[發明專利]半導體器件和包括半導體器件的半導體系統

有效

• 申請號: 201811510378.0
• 申請日: 2018-12-11
• 公開（公告）號: CN110875066B
• 公開（公告）日: 2023-09-15
• 發明（設計）人: 林尤莉;金顯承;尹相植
• 申請（專利權）人: 愛思開海力士有限公司
• 主分類號: G11C7/10
• 分類號: G11C7/10
• 代理公司: 北京弘權知識產權代理有限公司 11363
• 代理人: 許偉群;郭放

本申請公開了半導體器件和包括半導體器件的半導體系統。一種半導體器件包括數據檢測電路，其被配置為對數據中包括的比特位之中具有預定邏輯電平的比特位的數量進行檢測以生成檢測信號。所述半導體器件還包括選擇/傳輸電路，所述選擇/傳輸電路被配置為基于選擇/傳輸信號將檢測信號或控制數據信號輸出為預掩蔽信號。所述半導體器件還包括掩蔽信號生成電路，所述掩蔽信號生成電路被配置為基于管道輸入控制信號將預掩蔽信號鎖存，并且被配置為基于管道輸出控制信號將預掩蔽信號的已鎖存信號輸出為用于控制數據掩蔽操作的掩蔽信號。

相關申請的交叉引用

本申請要求于2018年9月3日提交的申請號為10-2018-0104789的韓國申請的優先權，其公開內容通過引用整體合并于此。

技術領域

本公開的實施例涉及執行數據掩蔽(masking)操作和數據總線反相(inversion)操作的半導體器件以及包括這樣的半導體器件的半導體系統。

背景技術

在包括控制器和半導體器件的半導體系統中，讀取操作或寫入操作可以通過在控制器與半導體器件之間的數據傳輸來執行。在讀取操作期間，儲存在所述半導體器件中的數據可以被傳送到控制器。在寫入操作期間，從控制器輸出的數據可以被傳送到半導體器件，并且可以被儲存在半導體器件的儲存單元中。數據掩蔽操作可以用于僅將從控制器輸出的數據的比特位之中的期望比特位儲存到半導體器件的儲存單元。即，如果執行數據掩蔽操作，則半導體系統僅將從控制器輸出的數據之中的期望比特位儲存在半導體器件中。如此在半導體系統中執行數據掩蔽操作，包括關于要被掩蔽的數據的信息的數據掩蔽信號應該與數據一起從控制器傳送到半導體器件。

如果當數據在半導體系統中傳送時其相位被改變的數據比特位的數量增大，則可能更頻繁地出現同步切換噪聲(SSN)現象和符號間干擾(ISI)現象。近來，數據總線反相(DBI)方案已被用于抑制SSN現象和ISI現象。

發明內容

根據實施例，一種半導體器件包括數據檢測電路，該數據檢測電路被配置為對數據中包括的比特位之中具有預定邏輯電平的比特位的數量進行檢測，以生成檢測信號。所述半導體器件還包括選擇/傳輸電路，該選擇/傳輸電路被配置為基于選擇/傳輸信號將所述檢測信號或控制數據信號輸出為預掩蔽信號。所述半導體器件還包括掩蔽信號生成電路，該掩蔽信號生成電路被配置為基于管道輸入控制信號將預掩蔽信號鎖存，以及被配置為基于管道輸出控制信號將所述預掩蔽信號的已鎖存信號輸出為用于控制數據掩蔽操作的掩蔽信號。

根據另一實施例，一種半導體器件包括數據檢測電路和選擇/傳輸電路。所述數據檢測電路被配置為將數據中包括的比特位劃分成至少兩個組，被配置為生成檢測信號，其中當所述數據中包括的比特位之中具有預定邏輯電平的比特位的數量是零個或者一個時所述檢測信號被使能，以及其中當包括至少一個具有預定邏輯電平的比特位的組的數量是零個或一個時所述檢測信號被使能。所述選擇/傳輸電路被配置為基于選擇/傳輸信號將所述檢測信號或控制數據信號輸出為預掩蔽信號。

根據另外的實施例，一種半導體系統包括第一半導體器件和第二半導體器件。所述第一半導體器件被配置為輸出命令、數據和控制數據信號。所述第二半導體器件被配置為當所述第二半導體器件基于所述命令執行寫入操作時，對所述數據中包括的比特位之中具有預定邏輯電平的比特位的數量進行檢測以生成檢測信號。另外，所述第二半導體器件被配置為基于所述控制數據信號和所述檢測信號來對數據掩蔽操作和數據總線反相操作進行控制。

附圖說明

圖1示出了說明根據一個實施例的半導體系統的框圖。

圖2示出了說明包括在圖1的半導體系統中的數據輸入電路的電路圖。

圖3示出了說明圖1的半導體系統中包括的數據檢測電路的電路圖。

圖4示出了說明圖3中所示的數據檢測電路的操作的表。

圖5示出了說明圖1的半導體系統中包括的選擇/傳輸電路的電路圖。