[發明專利]一種內循環式顆粒物濃度檢測裝置在審
| 申請號： | 201811571003.5 | 申請日： | 2018-12-21 |
| 公開（公告）號： | CN109596495A | 公開（公告）日： | 2019-04-09 |
| 發明（設計）人： | 李星輝;吳豪;王曉浩;周倩;倪凱 | 申請（專利權）人： | 清華大學深圳研究生院 |
| 主分類號： | G01N15/06 | 分類號： | G01N15/06 |
| 代理公司： | 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205 | 代理人： | 唐致明 |
| 地址： | 518000 廣東*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 流道 濃度檢測裝置 測量單元 顆粒物 靜電沉降裝置 高壓放電針 導流葉片 內循環式 密封室 內循環 顆粒物檢測裝置 大氣顆粒物 通風口 高壓放電 晶體安裝 兩端開口 濃度檢測 質量變化 可開閉 電極 采樣 集塵 測量 檢測 流動 | ||
1.一種內循環式顆粒物濃度檢測裝置，其特征在于，包括
密封室，所述密封室設有可開閉的通風口，用于收集空氣以采樣；
測量單元，所述測量單元包括流道、導流葉片以及靜電沉降裝置，所述流道兩端開口設置，所述導流葉片設于所述測量單元一端，用于引導所述流道內氣體的流動，所述靜電沉降裝置包括晶體以及高壓放電針，所述晶體安裝于所述流道內，用于檢測其表面質量變化，所述高壓放電針與所述晶體構成電極對，用于高壓放電集塵。
2.根據權利要求1所述的內循環式顆粒物濃度檢測裝置，其特征在于，所述流道內安裝有晶體托盤，所述晶體固定安裝于所述晶體托盤上。
3.根據權利要求1所述的內循環式顆粒物濃度檢測裝置，其特征在于，所述測量單元包括兩處，且兩處所述測量單元上下排布于所述密封室內。
4.根據權利要求3所述的內循環式顆粒物濃度檢測裝置，其特征在于，于所述密封室的左右方向上，兩處所述測量單元反向設置，以使所述密封室內的氣體在兩處所述測量單元工作時保持循環。
5.根據權利要求4所述的內循環式顆粒物濃度檢測裝置，其特征在于，所述密封室內還設置有擾流葉片，用于混合所述密封室內的氣體。
6.根據權利要求5所述的內循環式顆粒物濃度檢測裝置，其特征在于，所述擾流葉片包括兩處。
7.根據權利要求1-6中任一項所述的內循環式顆粒物濃度檢測裝置，其特征在于，所述密封室內還設置有溫度調控模塊以及濕度調控模塊。
8.根據權利要求7所述的內循環式顆粒物濃度檢測裝置，其特征在于，其中一個所述測量單元中，所述晶體的表面設置有修飾層，以提高所述晶體的吸附效率。
9.一種內循環式顆粒物濃度檢測方法，其特征在于，包括如下步驟：
S1，構件封閉環境，在封閉環境內設置靜電沉降裝置；
S2，封閉環境向大氣采樣足夠的氣體；
S3，引導封閉環境內的氣體進行內循環，并引導氣體向晶體表面運動；
S4，晶體及高壓放電針供電，開始靜電沉降，穩定后，得到晶體表面質量數據。
10.根據權利要求9所述的內循環顆粒物濃度檢測方法，其特征在于，封閉環境中設置溫度調控模塊、濕度調控模塊，在S3之前，將封閉環境內的溫度和濕度調節到最佳檢測區域。
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