[發明專利]數據存儲的檢測方法、裝置、存儲介質及電子裝置在審
| 申請號: | 201811551079.1 | 申請日: | 2018-12-18 |
| 公開(公告)號: | CN109800104A | 公開(公告)日: | 2019-05-24 |
| 發明(設計)人: | 趙子蒼;顧祥洪;李磊;何志川;賈復山 | 申請(專利權)人: | 盛科網絡(蘇州)有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/10 | 分類號: | G06F11/10 |
| 代理公司: | 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240 | 代理人: | 江舟;董文倩 |
| 地址: | 215021 江蘇省蘇州市*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 校驗信息 內存 數據存儲 存儲 存儲介質 電子裝置 快速檢測 校驗結果 檢測 第一數據 | ||
本發明提供了一種數據存儲的檢測方法、裝置、存儲介質及電子裝置,該方法包括:確定當前周期內,內存中存儲的第一數據的第一校驗信息;比較第一校驗信息和第二校驗信息,得到校驗結果,其中,第二校驗信息為當前周期之前的周期內內存中存儲的第二數據的校驗信息;根據校驗結果檢測第二數據存儲的正確性。通過本發明,可以解決相關技術中不能快速檢測出內存中存儲的數據是否正確的問題,達到快速檢測內存中存儲的數據的正確性的效果。
技術領域
本發明涉及計算機領域,具體而言,涉及一種數據存儲的檢測方法、裝置、存儲介質及電子裝置。
背景技術
三態內容尋址存儲器TCAM內存的芯片,包括專用集成電路(ApplicationSpecific Integrated Circuit,簡稱為ASIC芯片),網絡處理器(Network Processor,簡稱為NP),現場可編程門陣列(Field Programmable Gate Array,簡稱為FPGA)等。在使用TCAM的過程中,由于外界使用環境,有可能會發生TCAM內存中發生錯誤。
針對上述技術問題,相關技術中尚未提出有效的解決方案。
發明內容
本發明實施例提供了一種數據存儲的檢測方法、裝置、存儲介質及電子裝置,以至少解決相關技術中不能快速檢測出數據存儲的正確性的問題。
根據本發明的一個實施例,提供了一種數據存儲的檢測方法,包括:確定當前周期內,內存中存儲的第一數據的第一校驗信息;比較第一校驗信息和第二校驗信息,得到校驗結果,其中,第二校驗信息為當前周期之前的周期內內存中存儲的第二數據的校驗信息;根據校驗結果檢測第二數據存儲的正確性。
可選地,確定當前周期內,內存中存儲的第一數據的第一校驗信息之前,方法還包括:將第二數據寫入內存;利用循環冗余校驗碼CRC算法計算出第二數據的第二校驗碼,其中,第二校驗碼包括在第二校驗信息中。
可選地,利用CRC算法計算出第二數據的第二校驗碼之后,方法還包括:將第二校驗碼存儲在存儲器中。
可選地,確定當前周期內,內存中存儲的第一數據的第一校驗信息包括:在當前周期內,掃描內存,利用CRC算法計算出第一數據的第一校驗碼,其中,第一校驗碼包括在第一校驗信息中。
可選地,根據校驗結果檢測第二數據存儲的正確性包括:在第一校驗碼與第二校驗碼不一致的情況下,確定內存存儲的第二數據出現錯誤,得到錯誤信息。
可選地,得到錯誤信息之后,方法還包括:將錯誤信息以中斷方式發送至中央處理器CPU,以指示CPU恢復第二數據在內存中的存儲。
根據本發明的另一個實施例,提供了一種數據存儲的檢測裝置,包括:第一確定模塊,用于確定當前周期內,內存中存儲的第一數據的第一校驗信息;第二確定模塊,用于比較第一校驗信息和第二校驗信息,得到校驗結果,其中,第二校驗信息為當前周期之前的周期內內存中存儲的第二數據的校驗信息;檢測模塊,用于根據校驗結果檢測第二數據存儲的正確性。
根據本發明的又一個實施例,還提供了一種存儲介質,所述存儲介質中存儲有計算機程序,其中,所述計算機程序被設置為運行時執行上述任一項方法實施例中的步驟。
根據本發明的又一個實施例,還提供了一種電子裝置,包括存儲器和處理器,所述存儲器中存儲有計算機程序,所述處理器被設置為運行所述計算機程序以執行上述任一項方法實施例中的步驟。
通過本發明,由于在確定的當前周期內,確定內存中存儲的第一數據的第一校驗信息;比較第一校驗信息和第二校驗信息,得到校驗結果,其中,第二校驗信息為當前周期之前的周期內內存中存儲的第二數據的校驗信息;根據校驗結果檢測數據存儲的正確性。即可以實現快速的檢測出數據的存儲是否正確。因此,可以解決相關技術中不能快速檢測出數據存儲的正確性的問題,達到快速檢測數據存儲是否正確的效果。
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