[發明專利]通過分析物檢測系統提供部分樣品的原位化學轉換和電離的方法及分析物檢測系統有效
| 申請號: | 201811594482.2 | 申請日: | 2014-07-24 |
| 公開(公告)號: | CN110057616B | 公開(公告)日: | 2022-09-09 |
| 發明(設計)人: | J·亨德里克瑟;V·羅門諾夫 | 申請(專利權)人: | 蒙特利爾史密斯安檢儀公司 |
| 主分類號: | G01N1/02 | 分類號: | G01N1/02;H01J49/14 |
| 代理公司: | 北京潤平知識產權代理有限公司 11283 | 代理人: | 嚴政;劉兵 |
| 地址: | 加拿大*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 通過 分析 檢測 系統 提供 部分 樣品 原位 化學 轉換 電離 方法 | ||
本發明涉及分析物檢測領域,具體公開了一種通過分析物檢測系統提供部分樣品的原位化學轉換和電離的方法及分析物檢測系統。該方法包括經入口將氣體引入所述分析物檢測系統的電離源。該方法進一步包括在所述電離源內產生離子并引導所述氣體和生成的離子通過并離開所述電離源并通向所述樣品。所述樣品在周圍環境中位于所述電離源的近端。所述離子與所述樣品發生化學反應,并從所述樣品中解吸和電離分析物,所述分析物由所述無機氧化劑生成,所述被解吸的分析物具有比所述無機氧化劑更低的熔點和/或更高的解吸動力學。該方法進一步包括通過所述分析物檢測系統的分析儀接收所述被解吸的分析物。本發明相比常規實施的檢測方法提高了檢測靈敏度。
本申請是申請號為201480041994.X、申請日為2014年7月24日、名稱為“無機高氯酸鹽表面的原位化學轉化和電離”的中國專利申請的分案申請。
相關申請引用
本申請要求2013年7月24日遞交的題為“無機高氯酸鹽表面的原位化學轉化和電離”的美國臨時專利申請系列No.61/857,721的優先權,通過引用將其合并于此。
背景技術
基于解吸作用的檢測系統(desorption-based detection systems)通常用于鑒定樣品中的化學試劑。現有可用的基于解吸作用的檢測系統,例如,基于拭子解吸作用的離子遷移譜系統(swab desorption-based ion mobility spectrometry systems),非常適用于檢測當被加熱到合理的溫度(例如,低于250攝氏度)時能夠蒸發的物質。可選地,當前可用的基于解吸作用的檢測系統也非常適用于檢測加熱時分解生成能夠容易蒸發和被檢測的特性物質的物質。然而,一些樣品中含有適合檢測的物質(例如,分析物、化學試劑),但并不具備上述特性。
發明內容
本發明公開了一種用于通過分析物檢測系統提供樣品中無機氧化劑的原位化學轉化和電離的方法。該方法包括通過電離源的入口將氣體引入所述分析物檢測系統的電離源。該方法進一步包括引導所述氣體通過電離源以生成離子。該方法進一步包括引導所述離子離開電離源并通向所述樣品,所述樣品位于所述電離源的近端,所述樣品還位于周圍環境(ambient environment)中。所述離子與所述樣品發生化學反應,并從樣品中解吸出分析物,所述分析物由無機氧化劑產生,所述被解吸的分析物具有比所述無機氧化劑更低的熔點和/或更好的解吸動力學。該方法進一步包括通過所述分析物檢測系統的分析儀接收所述被解吸的分析物。
本發明公開了一種分析物檢測系統,該系統用于實施提供樣品中無機氧化劑的原位化學轉化和電離的方法。該系統包括電離源。所述電離源被配置為使用放電在所述電離源內產生離子,并使用氣流引導所述離子離開所述電離源并通向位于電離源近端的樣品,所述樣品位于周圍環境中,所述離子與所述樣品發生化學反應以從樣品中解吸出分析物。該系統進一步包括被配置為用于接收和分析從樣品中解吸的分析物的分析儀,例如質譜儀、離子遷移譜儀或兩者的結合。進一步地,所述樣品含有無機氧化劑,如氯酸鹽或高氯酸鹽。所述被解吸的分析物由所述離子和所述無機氧化劑之間的化學反應產生。所述被解吸的分析物具有比所述無機氧化劑更低的熔點和/或更好的解吸動力學。
提供本發明內容以簡化的形式引入概念的選擇,在下面的具體實施方式中將進一步介紹。本發明內容不旨在確定所要求保護的主題的關鍵技術特征或必要技術特征,也不旨在用于幫助確定所要求保護的主題的范圍。
附圖說明
詳細描述將參考附圖進行。在附圖中,附圖編號(reference number)最左邊的數字表示附圖編號首次出現的附圖。說明書和附圖的不同實例中,相同附圖編號的使用可以指代相似或相同的項目。
圖1是根據本發明公開的實施方式的分析物檢測系統的概念性示意框圖,該框圖包括該系統的電離源的局部視圖。
圖2A是根據本發明公開的實施方式的分析物檢測系統的電離源的局部視圖。
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