[發(fā)明專利]對中校準方法和裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811465730.3
• 申請日: 2018-12-03
• 公開（公告）號: CN111256663B
• 公開（公告）日: 2021-10-19
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張達;王繼軍;江學舟
• 申請（專利權(quán)）人: 北京世紀朝陽科技發(fā)展有限公司
• 主分類號: G01C15/00
• 分類號: G01C15/00
• 代理公司: 北京林達劉知識產(chǎn)權(quán)代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

本公開涉及一種對中校準方法和裝置。該方法應用于廣角光散射設(shè)備，該方法包括：依次調(diào)節(jié)旋轉(zhuǎn)臂至多個旋轉(zhuǎn)角度α，并在每個旋轉(zhuǎn)角度α下控制圖像采集部件采集參考物的圖像；根據(jù)在多個旋轉(zhuǎn)角度α下采集到的參考物的圖像，確定標準中心成像位置，其中，標準中心成像位置為旋轉(zhuǎn)中心在圖像采集部件采集到的圖像中的成像位置；根據(jù)標準中心成像位置，調(diào)節(jié)樣品倉的位置。本公開可以避免對樣品倉的盲調(diào)節(jié)，簡化了對中校準過程的操作步驟，有效降低了對中校準過程的耗時。

技術(shù)領(lǐng)域

本公開涉及光學散射技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種對中校準方法和裝置。

背景技術(shù)

廣角光散射是一種通過在多個散射角度處測量散射光的光強度或者光強度變化來確定樣品中相關(guān)參數(shù)的技術(shù)。例如，通過廣角靜態(tài)光散射，可以確定樣品中微粒的平均分子量；通過廣角動態(tài)光散射，可以確定樣品中微粒的微粒直徑等。

圖1示出相關(guān)技術(shù)中廣角光散射設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖1所示，激光器出射的激光經(jīng)過狹縫、會聚透鏡之后照射到樣品倉的中心位置上，探測光路及探測器旋轉(zhuǎn)接收不同散射角度對應的散射光，通過電子學電路確定所接收到的散射光的光強度或光強度變化，進而確定樣品倉中樣品的相關(guān)參數(shù)。

在廣角光散射測量過程中，散射角度是影響測量結(jié)果的重要參數(shù)，例如，散射角度每偏差1度，光強度誤差為6％。為了確保散射角度的準確，需要確保探測光路的旋轉(zhuǎn)中心與樣品倉的中心重合(以下簡稱對中)。

現(xiàn)有的對中校準過程包括：首先，調(diào)節(jié)樣品倉的位置，使其基本位于探測光路的旋轉(zhuǎn)中心附近；其次，在樣品倉中放置參考物，其中，參考物的中心易于通過人眼看到(例如，設(shè)置有經(jīng)過特殊加工處理的針尖)，且參考物的中心與樣品倉的中心重合；最后，進一步調(diào)節(jié)樣品倉的位置，使得通過目鏡在多個角度觀察參考物的中心時，參考物的中心均與探測光路的旋轉(zhuǎn)中心重合。

可見，現(xiàn)有的對中校準方法為人工校準，校準過程需要反復執(zhí)行調(diào)節(jié)步驟，導致校準過程耗時較長。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本公開提出了一種對中校準方法和裝置，能夠簡化對中校準過程的操作步驟，有效縮短對中校準過程的耗時。

根據(jù)本公開的第一方面，提供了一種對中校準方法，所述方法應用于廣角光散射設(shè)備，所述廣角光散射設(shè)備包括樣品倉、旋轉(zhuǎn)臂及圖像采集部件，所述樣品倉處于靠近所述旋轉(zhuǎn)臂的旋轉(zhuǎn)中心的一端，所述圖像采集部件安裝在所述旋轉(zhuǎn)臂上遠離所述旋轉(zhuǎn)中心的一端，所述樣品倉中設(shè)置有參考物，所述參考物的中心與所述樣品倉的中心重合；所述方法包括：依次調(diào)節(jié)所述旋轉(zhuǎn)臂至多個旋轉(zhuǎn)角度α，并在每個旋轉(zhuǎn)角度α下控制所述圖像采集部件采集所述參考物的圖像；根據(jù)在所述多個旋轉(zhuǎn)角度α下采集到的所述參考物的圖像，確定標準中心成像位置，其中，所述標準中心成像位置為所述旋轉(zhuǎn)中心在所述圖像采集部件采集到的圖像中的成像位置；根據(jù)所述標準中心成像位置，調(diào)節(jié)所述樣品倉的位置。

在一種可能的實現(xiàn)方式中，根據(jù)在所述多個旋轉(zhuǎn)角度α下采集到的所述參考物的圖像，確定標準中心成像位置，包括：根據(jù)在任一旋轉(zhuǎn)角度α下采集到的所述參考物的圖像，確定在所述旋轉(zhuǎn)角度α下的參考物中心成像位置，其中，所述參考物中心成像位置為所述參考物的中心在所述圖像采集部件采集到的圖像中的成像位置；根據(jù)每個旋轉(zhuǎn)角度α下的所述參考物中心成像位置，得到所述標準中心成像位置。

在一種可能的實現(xiàn)方式中，根據(jù)所述標準中心成像位置，調(diào)節(jié)所述樣品倉的位置，包括：依次調(diào)節(jié)所述旋轉(zhuǎn)臂至多個旋轉(zhuǎn)角度β；在平行于所述旋轉(zhuǎn)臂的旋轉(zhuǎn)平面，且與每個旋轉(zhuǎn)角度β下的所述旋轉(zhuǎn)臂垂直的方向上，調(diào)節(jié)所述樣品倉的位置，直至所述參考物中心成像位置與所述標準中心成像位置重合。