[發明專利]一種基于可編程高光譜成像的目標探測識別系統及方法有效
| 申請號: | 201811383560.4 | 申請日: | 2018-11-20 |
| 公開(公告)號: | CN109490223B | 公開(公告)日: | 2021-01-08 |
| 發明(設計)人: | 陳碩;路交;任月天;陳梓昂 | 申請(專利權)人: | 東北大學 |
| 主分類號: | G01N21/27 | 分類號: | G01N21/27 |
| 代理公司: | 大連理工大學專利中心 21200 | 代理人: | 梅洪玉 |
| 地址: | 110819 遼寧*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 可編程 光譜 成像 目標 探測 識別 系統 方法 | ||
1.一種基于可編程高光譜成像的目標探測識別系統的探測識別方法,其特征在于,該目標探測識別系統包括可編程濾光片、面陣光電探測器(7)、數據采集卡(8)、計算機(9)以及成像光學元件;所述的可編程濾光片包括第一光柵(3)、第二光柵(6)、透鏡(4)和數字微鏡器件(5),其中數字微鏡器件(5)設置于透鏡(4)上方的焦平面上,第一光柵(3)和第二光柵(6)并排設置于透鏡(4)下方的焦平面上,物鏡(2)設置于第一光柵(3)的下方,樣品(1)放于物鏡(2)下方的載物臺上;所述的面陣光電探測器(7)設置于第二光柵(6)的下方;所述的數據采集卡(8)分別與數字微鏡器件(5)、面陣光電探測器(7)和計算機(9)相連;
所述的探測識別方法,步驟如下:
步驟一、通過物鏡(2)的入射平行光束經第一光柵(3)分光并通過透鏡(4)后,源自相同波長的光將匯聚在數字微鏡器件(5)的同一微鏡單元上;
步驟二、通過計算機(9)及數據采集卡(8)控制數字微鏡器件(5)上各微鏡單元的旋轉角度,反射指定波長的光,并再次通過透鏡(4)被成像到第二光柵(6)上;由于光路的可逆性,指定波長的光通過第二光柵(6)后形成特定波長組合的平行光束;
步驟三、通過計算機(9)及數據采集卡(8)控制數字微鏡器件(5)中各微鏡單元的開關時間以及面陣光電探測器(7)的曝光時間,實現對于待測目標的特定光譜透過率的編碼濾波,并由面陣光電探測器(7)采集光信號后成像,得到寬帶測量圖像;
步驟四、利用采集的寬帶測量圖像中各像素點的值,對待測目標及背景進行分類,實現采集數據對于待測目標的直接探測與識別。
2.根據權利要求1所述的探測識別方法,其特征在于,所述步驟三中,特定光譜透過率是利用高光譜圖像數據編碼濾波算法獲得,具體步驟如下:
1)首先,利用主成分分析方法,根據公式(1)計算待測目標高光譜圖像數據H的協方差矩陣D;
其中,為待測目標高光譜圖像數據H標準化后的矩陣,上標“T”表示矩陣的轉置;
然后,將協方差矩陣D的特征向量按特征值由大到小排列后,取其中前k個組成特征向量矩陣U1;
隨后,通過公式(2)計算并獲得高光譜圖像的特征值S,即降維后的高光譜圖像數據;
S=HU1 (2)
2)利用線性判別算法,計算變換向量U2;
首先,設待測目標分別對應m個類別,計算第i類樣本的散列度矩陣
其中,Si為特征值S中的第i類樣本元素,μi為第i類樣本特征值的均值;
然后,計算類內離散度矩陣Sω;
隨后,計算類間離散度矩陣SB
其中,μ為所有樣本特征值的均值;
最后,求出的最大特征值,最大特征值對應的特征向量即為變換向量U2;
3)根據公式(6),計算對待測目標的高光譜圖像數據編碼濾波的光譜透過率T,T中光譜透過率的個數與待測目標的類別數m相同;
T=U1U2 (6)
4)由于圖像探測識別系統只能實現非負的光譜透過率,故利用光譜成像透過率T1、補償光譜透過率T2與T的關系求得T1和T2,滿足公式(7):
T=T1-T2 (7)
其中,T2矩陣由T矩陣中最小值的絕對值所構成,T1、T2的維數與T相同;
5)對待測目標的通過光譜成像透過率T1和補償光譜透過率T2分別進行兩次編碼濾波,并利用面陣光電探測器(7)采集圖像I1及I2后相減,獲得高光譜數據后處理后的最終圖像I;最終圖像I等效于通過光譜透過率T編碼濾波后的圖像。
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