[發(fā)明專(zhuān)利]基于Mock的單元測(cè)試方法、裝置、設(shè)備及可讀存儲(chǔ)介質(zhì)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811431921.8 | 申請(qǐng)日: | 2018-11-28 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109614322A | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-04-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊寬;賴(lài)韜;任弘 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 北京京東金融科技控股有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G06F11/36 | 分類(lèi)號(hào): | G06F11/36;G06F9/455 |
| 代理公司: | 北京律智知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11438 | 代理人: | 袁禮君;闞梓瑄 |
| 地址: | 100176 北京市大興區(qū)經(jīng)濟(jì)*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 映射 可讀存儲(chǔ)介質(zhì) 單元測(cè)試 映射類(lèi) 測(cè)試 編碼成本 集中管理 預(yù)先配置 調(diào)用 查找 返回 創(chuàng)建 申請(qǐng) | ||
1.一種基于Mock的單元測(cè)試方法,其特征在于,包括:
當(dāng)Mock對(duì)象被創(chuàng)建時(shí),在預(yù)先配置好的至少一個(gè)測(cè)試用例中查找是否存在與所述Mock對(duì)象對(duì)應(yīng)的映射類(lèi)及映射方法;以及
如果查找到所述映射類(lèi)及所述映射方法,則:
獲取所述映射方法;及
當(dāng)調(diào)用所述Mock對(duì)象的方法時(shí),執(zhí)行所述映射方法,并返回相應(yīng)的Mock數(shù)據(jù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述至少一個(gè)測(cè)試用例通過(guò)腳本語(yǔ)言進(jìn)行配置。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法,其特征在于,獲取所述映射方法包括:通過(guò)字節(jié)碼增強(qiáng),獲取所述映射方法。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法,其特征在于,獲取所述映射方法包括:通過(guò)Java動(dòng)態(tài)代理,獲取所述映射方法。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法,其特征在于,在預(yù)先配置好的至少一個(gè)測(cè)試用例中查找是否存在與所述Mock對(duì)象對(duì)應(yīng)的映射類(lèi)及映射方法之前,還包括:從遠(yuǎn)端數(shù)據(jù)庫(kù)中請(qǐng)求獲取所述至少一個(gè)測(cè)試用例。
6.一種單元測(cè)試方法,其特征在于,包括:
當(dāng)Spring容器中的測(cè)試對(duì)象被注入時(shí),在預(yù)先配置好的至少一個(gè)測(cè)試用例中查找是否存在與所述測(cè)試對(duì)象對(duì)應(yīng)的映射類(lèi)及映射方法;以及
如果查找到所述映射類(lèi)及所述映射方法,則:
獲取所述映射方法;及
當(dāng)調(diào)用所述測(cè)試對(duì)象的方法時(shí),執(zhí)行所述映射方法,并返回相應(yīng)的結(jié)果數(shù)據(jù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,所述至少一個(gè)測(cè)試用例通過(guò)腳本語(yǔ)言進(jìn)行配置。
8.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的方法,其特征在于,獲取所述映射方法包括:通過(guò)Java動(dòng)態(tài)代理,獲取所述映射方法。
9.一種基于Mock的單元測(cè)試裝置,其特征在于,包括:
方法查找模塊,用于當(dāng)Mock對(duì)象被創(chuàng)建時(shí),在預(yù)先配置好的至少一個(gè)測(cè)試用例中查找是否存在與所述Mock對(duì)象對(duì)應(yīng)的映射類(lèi)及映射方法;以及
方法執(zhí)行模塊,用于當(dāng)所述方法查找模塊查找到所述映射類(lèi)及所述映射方法時(shí),獲取所述映射方法;及當(dāng)調(diào)用所述Mock對(duì)象的方法時(shí),執(zhí)行所述映射方法,并返回相應(yīng)的Mock數(shù)據(jù)。
10.一種單元測(cè)試裝置,其特征在于,包括:
方法查找模塊,用于當(dāng)Spring容器中的測(cè)試對(duì)象被注入時(shí),在預(yù)先配置好的至少一個(gè)測(cè)試用例中查找是否存在與所述測(cè)試對(duì)象對(duì)應(yīng)的映射類(lèi)及映射方法;以及
方法執(zhí)行模塊,用于當(dāng)所述方法查找模塊查找到所述映射類(lèi)及所述映射方法時(shí),獲取所述映射方法;及當(dāng)調(diào)用所述測(cè)試對(duì)象的方法時(shí),執(zhí)行所述映射方法,并返回相應(yīng)的結(jié)果數(shù)據(jù)。
11.一種計(jì)算機(jī)設(shè)備,包括:存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器中并可在所述處理器中運(yùn)行的可執(zhí)行指令,其特征在于,所述處理器執(zhí)行所述可執(zhí)行指令時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的方法。
12.一種計(jì)算機(jī)設(shè)備,包括:存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器中并可在所述處理器中運(yùn)行的可執(zhí)行指令,其特征在于,所述處理器執(zhí)行所述可執(zhí)行指令時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求6-8任一項(xiàng)所述的方法。
13.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令,其特征在于,所述可執(zhí)行指令被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的方法。
14.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令,其特征在于,所述可執(zhí)行指令被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求6-8任一項(xiàng)所述的方法。
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G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F11-00 錯(cuò)誤檢測(cè);錯(cuò)誤校正;監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生,例如,容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過(guò)測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過(guò)處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過(guò)軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
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