[發明專利]芯片檢測方法、裝置、計算機設備和存儲介質

在審

• 申請號: 201811486234.6
• 申請日: 2018-12-06
• 公開（公告）號: CN109584237A
• 公開（公告）日: 2019-04-05
• 發明（設計）人: 寸毛毛;鄭博;劉志昌;魏澤;王建鑫
• 申請（專利權）人: 珠海格力電器股份有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/66
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 黃曉慶;李雙皓

1.一種芯片檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取待檢測芯片的芯片圖像；

根據所述芯片圖像生成對應的圖像矩；

根據所述圖像矩生成對應芯片圖像的識別算子；

若所述芯片圖像的識別算子與預設的模板識別算子匹配，則生成檢測合格結果；

若所述芯片圖像的識別算子與預設的模板識別算子不匹配，則生成檢測不合格結果。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取待檢測芯片的芯片圖像，包括：

接收相機拍攝后發送的初始圖像；

對所述初始圖像進行輪廓提取，若提取成功，則將所述初始圖像作為待檢測芯片的芯片圖像。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述圖像矩包括幾何矩和幾何中心距；所述根據所述芯片圖像生成對應的圖像矩，包括：

對所述芯片圖像進行閾值分割，得到二值化圖像的離散函數；

對所述二值化圖像的離散函數進行黎曼積分，得到對應芯片圖像的幾何矩和幾何中心距。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據所述圖像矩生成對應芯片圖像的識別算子，包括：

根據所述幾何中心距計算得到HU矩；

根據所述幾何中心距對所述HU矩進行優化，得到改進HU矩；

根據所述幾何矩計算得到離心率；

將所述改進HU矩和所述離心率組成特征向量，得到所述芯片圖像的識別算子。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述根據所述幾何中心距對所述HU矩進行優化，得到改進HU矩，包括：

通過比值計算去掉所述HU矩中的0階的幾何中心距，得到所述改進HU矩。

6.根據權利要求1至4任意一項所述的方法，其特征在于，所述若所述芯片圖像的識別算子與預設的模板識別算子匹配，則生成檢測合格結果之后，還包括：

對合格的芯片圖像進行矩形擬合，得到擬合矩形的四個交點坐標；

根據所述交點坐標計算得到所述擬合矩形的中心坐標和偏轉角度。

7.一種芯片檢測裝置，其特征在于，所述裝置包括：

圖像獲取模塊，用于獲取待檢測芯片的芯片圖像；

圖像矩計算模塊，用于根據所述芯片圖像生成對應的圖像矩；

識別算子計算模塊，用于根據所述圖像矩生成對應芯片圖像的識別算子；

第一結果生成模塊，用于在所述芯片圖像的識別算子與預設的模板識別算子匹配時，生成檢測合格結果；

第二結果生成模塊，用于在所述芯片圖像的識別算子與預設的模板識別算子不匹配時，生成檢測不合格結果。

8.根據權利要求7所述的芯片檢測裝置，其特征在于，還包括定位模塊，用于對合格的芯片圖像進行矩形擬合，得到擬合矩形的四個交點坐標；根據所述交點坐標計算得到所述擬合矩形的中心坐標和偏轉角度。

9.一種計算機設備，包括存儲器和處理器，所述存儲器存儲有計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述計算機程序時實現權利要求1至6中任一項所述方法的步驟。

10.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時實現權利要求1至6中任一項所述的方法的步驟。