[發明專利]受光元件、飛行時間測量裝置及光雷達裝置

有效

• 申請號: 201811459615.5
• 申請日: 2018-11-30
• 公開（公告）號: CN110018488B
• 公開（公告）日: 2023-08-29
• 發明（設計）人: 井口勝次;河西秀典;高橋幸司;藤井憲晃
• 申請（專利權）人: 夏普株式會社
• 主分類號: G01S17/48
• 分類號: G01S17/48;G01S7/481
• 代理公司: 深圳市賽恩倍吉知識產權代理有限公司 44334
• 代理人: 汪飛亞;習冬梅

1.一種受光元件，通過利用成像光學元件對來自照射區域的反射光進行成像并由受光部接收從而對飛行時間進行計測，所述照射區域接收由脈沖光照射的對象物中的照射，其特征在于，

所述受光部將由多個SPAD(Single?Photon?Avalanche?Diode)構成的多個受光檢測元件配置成行和列排列的陣列狀，且形成得比由所述對象物的照射區域IA反射并在該受光部中成像的投影部大，

具備用于將所述多個受光檢測元件中與所述投影部重疊的一部分的受光檢測元件作為受光區域激活的電路，

所述電路在由所述多個受光檢測元件構成的多列中，確定在黑暗時脈沖輸出的所述受光檢測元件的乘法值即暗計數數大于設計值的異常列；

將由所述多個受光檢測元件構成的多行的全部激活，且僅將所述多列中的除所述異常列之外的正常列激活，進行對試驗體照射所述脈沖光的測試，并在所述正常列中確定由所述反射光產生的光子檢測數為設計值以上的受光列；

將所述多行全部激活，且在所述多列中僅將所述受光列激活，進行對測試體照射所述脈沖光的測試，并在所述多行中確定由所述反射光產生的光子檢測數為設計值以上的受光行；以及

將確定的所述受光列及所述受光行存儲于存儲部，

基于存儲于所述存儲部中的所述受光列和所述受光行，從所述多個受光檢測元件中僅選擇一部分受光檢測元件作為所述受光區域激活。

2.根據權利要求1所述的受光元件，其特征在于，

具備對來自所述SPAD的脈沖輸出進行相加的二進制計數器。

3.根據權利要求1所述的受光元件，其特征在于，

所述受光部具備多個受光區域，并能夠根據狀況選擇要應用的受光區域。

4.根據權利要求1所述的受光元件，其特征在于，

具備多個所述受光部。

5.一種飛行時間測量裝置，其特征在于，至少包含：

脈沖發光元件、偏振分束器、成像光學元件、以及權利要求1至4中任一項所述的受光元件，

所述脈沖發光元件將脈沖光按照所述偏振分束器及所述成像光學元件的順序穿過而照射于對象物，

來自所述對象物的反射光按照所述成像光學元件及所述偏振分束器的順序穿過而在所述受光元件上成像，

所述脈沖發光元件及所述受光元件分別配置于所述成像光學元件中的一方的焦點位置。

6.一種飛行時間測量裝置，其特征在于，至少包含：

脈沖發光元件、準直透鏡、偏振分束器、成像光學元件、以及權利要求1至4中任一項所述的受光元件，

所述脈沖發光元件將脈沖光按照所述準直透鏡及所述偏振分束器的順序穿過而照射于對象物，

來自所述對象物的反射光按照所述偏振分束器及所述成像光學元件的順序穿過而在所述受光元件上成像，

所述脈沖發光元件配置于所述準直透鏡中的一方的焦點位置，

所述受光元件配置于所述成像光學元件中的一方的焦點位置。

7.一種飛行時間測量裝置，其特征在于，至少包含：

脈沖發光元件、準直透鏡、成像光學元件、以及權利要求1至4中任一項所述的受光元件，

所述脈沖發光元件使脈沖光穿過所述準直透鏡而照射于對象物，

來自所述對象物的反射光穿過所述成像光學元件而在所述受光元件成像，

所述脈沖發光元件配置于所述準直透鏡中的一方的焦點位置，

所述受光元件配置于所述成像光學元件中的一方的焦點位置。

8.根據權利要求5至7中任一項所述的飛行時間測量裝置，其特征在于，

所述脈沖發光元件具備多個發光部。

9.一種光雷達裝置，其特征在于，

具備權利要求5至8中任一項所述的飛行時間測量裝置。