[發(fā)明專利]一種多倍頻程移相方法和裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811454562.8
• 申請日: 2018-11-30
• 公開（公告）號: CN109450551B
• 公開（公告）日: 2020-10-02
• 發(fā)明（設計）人: 黃善國;高欣璐;雷明政;鄭禎楠
• 申請（專利權(quán)）人: 北京郵電大學
• 主分類號: H04B10/532
• 分類號: H04B10/532;H04B10/548
• 代理公司: 北京風雅頌專利代理有限公司 11403
• 代理人: 陳宙

1.一種多倍頻程移相方法，其特征在于，所述移相方法，包括如下步驟：

對光載波進行信號調(diào)制產(chǎn)生一束正交偏振光；所述正交偏振光在其兩個相互正交的偏振方向上一階邊帶相位因子相反、二階邊帶相位因子相同；

將該束所述正交偏振光均分成第一子正交偏振光和第二子正交偏振光；

將所述第一子正交偏振光和所述第二子正交偏振光轉(zhuǎn)換為旋轉(zhuǎn)方向相反的第一圓偏振光和第二圓偏振光；

對所述第一圓偏振光和所述第二圓偏振光進行檢偏；

檢偏后通過差分探測進行光電轉(zhuǎn)換，得到移相后的基頻光電流信號。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種多倍頻程移相方法，其特征在于，所述將所述第一子正交偏振光和所述第二子正交偏振光轉(zhuǎn)換為旋轉(zhuǎn)方向相反的第一圓偏振光和第二圓偏振光，具體包括：

分別調(diào)節(jié)第一子正交偏振光和第二子正交偏振光的正交偏振態(tài)之間的相位差，將所述第一子正交偏振光和所述第二子正交偏振光轉(zhuǎn)換為旋轉(zhuǎn)方向相反的第一圓偏振光和第二圓偏振光。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種多倍頻程移相方法，其特征在于，對所述第一圓偏振光和所述第二圓偏振光進行檢偏，包括：

分別控制第一圓偏振光的檢偏角度和第二圓偏振光的檢偏角度，使移相后的基頻光電流信號的振幅和相位連續(xù)可調(diào)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種多倍頻程移相方法，其特征在于，所述正交偏振光的電場如下式所示：

其中，x和y表示兩個相互正交的偏振方向，E_x和E_y分別表示所述正交偏振光在x方向和y方向的電場，m表示調(diào)制因子，ω表示光源的角頻率，Ω表示需要進行移相的射頻信號的角頻率，J₀(m)、J₁(m)和J₂(m)分別表示0階、1階和2階第一類貝塞爾函數(shù)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種多倍頻程移相方法，其特征在于，所述第一子正交偏振光的電場如下式所示：

所述第二子正交偏振光的電場如下式所示：

其中，E_x1和E_y1分別表示所述第一子正交偏振光在x方向和y方向的電場，E_x2和E_y2分別表示所述第二子正交偏振光在x方向和y方向的電場，分別是所述第一子正交偏振光和所述第二子正交偏振光正交偏振態(tài)之間的相位差。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種多倍頻程移相方法，其特征在于，對所述第一圓偏振光和所述第二圓偏振光進行檢偏，具體包括：

對所述第一子正交偏振光進行檢偏，得到檢偏后的第一線偏振光，所述檢偏后的第一線偏振光的電場E₁為：

對所述第二子正交偏振光進行檢偏，得到檢偏后的第二線偏振光，所述檢偏后的第二線偏振光的電場E₂為：

其中，α₁表示第一檢偏角度，α₂表示第二檢偏角度，E_x1和E_y1分別表示所述第一子正交偏振光在x方向和y方向的電場，E_x2和E_y2分別表示所述第二子正交偏振光在x方向和y方向的電場。