[發明專利]顯示面板以及顯示面板的裂紋檢測方法有效
| 申請號: | 201811446731.3 | 申請日: | 2018-11-29 |
| 公開(公告)號: | CN109342512B | 公開(公告)日: | 2020-11-24 |
| 發明(設計)人: | 張鑫;薛景峰;苗思文 | 申請(專利權)人: | 武漢華星光電技術有限公司 |
| 主分類號: | G01N27/20 | 分類號: | G01N27/20;G01R31/54;G01R31/56 |
| 代理公司: | 深圳翼盛智成知識產權事務所(普通合伙) 44300 | 代理人: | 黃威 |
| 地址: | 430079 湖北省武漢市*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 顯示 面板 以及 裂紋 檢測 方法 | ||
1.一種顯示面板,其特征在于,包括:面板主體,所述面板主體具有顯示區域和非顯示區域;接地導線,所述接地導線位于所述非顯示區域、且圍繞所述顯示區域設置,所述接地導線具有第一端部和第二端部;第一接地連接部和第一測試連接部,所述第一接地連接部和第一測試連接部并聯于所述第一端部;第二接地連接部和第二測試連接部,所述第二接地連接部和第二測試連接部并聯于所述第二端部;以及開關部,所述開關部電連接于所述第一接地連接部和所述第一端部之間,所述第一接地連接部包括第一接地引線和第一接地插針,所述第一接地引線電連接于所述開關部和所述第一接地插針之間,所述第二接地連接部包括第二接地引線和第二接地插針,所述第二接地引線電連接于所述第二端部和所述第二接地插針之間。
2.如權利要求1所述的顯示面板,其特征在于,所述第一測試連接部包括第一測試引線和第一測試插針,所述第一測試引線電連接于所述第一端部和所述第一測試插針之間,所述第二測試連接部包括第二測試引線和第二測試插針,所述第二測試引線電連接于所述第二端部和所述第二測試插針之間。
3.如權利要求1或2所述的顯示面板,其特征在于,所述開關部為薄膜晶體管開關,所述開關部位于所述面板主體的非顯示區域,所述開關部與所述面板主體的薄膜晶體管層同層設置。
4.如權利要求3所述的顯示面板,其特征在于,所述非顯示區域圍繞所述顯示區域,所述非顯示區域包括綁定區域,所述綁定區域位于所述顯示區域的一側,所述第一接地連接部、第一測試連接部、第二接地連接部、第二測試連接部、開關部位于所述綁定區域。
5.如權利要求3所述的顯示面板,其特征在于,所述顯示面板還包括柔性電路板,所述柔性電路板電連接于所述面板主體的一側,所述第二接地連接部和第二測試連接部位于所述柔性電路板。
6.如權利要求1或2所述的顯示面板,其特征在于,所述顯示面板還包括柔性電路板,所述柔性電路板電連接于所述面板主體的一側,所述第一接地連接部、第一測試連接部、第二接地連接部、第二測試連接部、開關部位于所述柔性電路板。
7.如權利要求1所述的顯示面板,其特征在于,所述第一端部具有第一電連接墊,所述第二端部具有第二電連接墊,所述第一接地連接部和第一測試連接部電連接于所述第一電連接墊,所述第二接地連接部和第二測試連接部電連接于所述第二電連接墊,所述第一電連接墊和所述第二電連接墊位于所述非顯示區域。
8.一種顯示面板的裂紋測試方法,其特征在于,包括:提供一顯示面板,所述顯示面板包括:面板主體,所述面板主體具有顯示區域和非顯示區域;接地導線,所述接地導線位于所述非顯示區域、且圍繞所述顯示區域設置,所述接地導線具有第一端部和第二端部;第一接地連接部和第一測試連接部,所述第一接地連接部和第一測試連接部并聯于所述第一端部;第二接地連接部和第二測試連接部,所述第二接地連接部和第二測試連接部并聯于所述第二端部;以及開關部,所述開關部電連接于所述第一接地連接部和所述第一端部之間;對所述開關部輸入關斷電壓,以使得在所述第一接地連接部和所述第一端部之間形成斷路;測量所述第一測試連接部和所述第二測試連接部之間的電壓值、電阻值或電流值;以及根據所述電壓值、電阻值或電流值判斷所述非顯示區域是否存在裂紋,當所述電壓值為零、所述電阻值無窮大或者所述電流值為零時,判定所述接地導線中存在斷路以及所述非顯示區域存在裂紋;
所述第一接地連接部包括第一接地引線和第一接地插針,所述第一接地引線電連接于所述開關部和所述第一接地插針之間,所述第二接地連接部包括第二接地引線和第二接地插針,所述第二接地引線電連接于所述第二端部和所述第二接地插針之間。
9.如權利要求8所述的顯示面板的裂紋測試方法,其特征在于,所述根據所述電壓值、電阻值或電流值判斷所述非顯示區域是否存在裂紋的步驟還包括:當所述電壓值在預設電壓范圍內、所述電阻值在預設電阻范圍或者所述電流值在預設電流范圍內時,判定所述接地導線正常以及所述非顯示區域不存在裂紋。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于武漢華星光電技術有限公司,未經武漢華星光電技術有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201811446731.3/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:電池電解液狀態檢測裝置和檢測方法
- 下一篇:介質塑料的介電常數測量方法及裝置





