[發(fā)明專利]一種檢測環(huán)境因素的傳感裝置及其使用方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811547234.2 | 申請日: | 2018-12-18 |
| 公開(公告)號: | CN109738060B | 公開(公告)日: | 2021-08-06 |
| 發(fā)明(設計)人: | 卓恩宗;楊鳳云 | 申請(專利權(quán))人: | 惠科股份有限公司 |
| 主分類號: | G01J1/02 | 分類號: | G01J1/02;G01J1/42 |
| 代理公司: | 深圳市百瑞專利商標事務所(普通合伙) 44240 | 代理人: | 邢濤 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市寶安區(qū)石巖街道水田村民*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 檢測 環(huán)境 因素 傳感 裝置 及其 使用方法 | ||
本發(fā)明公開了一種檢測環(huán)境因素的傳感裝置及其使用方法,所述傳感裝置檢測環(huán)境因素并根據(jù)環(huán)境因素產(chǎn)生電流,所述環(huán)境因素包括可見光、待測光、其他光和環(huán)境溫度;所述傳感裝置包括:檢測并根據(jù)包括待測光在內(nèi)的環(huán)境因素生成第一電流的第一傳感器;檢測并根據(jù)排除待測光在內(nèi)的環(huán)境因素生成第二電流的第二傳感器;根據(jù)第一電流和第二電流,計算得到反映待測光強度的待測光電流的讀取電路。排除掉其他因素的干擾,測定到待測光的準確的光照強度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及傳感器技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種檢測環(huán)境因素的傳感裝置及其使用方法。
背景技術(shù)
光電傳感器是采用光電元件作為檢測元件的傳感器。它首先把被測量的變化轉(zhuǎn)換成光信號的變化或者直接檢測環(huán)境中的光信號,然后借助光電元件進一步將光信號轉(zhuǎn)換成電信號。
光電傳感器是各種光電檢測系統(tǒng)中實現(xiàn)光電轉(zhuǎn)換的關(guān)鍵元件,它是把光信號(可見、紅外及紫外鐳射光)轉(zhuǎn)變成為電信號的器件;光電式傳感器是以光電器件作為轉(zhuǎn)換元件的傳感器。它可用于檢測直接引起光量變化的非電物理量,如光強、光照度、輻射測溫等;但是在使用光電傳感器檢測環(huán)境中的待測光信號時,容易受到其他環(huán)境因素的影響,測量精度不高。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種檢測環(huán)境因素的傳感裝置及其使用方法,排除掉其他因素的干擾,測定到待測光的準確的光照強度。
本發(fā)明公開了一種檢測環(huán)境因素的傳感裝置,所述傳感裝置檢測環(huán)境因素并根據(jù)環(huán)境因素產(chǎn)生電流,所述環(huán)境因素包括可見光、待測光、其他光和環(huán)境溫度;所述傳感裝置包括:檢測并根據(jù)包括待測光在內(nèi)的環(huán)境因素生成第一電流的第一傳感器;檢測并根據(jù)排除待測光在內(nèi)的環(huán)境因素生成第二電流的第二傳感器;所述第一電流和第二電流的大小受到環(huán)境因素的影響;所述環(huán)境因素包括可見光、待測光、其他光和環(huán)境溫度;讀取電路,根據(jù)第一電流和第二電流,計算得到反映待測光強度的待測光電流。
可選的,所述第一傳感器檢測并根據(jù)待測光和環(huán)境溫度生成第一電流;所述第二傳感器檢測并根據(jù)環(huán)境溫度生成第二電流;所述待測光引起的待測光電流由第一電流減去第二電流得到。
可選的,所述第一傳感器包括第一阻擋結(jié)構(gòu),以透過所述待測光;所述第二傳感器包括第二阻擋結(jié)構(gòu),以阻擋所述待測光透過。
可選的,所述待測光包括紅外光,所述其他光包括紫外光;所述第一阻擋結(jié)構(gòu)采用非晶硅制成,以透過所述紅外光;所述第二阻擋結(jié)構(gòu)采用微晶硅、多晶硅和金屬中的至少一種制成,以阻擋所述紅外光透過。
可選的,所述第一傳感器包括與第一阻擋結(jié)構(gòu)相對設置的第一檢測結(jié)構(gòu),以檢測所述第一電流;所述第一檢測結(jié)構(gòu)采用微晶硅或者多晶硅或者氧化鍺硅制成,在氧化鍺硅中,設硅的摩爾量為x,鍺的摩爾量為y,氧的摩爾量為z;其中,0.1≤x≤0.3,1.0≤y≤1.5,0.1≤z≤0.3;所述第二傳感器包括與第二阻擋結(jié)構(gòu)相對設置的第二檢測結(jié)構(gòu),以檢測所述第二電流;所述第二檢測結(jié)構(gòu)與所述第一檢測結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)相同。
可選的,所述待測光包括紫外光,其他光包括紅外光,所述第一阻擋結(jié)構(gòu)采用非晶硅制成,以透過所述紫外光;所述第二阻擋結(jié)構(gòu)采用色阻或者金屬中的至少一種制成,以阻擋所述紫外光透過。
可選的,所述第一傳感器包括與第一阻擋結(jié)構(gòu)相對設置的第一檢測結(jié)構(gòu),以檢測所述第一電流;所述第一檢測結(jié)構(gòu)采用氧化物半導體或者氧化鍺硅制成,在氧化鍺硅中,設硅的摩爾量為x,鍺的摩爾量為y,氧的摩爾量為z,其中,1.0≤x≤2.0,0.1≤y≤0.5,0.5≤z≤1.0。所述第二傳感器包括與第二阻擋結(jié)構(gòu)相對設置的第二檢測結(jié)構(gòu),以檢測所述第二電流;所述第二檢測結(jié)構(gòu)與所述第一檢測結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)相同。
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