[發明專利]一種適用于地熱勘查的導熱構造識別方法

在審

• 申請號: 201811550106.3
• 申請日: 2018-12-18
• 公開（公告）號: CN109633779A
• 公開（公告）日: 2019-04-16
• 發明（設計）人: 張松;郝偉林;萬漢平;郭建
• 申請（專利權）人: 核工業北京地質研究院
• 主分類號: G01V9/00
• 分類號: G01V9/00
• 代理公司: 核工業專利中心 11007
• 代理人: 閆兆梅

本發明屬于地熱勘查技術領域，具體涉及一種適用于地熱勘查的導熱構造識別方法。本發明包括以下步驟：步驟1、地熱異常區內米溫測量；步驟2、米溫測量異常點單點分析；步驟3、地熱異常區內導熱構造的識別。本發明能夠建立一套地熱異常區內導熱構造的地質特征標志、米溫測量標志，為地熱異常區內導熱構造識別及地熱異常區熱儲規模評價分析提供依據。

技術領域

本發明屬于地熱勘查技術領域，具體涉及一種適用于地熱勘查的導熱構造識別方法。

背景技術

地熱是蘊藏于地球內部的自然能源。地熱流體作為地熱資源開發的最主要載體，具有水資源和礦產資源雙重屬性，其功能多、用途廣，是寶貴的潔凈資源。地熱能是一種綠色低碳、可循環利用的清潔能源，地熱綜合開發利用符合中央關于生態文明建設、創新發展等一系列戰略思想和重大舉措，對調整能源結構、節能減排、改善環境、培育新興產業、新型城鎮化建設、增加就業等具有重要意義。地熱資源的分布嚴格受構造控制。作為深部熱量上升的通道，導熱構造的規模與深度往往直接控制了地熱田的范圍與規模，決定了地熱資源量的大小。如何在地熱勘查過程中對地熱區及其周邊的導熱構造進行快速、有效的識別，成為地熱勘查工作過程中的一項重要任務。

現有技術中對地熱異常區內構造的識別主要通過地質調查、遙感解譯和AMT等地球物理測量等工作來實現。由于以上三種方法存在識別精度不高，費時、費力、費錢，工作效率低下等缺點，且不能對隱伏導熱構造和深部導熱構造進行直接有效的反映。因此，有必要建立一套快速、有效的導熱構造識別技術，來對地熱勘查區地熱前景進行快速評價。

發明內容

本發明解決的技術問題：本發明提供一種適用于地熱勘查的導熱構造識別方法，能夠建立一套地熱異常區內導熱構造的地質特征標志、米溫測量標志，為地熱異常區內導熱構造識別及地熱異常區熱儲規模評價分析提供依據。

本發明采用的技術方案：

一種適用于地熱勘查的導熱構造識別方法，包括以下步驟：步驟1、地熱異常區內米溫測量；步驟2、米溫測量異常點單點分析；步驟3、地熱異常區內導熱構造的識別。

所述步驟1包括如下步驟：選擇地熱異常及其地表熱異常附近的區域進行米溫測量，在有土壤蓋層時測量1m深處溫度，地表為水體時，測量水體溫度。

米溫測量采用面積測量的方法，比例尺為1：10000；比例尺越大，后續分析結果越精確。

所述步驟2包括如下步驟：將步驟1獲得的米溫測量結果投影到地質圖或高精度的遙感圖像上；將每個點的米溫測量數據在圖上標注出來；在圖像上對測量結果進行單點分析。

所述單點分析方法為：選擇一條米溫測量剖面分析異常點；發現異常點后，將溫度異常點在圖上標注出來；再對米溫測量區域內其他測量剖面上的異常點進行分析；將測量過程中獲得全部的異常點在地質圖或遙感圖中標注出來。

所述異常點為高出溫度平均值2℃以上的點。

步驟2中獲得的地熱異常點，即為導熱構造通過的地方，結合地質資料，分析研究區域內主要構造的走向，將獲得異常點連接起來，即為研究區域內的導熱構造。

本發明的有益效果：

(1)本發明提供一種適用于地熱勘查的導熱構造識別方法，能夠建立一套地熱異常區內導熱構造的地質特征標志、米溫測量標志，為地熱異常區內導熱構造識別及地熱異常區熱儲規模評價分析提供依據；

(2)本發明可用于我國受構造控制的中高溫地熱異常區內導熱構造的識別；本發明基于明確的米溫測量結果，結合已有的地質資料進行分析，可操作性強，結果可靠；