[發(fā)明專(zhuān)利]一種用于電路板中測(cè)試點(diǎn)布置的裝置及方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201811455966.9
• 申請(qǐng)日: 2018-11-30
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN111258825A
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-06-09
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 洪智銘
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 上海海拉電子有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G06F11/22
• 分類(lèi)號(hào): G06F11/22
• 代理公司: 北京大成律師事務(wù)所 11352
• 代理人: 李佳銘;王芳

本發(fā)明提供了一種用于電路板中測(cè)試點(diǎn)布置的裝置，包括：觸光鼠標(biāo)，用于獲取移動(dòng)操作和觸控操作手勢(shì)；計(jì)算機(jī)，與所述觸光鼠標(biāo)連接；所述計(jì)算機(jī)包括顯示器、輸入設(shè)備、存儲(chǔ)器、處理器；所述顯示器用于顯示待布置測(cè)試點(diǎn)的電路板的圖像；所述輸入設(shè)備用于輸入待布置測(cè)試點(diǎn)的電路板中元器件的尺寸信息；所述存儲(chǔ)器上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)，根據(jù)預(yù)設(shè)規(guī)則和所述移動(dòng)操作、所述觸控操作手勢(shì)在待布置測(cè)試點(diǎn)的電路板的圖像上布置測(cè)試點(diǎn)。本發(fā)明還提供了一種用于電路板中測(cè)試點(diǎn)布置的方法。采用上述技術(shù)方案后，可以有效提高測(cè)試點(diǎn)布置的效率和準(zhǔn)確性，減少?gòu)U板率。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電路板技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種用于電路板中測(cè)試點(diǎn)布置的裝置及方法。

背景技術(shù)

現(xiàn)有技術(shù)中，電路板為了更好地配合ICT(In-Circuit-Test)自動(dòng)化測(cè)試的要求，在不損壞元器件焊腳及保證電路板可靠性的前提下測(cè)試電路板上的零組件是否符合規(guī)格，需要在電路板上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)。測(cè)試點(diǎn)的外觀通常是圓形，因?yàn)樘结樢彩菆A形，比較好生產(chǎn)，也比較容易讓相鄰探針靠得近一點(diǎn)，有利于增加ICT針床的植針密度。

然而，傳統(tǒng)插件DIP的時(shí)代已經(jīng)過(guò)去，目前SMD貼片器件及嵌入式發(fā)展的大量普及，加之電路板的尺寸日漸減小，在原理圖設(shè)計(jì)及布板階段，由于不能直觀考察電路板尺寸及正反元器件排布，導(dǎo)致的手動(dòng)布置測(cè)試點(diǎn)容易造成占用電路板空間不合理的問(wèn)題，經(jīng)常在設(shè)計(jì)端與制造端之間拔河，造成大量布板無(wú)效的工業(yè)廢件。此外，手動(dòng)布置測(cè)試點(diǎn)通常采用人工點(diǎn)擊鼠標(biāo)的手段進(jìn)行布置，效率低下且容易出錯(cuò)。

因此，需要開(kāi)發(fā)一種測(cè)試點(diǎn)布置效率高、布置合理且廢板率低的測(cè)試點(diǎn)布置裝置及方法。

發(fā)明內(nèi)容

為了克服上述技術(shù)缺陷，本發(fā)明的目的在于提供一種測(cè)試點(diǎn)布置效率高、布置合理且廢板率低的測(cè)試點(diǎn)布置裝置及方法。

本發(fā)明公開(kāi)了一種用于電路板中測(cè)試點(diǎn)布置的裝置，包括：觸光鼠標(biāo)，用于獲取移動(dòng)操作和觸控操作手勢(shì)；計(jì)算機(jī)，與所述觸光鼠標(biāo)連接；所述計(jì)算機(jī)包括顯示器、輸入設(shè)備、存儲(chǔ)器、處理器；所述顯示器用于顯示待布置測(cè)試點(diǎn)的電路板的圖像；所述輸入設(shè)備用于輸入待布置測(cè)試點(diǎn)的電路板中元器件的尺寸信息；所述存儲(chǔ)器上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)，根據(jù)預(yù)設(shè)規(guī)則和所述移動(dòng)操作、所述觸控操作手勢(shì)在待布置測(cè)試點(diǎn)的電路板的圖像上布置測(cè)試點(diǎn)。

優(yōu)選地，所述觸光鼠標(biāo)包括殼體和設(shè)置于所述殼體內(nèi)的觸控部、光學(xué)部、MCU和適配器；所述觸控部用于感應(yīng)手指在所述殼體表面的操作手勢(shì)；所述光學(xué)部用于感應(yīng)所述觸光鼠標(biāo)的移動(dòng)；所述MCU與所述觸控部和光學(xué)部連接，所述MCU內(nèi)預(yù)設(shè)有操作手勢(shì)和與所述操作手勢(shì)對(duì)應(yīng)的操作指令；所述適配器用于連接所述MCU和所述計(jì)算機(jī)；所述處理器用于根據(jù)所述觸光鼠標(biāo)的移動(dòng)在所述顯示器上生成同步移動(dòng)的光標(biāo)，并根據(jù)所述預(yù)設(shè)規(guī)則在光標(biāo)區(qū)域的電路板圖像上布置測(cè)試點(diǎn)；所述處理器還用于在所述觸控部感應(yīng)到的操作手勢(shì)與所述MCU內(nèi)預(yù)設(shè)的操作手勢(shì)相匹配時(shí)，執(zhí)行與該操作手勢(shì)對(duì)應(yīng)的操作指令。

優(yōu)選地，所述觸控部包括：微動(dòng)開(kāi)關(guān)，用于對(duì)手指的點(diǎn)擊位置進(jìn)行識(shí)別；電容矩陣列，用于根據(jù)電容感應(yīng)來(lái)獲知手指的位置和移動(dòng)情況。

優(yōu)選地，所述光學(xué)部包括：發(fā)光二極管，用于產(chǎn)生紅外線；棱光鏡，用于改變所述紅外線的光路，使所述紅外線自所述殼體底部的開(kāi)口向外出射；光學(xué)傳感器，用于收集自外部反射回來(lái)的紅外線；光學(xué)透鏡，用于光學(xué)成像，將被殼體底部開(kāi)口外的圖像呈現(xiàn)在后續(xù)的微成像儀中，所述圖像包含被所述紅外線照亮區(qū)域的圖像；微成像儀，用于所述光學(xué)透鏡的成像顯示；數(shù)字微處理器，用于分析所述微成像儀的成像顯示，判斷所述觸光鼠標(biāo)的移動(dòng)方向和位移距離，并形成脈沖信號(hào)匯入所述MCU形成所述觸光鼠標(biāo)的移動(dòng)信息，所述處理器根據(jù)所述移動(dòng)信息在所述顯示器上生成同步移動(dòng)的光標(biāo)。

優(yōu)選地，MCU內(nèi)預(yù)設(shè)的操作手勢(shì)包括敲擊、點(diǎn)動(dòng)、多點(diǎn)觸控中的一種或多種；所述操作指令包括：確定、取消、翻頁(yè)、翻面、縮放、光標(biāo)移動(dòng)中的一種或多種。