驟2：將激光圖像中的激光區域分割為多個子區域，依據每個子區域的子亮度平均值和激光區域的總亮度平均值，判斷待測激光器的全局均勻度是否合格。該檢測方法可檢測出半導體激光器的全局亮度是否均勻，以進行品質管控。本發明還公開了一種半導體激光器全局均勻度的檢測裝置及可讀存儲介質。

技術領域

本發明涉及激光技術，尤其涉及一種半導體激光器全局均勻度的檢測方法、裝置及可讀存儲介質。

背景技術

隨著半導體激光技術的發展，半導體激光器被廣泛應用于光通信、光互連、光存儲、激光掃描和三維成像等領域。在照射范圍內，紅外激光的全局亮度是否均勻，是半導體激光器的一項重要指標，影響著半導體激光器的使用性能，對于生產廠商來說，有必要在出廠前對半導體激光器的全局均勻度進行檢測，以進行品質管控。

發明內容

為了解決上述現有技術的不足，本發明提供一種半導體激光器全局均勻度的檢測方法，可檢測出半導體激光器的全局亮度是否均勻，以進行品質管控。

本發明還提供一種半導體激光器全局均勻度的檢測裝置及可讀存儲介質。

本發明所要解決的技術問題通過以下技術方案予以實現：

一種半導體激光器全局均勻度的檢測方法，包括：

步驟1：待測激光器向接收平面發射紅外激光，紅外攝像頭向接收平面拍攝紅外激光得到激光圖像；

步驟2：將激光圖像中的激光區域分割為多個子區域，依據每個子區域的子亮度平均值和激光區域的總亮度平均值，判斷待測激光器的全局均勻度是否合格。

進一步地，步驟2包括：

步驟2.1：在激光圖像中確定激光區域的區域范圍；

步驟2.2：依據多個等分角度將激光區域分割為多個子區域；

步驟2.3：計算出每個子區域的子亮度平均值，和激光區域的總亮度平均值；

步驟2.4：計算出每個子亮度平均值與總亮度平均值之間的亮度比值；

步驟2.5：依據每個亮度比值，判斷待測激光器的全局均勻度是否合格。

進一步地，步驟2.1包括：

步驟2.1.1：獲取激光區域在上下左右四側上的最邊緣像素點；

步驟2.1.2：依據四側最邊緣像素點所在的橫直線或縱直線作為激光區域的四側邊緣直線，得到激光區域的區域范圍。

進一步地，步驟2.1.1包括：

步驟2.1.1.1：在激光圖像中，選取激光區域中亮度值較大的至少一像素點，計算出平均亮度值；

步驟2.1.1.2：以平均亮度值的一定比例作為二值化閾值，對激光圖像進行二值化得到二值化圖像；

步驟2.1.1.3：在二值化圖像中，獲取激光區域在上下左右四側上的最邊緣像素點。

進一步地，在步驟2.2中，將待測激光器的FOV等分為多個等分角度，依據多個等分角度將激光區域分割為多個子區域。

進一步地，待測激光器和紅外攝像頭的光軸重合且垂直于接收平面，在步驟2.2中，以激光圖像的橫向作為X軸、縱向作為Y軸，建立直角坐標系XY，每個子區域的左右兩側邊的橫向坐標x1和x2以及上下兩側邊的縱向坐標y1和y2滿足以下方程：

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